《现代材料分析测试技术试卷》由会员分享，可在线阅读，更多相关《现代材料分析测试技术试卷（11页珍藏版）》请在金锄头文库上搜索。
1、为了适应公司新战略的发展，保障停车场安保新项目的正常、顺利开展，特制定安保从业人员的业务技能及个人素质的培训计划现代材料分析测试技术试卷一、名词解释题分辨率K射线、景深与焦长、热重分析、光谱分析方法埃利斑、倒易点阵、质厚衬度、热分析、质谱二、填空题阿贝成像原理可以简单地描述为两次：平行光束受到有周期性特征物体的衍射作用形成，各级衍射波通过重新在像平面上形成反映物的特征的像。衍射波的两个基本特征衍射线在空间分布的和，与晶体内原子密切相关。利用电磁线圈激磁的电磁透镜，通过调节可以很方便地调节，从而调节。质谱分析可用于测定化合物的，推测和。光谱分析方法是基于与材料相互作用产生的与进行材料分析的方法。
2、光谱分析方法包括各种和以及。热电偶实际上是一种，它将热能转换为，利用所产生的测量温度。以合适的照射处于外磁场B中的核，处于低能态的核射频能量而跃迁至高能级，这种现象称为，其吸收光谱即为。入射X射线可使样品产生和。是X射线衍射分析方法的技术基础。材料分析的三个基本方面：、和。光学透镜的像差包括、及。主要的物相分析手段有三种，包括、。电子能谱包括、等分析手段。材料性能主要决定于其、。德拜相机底片安装方法包括、。按入射电子能量的大小，电子衍射可分为、及。常用的热分析法有、及动态热机械法和热机械分析法。质谱分析可用于测定化合物的，推测和。光谱分析仪器主要由、及。以合适的照射处于外磁场B中的核，处于低能
3、态的核射频能量而跃迁至高能级，这种现象称为，其吸收光谱即为。三、判断题产生特征x射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发态。倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。x射线物相定性分析可知被测材料中有哪些物相，而定量分析可知这些物相的含量有什么成分。有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，而后者仅仅是仪器的制造水平。电子衍射和x射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。埃利斑半径与透镜数值孔径成正比，与照明光明光源波长成反比。影响点阵常数精度的关键因素是sin，当角位于低角度时，若存在一的测量误差，对应的sin的误差范围很小。电子衍射只适于材料表层或或薄膜样品
4、的结构分析。凡物质受热时发生质量变化的物理或化学变化过程，均可用热重法分析、研究。激发电位较低的谱线都比较强，激发电位高的谱线都比较弱。四、简答题什么叫干涉面？当波长为的X射线在晶体上发生衍射时，相邻两个晶面衍射线的波程差是多少？相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少？试述获取衍射花样的三种基本方法及其用途？什么是双光束衍射？电子衍衬分析时，为什么要求在近似双光束条件下进行？简要说明多晶、单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理。磁透镜的像差是怎样产生的?如何来消除和减少像差？布拉格方程2dsin=中的d、分别表示什么？布拉格方程式有何用途？下列哪些晶面属于11晶带？、，为什么？透射电镜中有哪些主要光
5、阑?分别安装在什么位置?其作用如何?实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片？下面是某立方晶系物质的几个晶面，试将它们的面间距从大到小按次序重新排列：，。?编号：21-01-04材料现代分析测试技术试卷(XX)班级姓名学号成绩一、填空1原子吸收光谱分析主要用来。2轻元素的俄歇电子产率比荧光X射线产率。3扫描隧道显微镜的工作模式有、。4核磁共振的条件是。5物相定性分析的依据是：每种物相都有其。6单晶与多晶的电子衍射花样区别是。7电子探针检测的信号是。8XPS是指。9在扫描电镜中，常用信号来显示成分衬度。10俄歇电子能谱可用于材料
6、、成分分析。11透射电镜中暗场像是采用来成像的。12在X射线衍射图谱上，晶面间距越大相应衍射线条的衍射角越。13化学位移是由于引起的。14光谱分析中，主共振线是指。15在DTA和DSC中，升温速率越大，峰位越向温方向移动，峰形越。二、判断题1某元素的特征X射线辐射与荧光X射线辐射的波长相等。2可以根据X射线衍射线的强度来分析试样的元素含量。3相干散射与非相干散射对衍射线都有贡献。4扫描电镜中二次电子像比背散射电子像的分辨率高。5红外光谱是发射光谱。6DSC可以用来测量试样的比热。7离子探针可以用来分析包括氢、锂在内的轻元素。8试样表面的每一个原子都可以在场离子显微镜图像中显示出来。9能谱仪比波
7、谱仪的能量分辨率高。10穆斯堡尔谱横坐标一般是速度。三、简答题1材料微观结构和成分分析可以分为哪几个层次？每个层次可用哪类方法分析？2简述产生特征X射线谱的机理。什么是俄歇效应？3扫描隧道显微镜是基于什么原理工作的？与之相比原子力显微镜有什么特点？4什么是拉曼效应和拉曼位移？什么是斯托克斯线和反斯托克斯线？5为什么光电子能谱能用于分析试样表面化学元素的组成及化学态。四、论述题1请你谈谈材料测试分析方法在你的研究工作中的应用。2请你写出你所在组的PPT内容。材料分析测试技术试卷一、填空题：1.X射线管主要由、和构成。2.X射线透过物质时产生的物理效应有：和热。3.德拜照相法中的底片安装方法有：4
8、.X射线物相分析方法分：氏体的直接比(转载于:写论文网:现代材料分析测试技术试卷)较法就属于其中的定量分析方法。5.透射电子显微镜的分辨率主要受6.今天复型技术主要应用于7.电子探针包括8.扫描电子显微镜常用的信号是和。二、选择题：1.X射线衍射方法中最常用的方法是。a劳厄法；b粉末多晶法；c周转晶体法。2.已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是。aCo；b.Ni；c.Fe。3.X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用。a哈氏无机数值索引；b.芬克无机数值索引；c.戴维无机字母索引。4.能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是。a第二聚光镜光阑；b.物镜光阑；c.选区光阑。5.透
9、射电子显微镜中可以消除的像差是。a球差；b.像散；c.色差。6.可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是。a高阶劳厄斑点；b.超结构斑点；c.二次衍射斑点。7.电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是。a背散射电子；b.俄歇电子；c.特征X射线。8.中心暗场像的成像操作方法是。a以物镜光栏套住透射斑；b以物镜光栏套住衍射斑；c将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。三、问答题：1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么？答：X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品，首先要求粉末粒度要大小适中，在1um-5um之间；其次粉末不能有应力和织构；最后是样品有一个最佳厚
10、度，将试样放在球心O处，入射线经试样与球相交于O*；以O*为倒易原点，若任一倒易点G落在厄瓦尔德球面上，则G对应的晶面满足衍射条件产生衍射。证明：如图，令入射方向矢量为k，衍射方向矢量为k，衍射矢量为g。则有g=2ksin。g=1/d；k=1/，2dsin=。即厄瓦尔德球图解与布拉格方程等价。2.作图并证明公式：Rd=L。作图：以1/为半径作厄瓦尔德球面，入射线经试样O与厄瓦尔德球面交于O*点，与荧光屏交于O，点；衍射线与厄瓦尔德球面交于G点，与荧光屏交于A点。O*G是倒易矢量g，O，透射电子显微镜的孔径半角很小1.为使Cuk线的强度衰减1/2，需要多厚的Ni滤波片？。解：根据强度衰减公式I=
11、I0e-mX1/2=*X=ln2/*=2.有一金属材料的多晶粉末电子衍射花样为六道同心圆环，其半径分别是：，；相机常数L=?。请标定衍射花样并求晶格常数。解：已知R1=；R2=；R3=；R4=；R5=；R6=有R12=；R22=；R32=；R42=；R52=；R62=。R12/R12=1；R22/R12=；R32/R12=；R42/R12=4；R52/R12=；R62/R12=。有N数列为：1：2：3：4：5：6。由于金属材料中很少是简单立方结构，故考虑N数列为：2：4：6：8：10：12。这是体心立方晶体结构，其值对应的晶面族指数是：110；200；211；220；310；222。根据电子衍
12、射基本公式Rd=L，有d1=；d2=；d3=；d4=；d5=；d6=。根据立方晶体晶面间距公式d?ah?k?l222a=?3.分析电子衍射与X射线衍射有何异同？答：电子衍射的原理和X射线衍射相似，是以满足布拉格方程作为产生衍射的必要条件。首先，电子波的波长比X射线短得多，在同样满足布拉格条件时，它的衍射角很小，约为10-2rad。而X射线产生衍射时，其衍射角最大可接近/2。其次，在进行电子衍射操作时采用薄晶样品，薄样品的倒易阵点会沿着样品厚度方向延伸成杆状，因此，增加了倒易阵点和爱瓦尔德球相交截的机会，结果使略微偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射。第三，因为电子波的波长短，采用爱瓦尔德球图解时，反射球的半径很大，在衍射角较小的范围内反射球的球面可以近似地看成是一个平面，从而也可以认为电子衍射产生的衍射斑点大致分布在一个二维倒易截面内。这个结果使晶体产生的衍射花样能比较直观地反映晶体内各晶面的位向，给分析带来不少方便。最后，原子对电子的散射能力远高于它对X射线的散射能力，故电子衍射束的强度较大，摄取衍射花样时暴光时间仅需数秒钟。目的-通过该培训员工可对保安行业有初步了解，并感受到安保行业的发展的巨大潜力，可提升其的专业水平，并确保其在这个行业的安全感。
