存储器实验实验报告1

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1、存储器实验实验报告第 1 页 共 6 页存储器实验实验报告课程名称: 计算机组成原理实验名称: 算术逻辑运算姓名/学号:专业: 软件工程 班级: 软件工程班指导教师:实验日期: 2011 年 11 月 16 日实验成绩:批阅教师签字:存储器实验实验报告第 2 页 共 6 页一、实验目的 练习使用 STEP 开关 了解地址寄存器(AR)中地址的读入 了解 STOP 和 STEP 开关的状态设置 了解向存储器 RAM 中存入数据的方法 了解从存储器 RAM 中读出数据的二、实验设备1、TDNCM组成原理实验仪一台2、导线若干3、静态存储器:一片 6116(2K*8)芯片地址锁存器(74LS273)

2、地址灯 AD0AD7三态门(74LS245)三、实验原理 实验所用的半导体静态存储器电路原理如图所示,实验中的静态存储器由一片 6116(2K*8)芯片构成,其数据线接至数据总线,地址线由地址锁存器(74LS273)给出。地址灯 AD0AD7 与地址线相连,显示地址线状况。数据开关经一个三态门(74LS245)连至数据总线,分时给出地址和数据。 实验时将 T3 脉冲接至实验板上时序电路模块的 TS3 相应插孔中,在时序电路模块中有两个二进制开关“STOP”和“STEP”,将“STOP”开关置为“RUN”状态、“STEP”开关置为“EXEC”状态时,按动微动开关 START,则 TS3 端输出连

3、续的方波信号当“STOP”开关置为 RUN 状态,“STEP”开关置为“STEP”状态时,每按动一次微动开关“start”,则 TS3 输出一个单脉冲,脉冲宽度与连续方式相同。存储器实验实验报告第 3 页 共 6 页四、实验内容如下图存储器实验接线图存储器实验实验报告第 4 页 共 6 页(一) 练习使用 STEP 开关 往地址寄存器(AR)中存入地址 设置 STOP 和 STEP 开关的状态: 从数据开关送地址给总线:SW-B=_ 打开 AR,关闭存储器:LDAR=_、CE=_ 按下 Start 产生 T3 脉冲 关闭 AR,关闭数据开关:LDAR=_、SW-B=_(二) 往存储器 RAM

4、中存入数据1. 设定好要访问的存储器单元地址2. 从数据开关送数给总线:SW-B=_3. 选择存储器片选信号:CE=_4. 选择读或写:WE=_5. 按下 Start 产生 T3 脉冲6. 关闭存储器片选信号:CE=_7. 关闭数据开关: SW-B=_(三) 从存储器 RAM 中读出数据1. 设定好要访问的存储器单元地址2. 选择存储器片选信号:CE=_3. 选择读或写:WE=_4. 按下 Start 产生 T3 脉冲5. 关闭存储器片选信号:CE=_地址 存入 读出00 1001 11存储器实验实验报告第 5 页 共 6 页02 1203 1304 1405 1506 16五、实验结果总结六、思考题 在进行存储器操作(写/读)是不是必须先往地址寄存器( AR)存入所访问的存储器单元地址? T3 在本实验中起了哪些作用,如何区分它们? 在进行存储器读写操作时,CE 和 WE 信号有没有先后顺序?为什么?存储器实验实验报告第 6 页 共 6 页

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