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1、CPK PPK公式中的符号意义我来参与一下吧呵Q=sigmaQppk = Q异波Q偶波Qcpk = Q偶波所以，正常情况下PPKCPK（根据T/6Q公式）大家看过上述公式（这个公式应该是书上没有的，是我总结出来的当然也许有，我没看到也是可能的），就很容易理解了：1) PPK是在试产的时候用的（书上都这么说），确实是，因为试产不是量产，存在很多异常原因（异波），但这个时候，又要做估计一下CPK，于是就有ppk, 而Q ppk是总体变异，换句话说，这个Q是全体检验的结果！注意，不是抽检2)故，抽检算出来的的Q，就用来计算cpk了用抽检，表示制程是正常，只剩下偶然原因（偶波），而这个时候的ppk大致
2、和cpk是相等的（也接近）（看公式就容易理解了），这个意思就是cpk是一个稳定制程的结果换句话讲，当制程不稳定，算不出cpk, 因为算了，也是在不同时间，相差会很大但算一算也好，因为很多不同时间，你可以根据他们的差别，来找出原因（有的原因在特定的时间出现，如机器磨损到一定程度）3)故，一个公司重点在用持续改善的工具，去让制程稳定. 如果一个制程不稳定，算cpk是无意义的不真实的但ppk永远是真实其实，不稳定的时候，cpk是算不出来的4)当一个制程可以算cpk 的时候，也就是稳定，这个时候，可以考虑撤消IPQC,或大部分IPQC可以不需要了CPK是用来干什么的？无非就是计算不良率用统率的方法计算
3、不良率CPK只是一个不良率的外号罢了1、谢谢很好的解释。 2、您说，“当制程不稳定，算不出cpk, 因为算了，也是在不同时间，相差会很大但算一算也好，因为很多不同时间，你可以根据他们的差别，来找出原因”。是否应当说，计算Cpk之前，必须检查过程是否稳定。如果稳定了，再算。得到的是Cpk；如果没有检查是否稳定，那么计算得到的只能认为是Ppk。 3、过程稳定后计算得到的Cpk也是随着时间而在变化的。因为，计算时候收集到的数据中可能没有把各种普通原因引起的变异都反映进去，长期数据得到的Cpk 和短期得到的 Cpk 会有所不同的。CPK：Complex Process Capability index
4、 是现代企业用于表示制成能力的指标。 CPK=min（X-LSL/3s），（USL-X/3s） Cpk过程能力指数 CPK= Min (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s Cpk应用讲议 1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。 2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp. Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。 3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - Ca)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势) 4. 当选择制
5、程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。 5. 计算取样数据至少应有2025组数据，方具有一定代表性。 6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。 7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差()，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差规格上限规格下限；规格中心值（规格上限+规格下限）/2； 8. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 9. 依据公式：Cp =T/6 ， 计算出制程精密度：Cp值 10. 依据公式：Cp
6、k=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值 11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策） A+级 Cpk2.0 特优 可考虑成本的降低 A+ 级 2.0 Cpk 1.67 优 应当保持之 A 级 1.67 Cpk 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A级 B 级 1.33 Cpk 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级 C 级 1.0 Cpk 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力 D 级 0.67 Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。PPK： Pp（Perf
7、ormance Indies of Process）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能。 （该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序） CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限： CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限。 公式中的K是定义分布中心与公差中心M的偏离度，与M的偏离为=| M-| 关于Cpk与Ppk的关系，这里引用QS9000中PPAP手册中的一句话：“当可能得到历史的数据或有足够的初始数据来绘制控制图时（至少100个个体样本），可以
8、在过程稳定时计算Cpk。对于输出满足规格要求且呈可预测图形的长期不稳定过程，应该使用Ppk。” 所谓PPK，是进入大批量生产前，对小批生产的能力评价，一般要求1.67；而CPK，是进入大批量生产后，为保证批量生产下的产品的品质状况不至于下降，且为保证与小批生产具有同样的控制能力，所进行的生产能力的评价，一般要求1.33；一般来说，CPK需要借助PPK的控制界限来作控制。标准偏差的计算公式1、 首先，真实的过程标准差是没有办法正确计算的。因为它是要用无数的数据才能确定过程的标准差。通常是用子样的标准差数值来估计的。3 X) H% I9 8 g3 l8 M0 N: s M& d* m6 T! s5
9、 a 2、您问的控制图中计算标准差是指什么标准差，是过程的标准差还是子样的标准差？/ d. h1 p4 Z+ h3 w2 i6 _7 y& l, 8 I z 3、我们知道，控制图中，用平均值上下各加3个标准差值来确定上下控制极限的。下面讨论两个控制图。4 0 V# a! v. W0 o. . p t* 6 O: q# q) l/ G# z a）在X平均-极差控制图中，过程的标准差是根据极差值来估计的。它的公式是，! v, j, 6 a4 f! b7 - M. G, 1 ?) p4 ?* C7 r& X) r 过程标准差（用戴三角帽的西格玛符号表示）= R bar/d2。% Y3 L$ a ;
10、T6 S$ ?4 l* m8 r& o& |) C k7 W c3 j- _/ , ; i% 0 _! Q6 H$ v7 2 7 v0 P1 c 公式中 R bar是各个子样极差的平均值；d2和子样大小n有关，可以查表得到的。2 W U( y9 C1 u% g$ e) v# 7 Z0 C+ S/ b 绘制控制图的时候，实际上不用计算过程标准差了。它直接用极差的平均值（R bar）乘上A2这个系数值来确定上下控制极限线的。A2也是和子样大小n有关，可以查表得到。( Y% I& o6 _9 ( w* X+ R1 _9 0 f: Q. I( & J 只有当您子样数量n变化了，譬如，原来子样数是4，现
11、在变成3。又想利用原来控制图，由于子样数值n变化，控制极限线要变化，这时候，可以利用上面标准差=R bar/d2公式来换算新的R bar，再用新的R bar计算得到新控制极限线。. ?# $ ?: ; & c4 e/ V e0 S8 u6 I/ Q4 m. b）在X平均和标准差控制图中是要计算子样标准差的。子样的标准差用英文的s表示。它的计算公式对不起，我不会用公式表示。就是各个子样平均值减去子样单值的平方相加后除以子样数n -1再开方。再把各个子样的标准差计算得到子样标准差s的平均值，乘上系数A3，就能确定平均值上下的控制极限了。2 T9 ?3 d& W/ i) G) V! B s1 q8
12、Q0 F; u W6 ?, z X平均和标准差控制图也有两个控制图，一个在上面说的平均值控制图，还有一个是标准差控制图。就用s平均值乘上B4、B3系数来确定上下控制极限了。% _$ z9 N0 & T+ : n4 G) l1 m# T9 ; 如果要估计过程标准差（用戴三角帽的西格玛符号表示），可以用子样标准差s的平均值除以系数C4（sbar/c4,）。系数C4和子样数n有关，可以查表得到。7 W& c8 q) v N, z4 9 U: f# h. y3 ! E+ z4 O8 t, r 4、您计算过程标准差做什么？1 k0 V W& 1 Z6 o u$ _9 e& W6 J4 W4 t( d*
13、M. T; i$ a) 如果绘制控制图的话，前面已经说明了。不需要计算的。直接用极差平均值或者子样标准差平均值来确定上下控制极限；0 c5 W% O8 q6 V5 W, F% W0 _) + u( Q* w0 g& u4 V b）如何想用过程标准差来分析过程能力的话，不管以上那一种控制图，如果过程服从正态分布，均值控制图和极差控制图，或者均值控制图和标准差控制图都处于统计控制状态的话，可以用这个估计的过程标准差（用戴三角帽的西格玛符号表示）来评价过程能力。我来翻译一下： Q=sigma Q表示标准差 Qppk = Q异波Q偶波 用ppk表示的过程性能指数 = Q异波由于特殊原因引起的变差Q偶波由于普通原因引起的变差 Qcpk = Q偶波 用cpk表示的过程能力指数 = 只有Q偶波由于普通原因引起的变差 所以，正常情况下PPKCPK
