自制塞规-卡规校准规程

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1、1、目的:通过对自制塞规/卡规进行校准,执行量值传递工作,保证产品质量。2、适用范围:适用于厂内0-100范围的自制塞规/卡规的校准指导。3、环境要求:室内温度要求控制在205,湿度控制在6015 RH%。4、校准方法/步骤:4-1、外观:4-1-1、要求:塞规/卡规表面应无锈蚀、碰伤或其它缺陷,不得有磁性,使用中及修理后允许有不影响使用准确度的外观缺陷。4-1-2、方法:目视4-2、塞规圆度:4-2-1、要求:通,止规的圆度要求控制在0.005以内。4-2-2、方法:用外径千分尺对塞规的同一截面在相互垂直的两个方向进行检定,大于20mm的在45度四个方向进行检定,最大与最小检定之差的一半即为

2、塞规此截面的圆度。4-3、卡规两测量面平行度 4-3-1、要求:两测量面的平行度要求控制在0.005以内。4-3-2、方法:用三座标以卡规的一个测量面作基准面,再测量另一面,输入测量面的长度及宽度计算出两测量面的平行度。4-4、尺寸误差:4-4-1、要求:自制塞规通端基本尺寸应为被检尺寸下限尺寸,公差为+0.005/0mm 自制塞规止端基本尺寸应为被检尺寸上限尺寸,公差为0/-0.005mm 自制卡规通端基本尺寸应为被检尺寸上限尺寸,公差为0/-0.005mm 自制卡规止端基本尺寸应为被检尺寸下限尺寸,公差为+0.005/0mm4-4-2、方法:塞规以1级外径千分尺在塞规通端及止端的口部和根部沿不同方向测出的最大值即为检定尺寸。 卡规用三座标以卡规的一个测量面作基准面,再测量另一测量面,取点测量,测出的最小值即为检定尺寸。 5、校准周期预定为一年编制: 审核:批准:日期: 日期:日期:除非有文件控制中心的受控文件标识,此文件一经打印即为非受控文件。

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