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1、光纤网络的测试,Volition TM,光纤测量项目,物理性能测试（实验室） 机械性能：拉伸、压扁、冲击、弯曲、扭转、磨损 环境性能：温度循环性、渗水、充气、充油滴淌 工程测试 单盘检验，光缆敷设前后的检验测试、光缆线路 工程竣工后中继段的全程测试。,ANSI/EIA/TIA-526-14 光缆布线测试方法 方法A，测试光纤本身外加一个连接衰减。 方法B，测试光纤本身，两个连接以及一条跳线的衰减。（ANSI/EIA/TIA-568-A将方法B列为光缆布线测试方法） 方法A和方法B都必须注意光纤链路的接收端和发射端。,光纤测试标准,光纤测量方法,衰减 基准法（Reference Test Met
2、hod） 截断法 替代法（Alternative Test Method） 插入法，后向散射法（OTDR） 带宽 时域法，频域法 基准法：严格按照光纤某一给定特性的定义进行测量的方法。 替代法：在某种意义上与给定特性的定义相一致的测量方法。,截断法测试,（1）先测出被测光纤的输出光功率P2（o） （2）保持光源输出不变，在距光源23m处截断光纤， 测出注入光功率P1（ o ） （3）若光功率计的指示值为dB，则该段的光纤衰减为P1-P2 若光功率计的指示值为mW，则该段的光纤衰减为10logP1/P2(dB),插入法测试,(1) 先采用与被测光纤同类型的光跳线作为参考光纤。 (2) 对测量系统
3、进行初始校准，获得基准电平 P1。 (3) 取下参考光纤，代之插入被测光纤，调整耦合接头， 以使耦合最佳，即在功率计上获得最大电平，记下此 值 P2。 (4) 被测光纤的总衰减 A 为 A = ( P1-P2 ),插入法测试,后向散射法（OTDROptical Time Domain Reflectometer） 利用一个适当宽度的光脉冲注入被测光纤。 在注入端收集此光脉冲经过之处因瑞利散射和菲涅尔反射光向后传播回来的光，从中捕获反映光纤衰减特性的信息。 具有单端测量和非破坏性的优点，适合现场施工和维护测试时使用。 主要用来测量光纤长度，光纤故障点，光纤衰减及光纤接头损耗。,OTDR测试方法的
4、有关规定,OTDR测试方法：后向散射法，取双向平均值 国标GB/T 15972.4-1998中的规定： 1、后向散射法是测量光纤衰减特性的替代试验方法它测量从光纤中不同点后向散射至该光纤始端的后向散射功率。这是一种单端测量。 2、该方法的测量结果受光纤中光的传输速度和光纤后向散射性能的影响，不可能像剪断法那样精确测量光纤衰减。 3、本方法允许对光纤整个长度进行分析，甚至可以鉴别分立的点(例如接头、点不连续)。 4、应进行双向测量，将双向测量获得的数值取平均值得到精确的衰减和衰减系数,光时域反射仪 Optical Time Domain Reflectometer,后向散射,OTDR Measu
5、rement Display,Splice,Bend,Connector,Crack,Fiber End,Relative Power (db),OTDR,Distance(km),Mechanical Splice,光通过不均匀的沉淀或杂质时，它的一部分光功率散射到不同的反向上其中一部分返回 入射端，通过分析后向散射光强度和返回时间计算光纤损耗,后向散射,传输光经历瑞利散射 落在接收锥内的后向散射光被捕获并后向传输至光源处 接收角和模场半径平方的倒数成正比(1/w02) 模场直径较小的光纤捕获较多的后向散射光,接收锥,被捕获的后向散射光,散射光,传输光,反射事件,非反射事件,Connecto
6、r/air gap 活 接 头/ 气 隙,Crack/Stress 裂 痕,Fusion Splice 熔 接 头,Bend 弯 曲,Loss,Loss,连接件、机械接头和光纤 裂痕会引起反射和损耗。,熔接头、弯曲会引起损耗但不会产生反射，损耗在曲线上显 示为有一台阶,OTDR的性能参数,典 型 的 OTDR 测 试 线 路 及 曲 线,OTDR,假 纤,被 测 光 纤,V 型 槽,光 纤 末 端,Dynamic range (SNR=1),Noise Level(Peak),RMS,Dynamic range (Peak),被 测 光 纤 长 度distance,动 态 范 围Dynamic
7、 range 盲 区Deadzone 长 度 准 确 度 Distance accurancy 脉 冲 宽 度 pulsewidth 平 均 次 数Average time 测 量 范 围Measurement range,盲 区,盲 区,A,B,OTDR测量参数设置,在开始测试之前一般应先设置以下参数： 1、测量范围Measurement Range: 根据实际被测长度和假光纤的长度确定，以确保整条被测光纤曲线能显示出来通常选择的测试范围比实际测试光纤长15% 2、脉冲宽度Pusle Width: 短脉冲增强分辨率( 缩短盲区) 3、波长Wavelength: 1310nm,1550nm,
8、1385nm,850nm( 多模光纤) 4、折射率Reflective Index: 据 光 纤类型设定 MC:13101.4659 15501.4666 TW:13101.4707 15501.4701 5、平均次数Average Time: 一 般选择 1 分钟 6、损耗模式选择 Lose mode: 据测量目的选择，在光缆出厂衰减测试时 一 般 选 择 LSA/Dist (db/km) 模 式 2-Point: 被指定的两光标间的光纤损耗，以 db 表示 db/distance: 两点损耗除以两点间距离， 以 db/km 表示 Splice loss: 测量熔接点损耗， 以 db 表示
9、LSA/2-point: 利用最小二乘法(Least Squares Approximation)平均得出的两点间损耗。以 db 表 示 LSA/db/Dist: LSA/2-point 除以两点距离。 以 db/km 表示 ORL: OTDR 至被测纤末端的全程损耗， 包括各种接头和熔接点损耗 ，以 db 表 示,损耗测量,OTDR,假 纤,V 型 槽 conecetor,被 测 光 纤,Fiber End,A,B,Loss（db),Distance(km),1,2,1.0db/Div,A,B光标位置不能置于盲区中 光纤2接续不好台阶太大,影 响 测 量 精 度 损耗分辩率应 设在1.0db
10、/ 格,便于观察光纤缺陷。 应进行双向测试后取平均值,熔接损耗测量,OTDR,假 纤,V 型 槽 conecetor,熔接点,Fiber End,a,b c,Loss（db),Distance(km),1.0db/Div,光标位置不能置于盲区中 光标位置尽量包括除熔接点及盲区外所有光纤 应进行双向测试后取平均值,d,A,B,长度/距离测量,假 纤,V 型 槽 conecetor,被 测 光 纤,Fiber End,OTDR,A,B,Loss（db),Distance(km),A,B 光标应置 于两反射 峰 的 起始点。 将水平Dist. 及竖直Loss进行放大，便于找出 两反射峰的起始点。 如
11、右图 A,B 之 间即是被测光 纤的长度。,d=,t c,2 n,t0,t1,t =t1-t0,c =光速 n =光纤折射率,OTDR光纤曲线观察,OTDR,假 纤,V 型 槽 conecetor,被 测 光 纤,Fiber End,A,B,Loss（db),Distance(km),1,2,1.0db/Div,光纤1:正常 光纤2:有台阶 光纤3:有波浪 光纤4:断纤 光纤有缺陷除 通过曲线观察外,还可通过被测光纤衰减值或长度测量出。,3,4,注 意： Loss 分辨率应设在1.0db/div,VF45的测试,测试准备,清洁工具 端口对应表 测试工具 通信工具,清洁 在每一次测试之前一定要对
12、插座及插头进行清洗，并且在清洗完成90秒之后再进行测试，等待的目的是让清洗液充分挥发。,插头和插座的清洁,插入喷嘴到模块或跳线适配器中挤压把手喷出清洗液.,在放大100倍的显微镜下看到的清洗前及清洗后的效果对比图,VF-45端口对应表,要测试光纤链路，首先要得到光纤端口的对应表，即要知道要测试的这条光纤链路的两个端口分别在哪里。 光纤端口的对应表可从施工单位获得。,VF-45测试工具,参考跳线 VF-45插头对VF-45插头测试跳线 1条 VF-45插头对ST或FC/PC测试跳线 2条 VF-45插座对ST或FC/PC测试跳线 2条 一对光万用表，或两台光源和两台光功率计 注： 根据被测光纤规
13、格选择不同的测试跳线 测试仪表要符合被测线路的单多模特性,参考测试跳线,我们需要三种跳线,ST to VF-45 socket,ST to VF-45 plug,VF-45 plug to VF-45 plug,通信工具,无线对讲机一对 此通信设备用于被测光纤链路两端测试人员间的信息传递。 若无对讲机，可用移动电话代替,VF-45安装检查,用棉签或小棒拨开VF-45插座防尘盖，检查光纤是否处在V型槽的正确位置。 此检查应在插座安装完毕后进行，在测试前再次检查。,测试方法,复习： ANSI/EIA/TIA-526-14 光缆布线测试方法 方法A，测试光纤本身外加一个连接衰减。 方法B，测试光纤本
14、身，两个连接以及测试跳线的衰减。（ANSI/EIA/TIA-568-A将方法B列为光缆布线测试方法） 方法A和方法B都必须注意光纤链路的接收端和发射端。,方法A,a) 如上图连接测试仪表及参考跳线（白色插头连接仪表） b) 设置光功率计参考值或记录参考电平,方法A,c) 断开功率检测端口连接器，如图所示将米色插头连接功率测试端口。 d) 测试光纤链路,方法B,a) 如上图连接测试仪表及参考跳线（白色插头连接仪表） b) 设置光功率计参考值或记录参考电平,方法B,c) 如图所示连接仪表，并插入双头VF-45跳线 d) 测试光纤链路,VF-45可见光源测试,将光纤链路的远端用测试线环成回路，用可见光源从近端的一根光纤输入，肉眼观察是否有光从另一光纤输出。,VF-45链路衰减测试,将光纤链路的远端用测试线环成回路，用光源和光功率计或光万用表测试链路衰减。,将如图连接测得值作参考。 假设所测双向链路总衰减值为a，单向允许衰减为b： 若ab,则单向分别测试。,最大链路衰减标准值为: 不超过 2.5dB 测试标准: ANSI/TIA/EIA-568 B 每一条链路的测试应进行四次，即分别对两个模块的2芯光纤分别与仪表的发射端连接进行测试。,VF45测试小结,
