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1、1,岛津国际贸易（上海）有限公司分析中心,岛津原子吸收光谱仪基础知识,岛津企业管理（中国）有限公司 分析中心,原子吸收光谱法的基础,3,原子吸收光谱分析概况,1802年伍郎斯顿（W.H.Wollasten）研究太阳光谱，发现连续光谱中有暗线 1860年克希霍夫（G.Kirchhoff）和本生（R.B.Bunsen）研究碱金属和碱土金属 1955年澳大利亚物理学家瓦尔什（A.Walsn）发表著名论文原子吸收光谱在化学分析中的应用 1961年里沃夫（B.V.Lvoi）发表非火焰原子吸收法，灵敏度达10-1010-14克 1965年威立斯（J.B.Willis）引入氧化亚氮-乙炔火焰，解决易生成难熔
2、氧化物元素的原子化问题,4,原子光谱分析的发展,火花发射,原子吸收,原子荧光,ICPS,年,5,测定的浓度范围,ICP-MS,火花发射,火焰 AAS,无火焰 AAS,1 ppt 1 ppb 1 ppm 0.1% 100%,ICP,6,原子吸收的原理,E2,E1,e-,吸收,基于物质所产生的原子蒸气对特定谱线的吸收作用来进行定量分析的一种方法,hn,hn,7,E2,E1,e-,hn,E2 = 激发态 E1 = 基态 h = Planck 常数 n = 光谱频率,原子吸收的原理,8,钠 线,9,Io,I,原子蒸汽,l 光程长,T：透射率, A：吸光度, k：摩尔吸收系数,Lambert-Beer定
3、律,10,AAS 装置的构成,辐射源 (空心阴极灯) 原子化器 (火焰/无火焰) 光学系统 (单/双光束) 单色器 (分光器) 检测器 (光电倍增管) 数据处理系统,11,光源 原子化器,光学系统,单色器,检测器,数据处理系统,AAS 装置的构成,12,(1) 辐射源 (空心阴极灯),光 源,13,空心阴极灯原理图,14,空心阴极灯发光原理,15,(2) 原子化器,原子化器,16,原子化过程,将分析物质转换为发射或吸收光能量的自由原子的过程,雾化,气溶胶,自由 原子 蒸汽,炉加热,火焰,17,原子化器的2种类型,(1) 火焰(2) 无火焰 - 石墨炉AAS (GFA)- 冷汞发生器MVU-1A
4、- 氢化物发生器HVG-1,18,火焰原子化,火焰通过助燃气（如Air、N2O等）和燃气(如H2、C2H2等)的燃烧而产生,19,火焰温度,20,火焰的选择,空气-乙炔多数元素 N2O-乙炔难熔元素：Al, V, Ti 等 氩-氢吸收波长位于 230nm UV 区的元素As, Se, Zn, Pb, Cd, Sn,21,火焰AAS中形成自由原子的过程,颗粒的去溶剂 固体的汽化 分子的解离 分析物原子的电离,22,火焰原子化的过程,溶液,雾化,喷雾,去溶剂,干燥的 气溶胶,蒸发,自由原子,分子,离子,23,火焰原子化器,24,AA火焰原子化器的构造,25,燃烧头角度与吸光度,适当调整燃烧头角度，
5、以减小光程长，可以显著降低吸光度，是测定高浓度元素时常用的技巧,26,原子化器的2种类型,火焰无火焰 石墨炉AAS (GFA) 冷汞发生器MVU-1A 氢化物发生器HVG-1,27,石墨炉原子化,28,石墨炉原子化的过程,输送,样品 溶液,液滴,去溶剂,固体 颗粒,蒸发,蒸汽,分子,离子,自由原子,在石墨管中注入数L-数十L的样品溶液，并通以大电流。通过产生的热加热石墨管，使样品中目的元素原子化。最高温度可达近3000。,29,GFA 中涉及原子化的过程,干燥或去溶剂阶段 灰化阶段 原子化阶段 清洁阶段 (可选择),30,GFA 的加热阶段,时间 (秒),干燥阶段,灰化阶段,原子化阶段,温度
6、(oC),外气流(氩),内气流(氩),0,20,35,50,54,清洁阶段(选择),31,温度控制方式,岛津全程温度控制 干燥阶段：人工智能电子电流控制自动温度校准 灰化/原子化：光学探头温度控制 控温精度高，有利于提高重现性和准确度其他厂家 只有原子化阶段才采取光控方式,32,石墨炉温控技术,传统GFA电流控温的问题,时间,干燥,灰化,原子化,100,300900,10003000,(样品易爆沸),(目标元素挥发),干燥、灰化温度控温不准,传统GFA,GFA-EX7 GFA-EX7i,自动温度校准 电流控制,光学控温,光学控温,传统电流控温,33,高灵敏度GFA,34,新设计的优点,高灵敏度
7、 长寿命的石墨管 适合连续多样品分析减少操作成本,35,石墨管的类型,高密度石墨管适用于原子化温度低的元素，如：Cd, Pb, Na, Zn, Mg等被测元素浓度高时可降低灵敏度，如：Al, Fe, Cu等热解石墨管适用于易与碳结合的元素， 如：Ni, Ca, Ti, Si, V, Mo等平台石墨管适用于基体复杂的样品， 如：生物样品，排放水，海水等,36,5ppb_Cr,高密石墨管,热解石墨管,ABS 0.06,ABS 0.37,37,(3) 光学系统,光学系统,38,光学系统 (单/双光束),39,光学系统 (单/双光束),单光束：光源辐射出目的元素的特征光谱, 光束 经样品池准直于单色器
8、双光束: 来自灯光源的光被分为样品光束和参比 光束，样品光束准直于样品池，参比光束绕过样品 池，测量信号为样品光束和参比光束的比值。可消除光源强度波动造成的影响，得到更稳定的基线,40,AA6300C光学系统,HCL : 空心阴极灯 M1-M6:镜 D2: 氘灯 S1,S2: 狭缝 BS:分束器 G:衍射光栅 W1-W4:窗板 PMT:光电倍增管 CM:斩光镜,41,AA-7000光学系统,42,(4) 检测器 (光电倍增管),检测器,43,光电倍增管,当有一个具有一定能量的电子撞击打拿极时可发射 25 电子，导致电子的倍增 将采集到的光信号转变为电信号,44,(5) 数据处理系统,数据处理系
9、统,AAS分析中的 干扰及其解决方法,46,AAS 分析中的三种干扰,物理干扰 化学干扰 分光干扰 分子吸收 光散射 光谱干扰,47,物理干扰,原因干扰来自样品的流体特性：如黏度、表面张力等,火焰 AAS,石墨炉AAS,火焰,进样针,48,物理干扰,解决方法：标准加入法火焰：加大稀释倍数 (1050倍) 石墨炉：使用热解/平台石墨管,49,化学干扰,原因样品各组分之间化学反应产生的各种化合物例如： 在火焰 AAS中, 磷酸盐对Ca, Mg(碱土金属)等的干扰 在GFA中，被测元素在灰化阶段由于氯化物等引起的散射,50,化学干扰,解决方法 通过离子交换或溶剂萃取除去干扰物质 萃取目标元素 使用温
10、度更高的N2O/C2H2火焰 在上述碱土元素测定中，加入干扰抑制剂如 Sr 和La或EDTA GFA分析中使用基体改进剂 采用标准加入法测定,51,电离抑制剂 电离干扰：在高温下原子会电离使基态原子数减少，导致吸光度下降 解决方法：加入过量的电离抑制剂。所谓电离抑制剂是指电离电位较低的元素，加入时产生大量的电子改变电离平衡使已电离的被测元素重新回到基态原子，此时参与原子吸收的基态原子数增加，从而提高吸光度 如氯化铯, 硝酸铯, 氯化锂, 硝酸锂, 氯化钾, 硝酸钾,化学干扰,Cs Cs+ + e-,K+ + e- K,Cs产生大量电子,抑制K的电离,提高原子化效率,52,释放剂 通过与干扰阴离
11、子结合，释放分析物元素，使化学干扰最小化，如氯化镧，硝酸镧,化学干扰,Ca3(PO4)2 + La(NO3)3 La3PO4 + Ca,Ca原子化困难,Ca被释放， 易于原子化,53,基体改进剂 降低被测元素的挥发性，提高其原子化温度，从而可以采用更高的灰化温度，减少基体的干扰 提高基体的挥发性，从而降低基体的干扰 改变化学组成, 提高分析物的原子化效率 常用基改剂：硝酸镁、硝酸铵、硝酸钯、磷酸二氢铵等,化学干扰,54,化学干扰,GFA使用基体改进剂,NaCl（基体物质）+ NH4NO3 NH4Cl + NaNO3,400即分解,易挥发 元素 + PO43- Cd (PO4) Cd, Pb,不
12、易挥发,降低基体挥发性：,提高被测元素挥发温度：,Cd, Pb + Pd2+,合金（挥发温度高）,55,不使用基改剂,添加100ppm硝酸钯,中药中Cd的测定,基改剂使用实例,灰化温度：300 原子化温度1500,灰化温度：800 原子化温度2400,56,分光干扰,分子吸收样品中未解离的分子, 在光程中产生吸收分子吸收带，通常在 UV 区 光散射光程中的样品颗粒产生加宽吸收谱带的效应 光谱干扰样品中分析物和其他自由原子的原子吸收发生重叠,两光谱的吸收波长非常接近,57,光谱线干扰,58,分光干扰,解决方法 溶剂萃取除去干扰物质 背景校正,59,背景校正,60,扣背景技术,所谓的背景校正就是扣
13、除由于光散射、分子化合物等所造成的“吸收值” 最普遍背景校正技术有三种： 氘灯扣背景 自吸收扣背景 塞曼效应背景校正,61,背景校正测量方法,由两次测量完成，第一次测量AA+BG；第二次测量AA(部分)+BG 1,氘灯法：HCL 测量AA+BG 氘灯测量AA(很小)+BG 2,自吸收法: 弱脉冲测量AA+BG 強脉冲测量AA(部分)+BG 3,Zeeman法：偏振调制：P测量AA+BG, P测量AA(部分)+BG 磁场调制：B测量AA+BG, B=0测量AA(部分)+BG,62,塞曼扣背景(石墨炉）,正常塞曼效应 约占分析元素的20%。 如：Be、Mg、Ca、Sr、Ba、Zn、Cd、Hg、Si
14、、Ge、Sn、V、Pb 反常塞曼效应 约占分析元素的80%。 如：Li、Na、K、Rb、Cs、Cu、Ag、Au、Mn、Cr、Mo、Se、Te、Ni、Zr、Al、Co、Fe、Rh、V、Ru、Y、Zr、As、Sb、Bi,Elements: Ba,Be,Ca,Cd,Hg,Mg,Pb,Pd,Si,Sn, Sr,V,Zn,63,铁(213.859nm)中锌(213.856nm)的测定例,原子吸收背景 吸收,铁溶液中的锌测定，BGC-D2 方法 (同样0.5ppm的锌溶液(6)的吸收大于(2) 因为校正不够.),铁溶液中的锌测定，BGC-SR 方法 (2)和(6)都是锌:0.5ppm溶液校正准确吸收相同.
15、),Interval Width,Interval Width,Zn 0.25ppm Zn 0.50ppm Fe 0.1% Fe 0.5% Fe 0.5%+Zn0.25ppm Fe 0.5%+Zn0.5ppm Fe 0.75%+Zn0.3ppm,D2 方法和 SR 方法的不同,64,氘灯法、自吸收法、塞曼法无论哪种，单独使用都不是完善的背景校正法。D2法的优点是灵敏度不受损失，但缺点有：只有190430nm范围内可从事背景校正，但长波段范围内的元素的高盐类样品分析困难。 只有D2灯法，不能对分光干扰进行校正。 如：铁的分析线为213.859，锌的分析线为213.586nm, 铁、钢、铁矿石等样
16、品中锌的分析困难。,背景校正的特点,65,只有SR方法或塞曼法灵敏度不如氘灯法高，短波段元素灵敏度本身就比较低，受其影响会更差。 只有塞曼法(交流塞曼)不能对火焰分析进行背景校正，只适用于石墨炉法。 塞曼法背景校正只有对正常塞曼分裂的元素背景校正能力强。(Be、Mg、Ca、Sr、Ba、Zn、Cd、Hg、Si、Ge、Sn、Pb),对异常塞曼分裂的元素背景校正能力差。(Li、Na、K、Rb、Cs、Cu、Ag、Au、Mn、Cr、Mo、Se、Te、Ni、Zr、Al、Co、Fe、Rh、V、Ru、Y、Zr、As、Sb、Bi)， 众所周知，正常塞曼分裂只有20%的几率，因此只具备这一种背景校正手段分析困难。,
