1第六章 透明矿物薄片的系统鉴定偏光显微镜下对透明矿物薄片进行系统的光学性质测定，通常用于鉴定未知矿物或已知矿物的精确定名透明矿物薄片的系统鉴定，必须配合手标本观察，在系统测定光学性质之前，首先要观察矿物手标本的晶形、颜色、光泽、硬度、条痕、解理、断口、次生变化及共生组合等，并需了解矿物的野外产状如果经过系统鉴定之后，仍不能准确定出矿物名称，还需配合其他方法，作进一步鉴定一、透明矿物薄片系统鉴定的内容（一）单偏光镜下的观察晶形: 观察晶体的完整程度，结晶习性根据各方向切面形态，初步判断晶体形状及可能属于那一个晶系解理: 观察解理的完全程度，根据不同方向的切面上的解理，判断解理的组数如为两组解理，需要测定解理夹角尽可能确定解理与结晶轴之间的关系突起: 观察矿物的边缘、糙面及突起的明显程度，结合贝克线移动规律确定其突起等级，估计矿物折射率的大致范围颜色、多色性: 观察矿片有无颜色，如有颜色，则观察有无多色性、多色性的变化情况并在定向切片上测定多色性公式及吸收公式此外，还应观察有无包裹体，其排列与分布情况有无次生变化，其变化程度及变化产物二）正交偏光镜下的观察干涉色: 观察矿片的最高干涉色级序，在平行光轴或光轴面切片上详细测定干涉色级序。
有无异常干涉色，其特点如何测定双折率: 根据矿片的最高干涉色级序、薄片厚度，确定双折射率值消光类型: 根据不同方向切片上的消光情况，确定矿物的消光类型测定消光角: 对斜消光的矿物，在定向切片上测定消光角测定延性符号: 对一向延长的矿物，测定其延长方向的光率体椭圆半径名称，确定延性符号双晶: 观察矿物有无双晶，确定双晶类型三）锥光镜下的观察根据有无干涉色图区分均质体与非均质体根据干涉图特征确定轴性（区分一轴晶与二轴晶） 、切片方向测定光性符号、光轴角大小二、定向切片的选择及其特征上述光学性质中，如多色性公式、干涉色级序、双折率大小，消光角大小及光轴角大小等，通常都需要在定向切片上测定常用的定向切片有垂直光轴切片及平行光轴（或光轴面）切片其特征如下：（一） 垂直光轴切片光率体切面为圆切面，其半径等于 No(或 Nm)单偏光镜下不显多色性（如为具多色性矿物） ；正交偏光镜下全消光（有时呈暗灰色，但转动物台其明暗变化不明显） ；锥光镜下显垂直光轴切片干涉图（一轴晶与二轴晶） 在这种切片上可以测定下列光学性质：1．测定 No（一轴晶）或 Nm（二轴晶）的颜色及主折射率 No 或 Nm 值。
2．确定轴性（区分一轴晶与二轴晶） ，测定光性符号3．估计（或测定）2V 大小在岩石薄片中往往不易找到严格垂直光轴的切片一轴晶矿物可以用光轴倾角不大，2近于垂直光轴的切片代替这种切片的光率体椭圆半径为 Ne′与 No，其多色性较弱，干涉色较低，干涉色中黑十字交点虽不在视域中心，但仍在视域内二轴晶矿物可用垂直光轴面的斜交光轴切片代替（最好是光轴倾角不大） ，这种切片的光率体椭圆半径中总有一个半径是 Nm，即其椭圆半径为 Nm 与 Ng′或 Np′其多色性较弱，干涉色较低当光轴切面与 PP、AA 之一平行时，直的黑带平分视域，此时垂直黑带的方向为 Nm 方向二） 平行光轴（一轴晶）或光轴面（二轴晶）切片光率体椭圆切面半径为 Ne 与 No 或 Ng 与 Np，多色性最明显（具多色性矿物） ，干涉色级序最高，显瞬变干涉图在这种切片上可测定下列光学性质；1． 观察多色性的明显程度，测定 Ne 与 No（一轴晶）或 Ng 与 Np 的颜色（二轴晶） 2． 观察闪突起现象，测定主折射率值 Ne 与 No 或 Ng 与 Np（二轴晶） 3． 测定最高干涉色级序及最大双折率值4． 测定消光角（适用于单斜晶系， Nm 与 Y 轴晶一致的矿物） 。
三、透明矿物薄片系统鉴定的程序（一）区分均质体与非均质体矿物均质体矿物各方向切片，在正交偏光镜间均为全消光，在锥光镜下无干涉图非均质体矿物，只有垂直光轴切片在正交偏光镜下全消光，其它方向切片在正交偏光镜下出现四次消光，四次明亮，如用白光照射并产生干涉色非均质体矿片在锥光镜下产生各种类型的干涉图二）均质体的鉴定在单偏光镜下观察晶形、解理、颜色及突起等级等特征三） 非均质体的鉴定通常采用下列程序：1．在单偏光镜下观察晶形、解理、测定解理夹角、颜色、突起等级等特征在正交偏光镜下观察消光类型，如为平行消光，测定性符号，观察双晶类型等2．选择一个垂直光轴的矿片，在锥光镜下，根据干涉色特征确定轴性，测定光性符号如为二轴晶，估计 2V 大小如为有色矿物，用这种切片在单偏光镜下观察 No 或 Nm 的颜色如果薄片中找不到垂直光轴的切片，一轴晶可选一个光轴倾角不大的斜交光轴切片测定上述光学性质利用这种切片观察 No 颜色时，应先在正交偏光镜下确定 No 的方向，并使 No 平行 PP（此时矿片消光）后，推出上偏光镜，观察 No 的颜色二轴晶可以选一个垂直光轴面的斜交光轴切片（光轴倾角不大）测定上述光学性质。
利用这种切片测定 Nm的颜色时，必须先确定 Nm 的方向该切片干涉图的特征是光轴面与 AA 或 PP 平行时，直的黑带通过视域中心并平分视域，此时垂直该直黑带的方向即 Nm 的方向使 Nm 平行PP，去掉锥光装置，在单偏光镜下观察 Nm 的颜色如果不需要观察 Nm 的颜色（如无色矿物） ，则选择一个光轴倾角不大的任意斜交光轴的切片即能代替垂直光轴切片3．如为一轴晶矿物，选择一个平行光轴的切片在正交偏光镜下测定最高干涉色级序，最大双折率值如为有色矿物，使 Ne 平行于 PP在单偏光镜下观察 Ne 的颜色；转动物台 90°，使 No 平行 PP，观察 No 的颜色同时观察多色性明显程度、吸收性，并写出多色性公式及吸收性公式观察闪突起现象4．如为二轴晶矿物，选择一个平行光轴面的切片在正交偏光镜下测定最高干涉色级序，最大双折率值，消光角大小（单斜晶系，Nm∥Y 轴时） 确定 Ng 与 Np 的方向如为有色矿物，使 Ng 平行 PP，在单偏光镜下观察 Ng 的颜色；转动物台 90°，使 Np 平行PP，观察 Np 的颜色同时观察多色性明显程度、吸收性及闪突起现象结合垂直光轴切片上观察 Nm 的颜色，写出多色性公式及吸收性公式。
3岩石薄片中，只能根据突起等级大致估计矿物的折射率范围精确测定矿物的主折射率值，需用油浸法系统测定光学性质之后，查阅有关光性矿物鉴定手册或鉴定图表，定出矿物名称四、半圆柱坐标鉴定系统简介半圆柱坐标鉴定系统，适用于偏光显微镜薄片鉴定法，如能配合油浸法精确测定折射率值，其鉴定效果更好半圆柱坐标鉴定系统，采用三度空间的半圆柱坐标表示透明矿物的三个光学数据（图130） 半圆柱轴方向代表矿物的折射率 Ny(均质体为 N，一轴晶为 No，二轴晶为 Nm)垂直半圆柱轴的半圆形切面中，半径的长短代表矿物的双折率值 B；任一半径与半圆直径之间的夹角代表光轴角，90°位置半径之上为+2V，其下为-2V 垂直半圆柱轴 Ny 方向，按一定间距（中部为 0.02，两端为 0.02—0.1）将半圆柱切成若干半圆形薄板，每一个半圆形薄板代表一定范围的折射率值，将该折射率范围内的矿物，按其双折率值，2V 大小投影到该半圆形平面上，即构成半圆形鉴定图（图 130B） 每一张半圆形鉴定图的右上角都注有该图的折射率（Ny ）范围图上数字代号所代表的矿物名称，在鉴定图对页上可查出均质体矿物的双折率为零，全部位于圆心处一轴晶矿物的 2V 为零，全部位于半圆直径上。
二轴晶矿物分布于图的其它部位图的上半部为正光性矿物，图的下半部为负光性矿物双折率低的矿物围绕圆心分布2V 小的矿物靠近半圆直径分布，2V 很大的矿物（接近 90°） ，不论光性正负都分布在 90°线两侧，而且彼此很接近应用半圆柱坐标系统鉴定矿物的程序：1．根据矿物的边缘、糙面及突起等级估计矿物的折射率值范围之后，确定未知矿物所在半圆形鉴定图，可能在某几张鉴定图中2．根据矿物的干涉色级序，确定双折率值 B3．根据矿物的干涉图确定矿物大轴性、光性正负及 2V 大小4．用测得的双折率、轴性、光性正负及 2V 大小，查相当的半圆形鉴定表，查出若干可能的矿物名称再从“光性矿物学”中查阅这些矿物的其它光学性质、产状及其它特征，与所鉴定的未知矿物特征对半比，最后确定未知矿物名称关于半圆柱鉴定系统的详细内容，请参看甘肃省地质局中心实验室编《透明矿物半圆柱系统鉴定表》 。