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1、单片机原理及接口技术实验,实验一 熟悉实验系统及51指令练习 实验二 汇编语言程序设计练习 实验三 MCS-51内部接口实验 实验四 MCS-51外部接口实验 实验五 综合实验,实验一 熟悉实验系统及51指令练习,一 实验要求 1. 指定存储器中某块的起始地址和长度，要求能将其内容置1。 2. 将给定的一个二进制数转换成BCD码。 3. 给出一个十六进制数，将其转换成ASC码值。 二 实验目的 1. 熟练运用Keil开发软件调试汇编语言程序。 2. 掌握存储器读写方法。 3. 掌握简单的数值转换算法。 4. 了解十六进制数和ASC码值的区别。,三 程序框图,二进制数转换成BCD码流程图,存储单
2、元清零流程图,十六进制数转换ASC码流程图,实验报告要求,1. 写出51汇编程序运行过程(简单些)。 2. 写出在调试过程中出现的错误(包括语法错误和逻辑错误，至少3条)。 3. 简单叙述三个程序运行结果的正确性。,实验二 汇编语言程序设计练习,一 实验要求 1. 将指定源地址和长度的存储块移到指定目标位置。 2. 在多分支结构的程序中，能够按调用号执行相应的功能，完成指定操作。 3. 给出一组随机数，将此组数据排序，使之成为有序排列。 二 实验目的 1掌握内存块的移动方法。 2了解程序的多分支结构。掌握多分支结构程序的编程 方法。 3了解数据排序的简单算法。,三程序框图,内存块的移动流程图,
3、分支结构程序流程图,数据排序流程图,排序程序 1. 在程序运行前， 在20h单元开始随机存放10个数。 2. 程序运行后，查看20h开始的10个单元的数据是否有序。,ORG 0HLOOP3:MOV R0,#20HMOV R2,#9CLR 0F0HLOOP: MOV A,R0MOV 30H,AINC R0MOV A,R0CJNE A,30H,LOOP1LOOP1:JNC LOOP2,XCH A,30HMOV R0,ADEC R0MOV R0,30HINC R0SETB 0F0HLOOP2:DJNZ R2,LOOPJB 0F0H,LOOP3SJMP $END,实验二报告要求:,在结果分析中： 1.
4、写出调试程序过程中出现的错误（3处）。 2. 对3个程序运行结果分析是否正确。 3. 写出第二个程序运行过程的pc值。若（20H）=8，结果如何？能不能实现多分支转移？,实验三 MCS-51内部接口实验,一实验要求 （一）P1口输入/输出实验 1. p1口做输出口，接八只发光二极管，编写程序，使发光二极管循环点亮。 2. P1口既做输入又做输出，将两个开关的状态在四个发 光二极管上显示出来。 （二）外部中断实验用单次脉冲申请中断，在中断处理程序中对输出信号进行反转。 （三）定时器实验用8031内部定时器，每0.1秒钟T1溢出中断一次。P1口的P1.0P1.7分别接发光二极管的L1L8。要求编写
5、程序模拟一循环彩灯。,二实验目的,1掌握p1口的使用方法和延时子程序的编写及使用。 2进一步学习多分支结构程序的编程方法。 3学习外部中断技术的基本使用及中断处理程序的编程方法。 4学习8031内部计数器的使用和编程方法，掌握中断处理程序的编写方法。,三 实验说明 1. P1口做输出口的实验说明,2. 延时程序编写 （1）软件延时 本实验系统晶振为6.144MHZ，则一个机器周期为126.144us即10.512us=2us。现要写一个延时0.1s的程序，可大致写出如下：MOV R7，#X 2usDEL1：MOV R6，#200 2usDEL2：DJNZ R6，DEL2 4usDJNZ R7，
6、DEL1 4us RET 4us (2us+4us200+4us) X+2us+4us=0.1 106us （2）硬件延时,3. P1口既做输入又做输出实验说明,程序运行后输入与输出的关系,4. 中断程序实验说明,5. 定时器实验说明,由8031内部定时器1按方式1工作，即作为16位定时器使用，每0.1秒钟T1溢出中断一次。P1口的P1.0P1.7分别接发光二极管的L1L8。要求编写程序模拟一循环彩灯。彩灯变化花样可自行设计。例程给出的变化花样为： L1、L2、L8依次点亮； L1、L2、L8依次熄灭； L1、L2、L8全亮、全灭。 各时序间隔为0.5秒。让发光二极管按以上规律循环显示下去。学
7、生可以任选一个变化花样。,四程序流程图,八只发光二极管循环点亮流程图,P1口既做输入又做输出流程图,INT0初始化流程图,INT0中断服务程序流程图,定时器初始化流程图,定时器中断服务程序流程图,实验四 MCS-51外部接口实验,一实验要求 （一）利用74LS244做为输入口，读取开关状态，并将此状态通过发光二极管显示出来。 （二）利用8255A可编程并行接口芯片，重复（一）的内容。实验可用B通道作为开关量输入口，A通道作为显示输出口。 二实验目的 1. 学习在单片机系统中扩展简单I/O口的方法。 2. 学习数据输入，输出程序的编制方法。 3. 了解8255A芯片的结构及编程方法。 4. 掌握
8、通过8255A并行口读取开关数据的方法。,三实验原理及说明,1. 74LS244的IN0IN7接开关的K1K8，片选信号CS244接CS1。,2. 74LS273的O0O7接发光二极管的L1L8，片选信号CS273接CS2。,3. 8255A可编程并行接口芯片输入输出,四程序流程图,74LS244做输出端口流程图,8255A做输出端口流程图,实验五 综合实验,一实验要求 通过8255A 的PA口输出段码，PB口输出位码。编程动态显示“012345”。 二实验目的 1复习巩固8255接口芯片的应用。 2掌握八段数码管的使用方法，及动态显示的编程方法。,三实验原理及说明,PA0PA7接ADP，PB
9、0PB5接SLED1SLED6，8255片选信号接CS0,LED位控制,LED段码控制,四程序流程图,8255A 控制八段数码管显示流程图,相应程序：MOV A,#80HMOV DPTR ,#0CFA3HMOVX DPTR ,A LOOP1: MOV R2, #6MOV R0,#20HMOV R1,#0FEH LOOP: MOV A,R0INC R0ADD A,#25MOVC A,A+PCMOV DPTR,#0CFA0HMOVX DPTR,AMOV A,R1INC DPTRMOVX DPTR,ARL AMOV R1,ALCALL DELAYDJNZ R2, LOOPSJMP LOOP1,DELAY: MOV R6,#4DEL:MOV R7,#200DJNZ R7,$DJNZ R6,DELRETDB 3FH,06H,5BHDB 4FH,66H,6DHDB 7DH,07H,7FHDB 6FH,77H,7CHDB 39H,5EH,79H,71HEND 程序运行条件：在内部RAM20H单元开始送6个0-15的数。实验报告要求： 修改程序，使显示由右到左显示。 修改延时程序，查看显示变化。写出变化的原因。 如果希望程序能显示0-F以外的数值如何修改？,
