实验一进位实验

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计算机组成原理,实验一 运算器实验 进位实验,2,一、实验目的:,(1)了解带进位控制的运算器的组成结构。 (2)验证带进位控制的运算器的功能。,2、进位存储器,二、实验原理,图1.3-1 所示为进位锁存及其显示电路。运算器最高位进位输出Cn+4 连接到一个锁存器(用74LS74 实现)的输入端D,锁存器控制端的控制信号AR 必须置为低电平,当T4 脉冲来到时,进位结果就被锁存到进位锁存器中了,发光二极管这时显示为“灭”。同时也将本次的进位输出结果带进了下次的运算中,作为下次运算的进位输入。,2、进位存储器,4,5,三、实验仪器,TDN-CM+计算机组成原理教学实验系统一台,排线若干。,6,四、实验步骤,(1)按图1.3-2 连接实验电路并检查无误。 (2)打开电源开关。 (3)用输入开关向暂存器DR1 和DR2 置数,方法同前。 (4) 关闭数据输入三态门(SW-B=1),打开ALU 输出三态门(ALU-B=0),并使LDDR1=0、LDDR2=0,关闭寄存器打入控制门。 (5)对进位标志清零。 (6)验证带进位运算及进位锁存功能。使Cn=1,AR=0,进行带进位算术运算。,7,实验板上“SWITCH UNIT”单元中的CLR 开关为标志CY、ZI 的清零开关,它为零状态时是清零状态,所以将此开关做101 操作,即可使标志位清零。,8,

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