《tr518 sii_硬体规格与架构_v1.0.0》由会员分享，可在线阅读，更多相关《tr518 sii_硬体规格与架构_v1.0.0（36页珍藏版）》请在金锄头文库上搜索。
1、 TR518 Series II In-Circuit Test System 硬體規格與架構 ver. 1.0.0 July 26, 2011 Test Research Inc. TR518 SII 使用手冊-硬體規格與架構 TR518 SII In-Circuit Test System 使用手冊使用手冊-硬體規格與架構硬體規格與架構 ver.1.0.0 Copyright 2011 Test Research Inc. All rights reserved. 這份文件只有客戶或者 TRI 人員，為了要運用在 TR518 SII 測試系統時，才能夠被印製或是影 印使用，任何其他方面的用
2、途必須先獲得 TRI 公司的許可才行。 硬體規格跟軟體版本視情況需要改變時，並不會另行通知。 TRI 會作出最好的努力，讓客戶知道任何關於產品方面的升級、修改或是汰舊換新的消息。 所有的商品命名和商標都是 TRI 專有的資產。 倘若對此手冊有任何的指教跟意見，請 e-mail 到下列的電子信箱: .tw 此外， 標題上請註明“TR518 SII 使用手冊-硬體規格與架構”。 .tw Test Research Inc. TR518 SII 使用手冊-硬體規格與架構 1 Contents 1 簡介簡介 4 2 TR518 SII 硬體架構硬體架構 . 5 2.1 TR518 SII 系統架構 5
3、 2.2 TR518 SII 系統架構板列表 . 6 2.3 治具選配零組件 6 2.4 TR518 SII Switch Board 圖解 . 7 2.5 TR518 SII 電源供應配線圖 . 8 2.6 TR518 SII 系統電源供應配置圖 9 3 Analog Test Module (ATM) Board . 10 3.1 功能 11 3.2 規格 12 3.2.1 類比測量模組 12 3.2.2 直流電壓源 12 3.2.3 交流電壓源 12 3.2.4 直流電流源 12 3.2.5 直流電壓測量 13 3.2.6 交流電壓測量 13 3.2.7 直流電流測量 13 3.2.8
4、交流電流測量 13 3.2.9 阻抗測量 14 3.2.10 訊號產生器 14 3.2.11 電阻測量 14 3.2.12 電容測量 14 3.2.13 電容放電 14 3.2.14 針對極性電容的定向測量 14 3.2.15 針對 IC 裝置的定向測量 (not on 2-sided devices with VCC and GND symmetrical) 14 3.2.16 電感測量 15 3.2.17 兩極體測量 15 Test Research Inc. 2 TR518 SII 使用手冊-硬體規格與架構 3.2.18 齊納二極體測量 15 3.2.19 雙載子接面電晶體 15 3.2
5、.20 場效電晶體 15 3.2.21 矽控整流器 測量 15 3.2.22 保險絲,交換器 以及跳針 測試 15 3.2.23 DACs (數位-轉-類比的轉換器) 16 3.2.24 ADCs (類比-轉-數位的轉換器) 16 3.2.25 通用型 輸入/輸出 (GPIO) 16 3.2.26 Press Unit 介面 17 3.2.27 Link Port 介面 19 3.28 EXT Port 除錯 20 3.2.29 GPIO 功能 22 3.2.30 使用 USB 2.0 介面 連接 TR518 SII System 和 Notebook/PC 27 4 TestJet MUX
6、Card 28 4.1 功能 28 4.2 規格 28 4.3 TestJet 同步測試 29 5 Analog Switch Board (SWB) 31 5.1 功能 31 5.2 規格 31 6 User Relay Card 32 6.1 功能 32 6.2 規格 32 7 其他其他 34 7.1 USB Port 訊號線收納 . 34 Figures Figure 1: TR518 SII 系統架構 .5 Figure 2: Block Diagram Switch Board 7 Test Research Inc. TR518 SII 使用手冊-硬體規格與架構 3 Figure
7、3: 電源供應配線圖 .8 Figure 4: TR 518 SII 系統電源配置圖 .9 Figure 5 : Analog Test Module (ATM) Board 10 Figure 6: Analog Test Module (ATM) Board - Press Unit 介面 18 Figure 7: Press Unit 在 ATM board 上的位置 18 Figure 8: Analog Test Module (ATM) Board - TestJet 介面 19 Figure 9: Link Port Location at ATM board . 19 Figu
8、re 10: Analog Test Module (ATM) Board - EXT Port 20 Figure 11: EXT Port 在 ATM board 上的位置 21 Figure 12 Analog Test Module (ATM) Board - GPIO 介面 23 Figure 13: Analog Test Module (ATM) Board - GPIO 圖解 . 23 Figure 14: GPIO Port 在 ATM board 上的位置 . 26 Figure 15: USB Port 在 ATM board 上的位置 . 27 Figure 16:Te
9、stJet Mux Card . 28 Figure 17: TestJect -Two Stimulus Sources for Parallel Test . 28 Figure 18: Analog Switch Board (ASWB) . 29 Figure 19: User Relay Board 30 Figure 20: USB Port 專屬掛勾 31 Test Research Inc. 4 TR518 SII 使用手冊-硬體規格與架構 1 1 簡介簡介 德律 TR518 SII in-circuit 測試系統 ，以簡單、快速的測試發展程式和良好的使用者介面設計， 提供客戶
10、高效能、高生產能力和高錯誤覆蓋率的解決方案。 測試系統包含以下三個主要部分: 1. 測試主機測試主機: 包含電源供應、控制板、以及提供板子的插槽。 2. 測試板測試板: 不同功能取向的測試板，可執行所需要的測試。 3. 電腦電腦: 包含 TR518 SII 測試程式和作為使用者介面的作業軟體。 注意注意: 隨著隨著 TRI 系統運送而來的電腦跟螢幕，不是由系統運送而來的電腦跟螢幕，不是由 TRI 本身製造的，可能會本身製造的，可能會 根據運送的時間跟客戶的需求，而有不根據運送的時間跟客戶的需求，而有不 同的規格。同的規格。 在此手冊提到的電腦或是螢幕的規格，都是以最低需求的規格作為參考。在此手
11、冊提到的電腦或是螢幕的規格，都是以最低需求的規格作為參考。 Test Research Inc. TR518 SII 使用手冊-硬體規格與架構 5 2 2 TR518TR518 SIISII 硬體架構硬體架構 2.1 TR518 SII 系統架構系統架構 Figure 1: TR518 SII 系統架構系統架構 Test Research Inc. 6 TR518 SII 使用手冊-硬體規格與架構 2.2 TR518 SII 系統架構板列表系統架構板列表 Board Name Function ATM Analog Test Module 能測試類比電路，.可以跟 MDA 作互換 SWB Sw
12、itch Board #N (N: 120) 提供待測板類比測試的通道 2.3 治具選配零組件治具選配零組件 Card Name Description Mux Card TestJet Mux Card Test Research Inc. TR518 SII 使用手冊-硬體規格與架構 7 2.4 TR518 SII Switch Board 圖解圖解 Figure 2: Block Diagram 開關板開關板 Test Research Inc. 8 TR518 SII 使用手冊-硬體規格與架構 2.5 TR518 SII 電源供應配線圖電源供應配線圖 Figure 3: 電源供應配線圖
13、電源供應配線圖 Test Research Inc. TR518 SII 使用手冊-硬體規格與架構 9 2.6 TR518 SII 系統電源供應配置圖系統電源供應配置圖 Figure 4: TR518 SII 系統電源配置系統電源配置圖圖 系統風扇系統風扇 電源供應器電源供應器 系統電源控制板系統電源控制板 Test Research Inc. 10 TR518 SII 使用手冊-硬體規格與架構 3 3 A ANALOG NALOG T TEST EST MMODULEODULE (ATM)(ATM) B BOARDOARD Figure 5: Analog Test Module (ATM)
14、 Board Test Research Inc. TR518 SII 使用手冊-硬體規格與架構 11 3.13.1 功能功能 Open, Short Test R, L, C Test Resistor Test: 40mohm 40Mohm Capacitor Test: 1pF 40mF Inductor Test: 1uH-60H Diode, Zener Diode, IC Clamping Diode Test Transistor, FET, MOSFET, Photo-Coupler Test SCR, TRIAC Test Press Unit Interface TestJ
15、et GPIO function USB2.0 Interface between TR518 SII system and notebook/PC Test Research Inc. 12 TR518 SII 使用手冊-硬體規格與架構 3.2 規格規格 3.2.1 類比測量模組類比測量模組 1 DCV or ACV or DC Constant Current Source. 1 DCV Source 1 High Voltage Source AC/DC Voltage Measurement AC/DC Current Measurement System Diagnostic 3.2
16、.2 直流電壓直流電壓源源 Two Programmable Output Voltage: 0V +/-10V Resolution: 5.86mV Voltage Accuracy: 1.5% Source-Configurable as Current and/or Voltage High Voltage Current Source :30 100V , 4% 3.2.3 交流電壓源交流電壓源 1 Sine wave Voltage Source Programmable Output Voltage: 0V +/-10(AC+DC)(Max) Resolution: 23.44mV Voltage Accuracy: 2% Frequency Ran
