热阻定义

上传人:小** 文档编号:55382620 上传时间:2018-09-28 格式:DOC 页数:5 大小:232.86KB
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1、我最近在写热分析和热设计的章节,把一些材料整理出来给大家分享一下,与原文有些差距,增加多样性,呵呵。首先看英文的指引,是指 JESD51 中关于热阻和热特性参数的表格定义。Theta ()、Psi ()的定义热阻划分JA 是结到周围环境的热阻,单位是C/W。JA 取决于 IC 封装、电路板、空气流通、辐射和系统特性,通常辐射的影响可以忽略。JA 专指自然条件下的数值。器件说明书中的 JA 是根据 JESD51 标准给出的,其标准环境是指将器件安装在较大的印刷电路板上,并置于 1 立方英尺的静止空气中。因此说明书中的数值没有太大的参考价值。JC 是结到管壳的热阻,管壳可以看作是封装外表面的一个特

2、定点。JC 取决于封装材料(引线框架、模塑材料、管芯粘接材料)和特定的封装设计(管芯厚度、裸焊盘、内部散热过孔、所用金属材料的热传导率)。注意 JC 表示的仅仅是散热通路到封装表面的电阻,因此 JC 总是小于 JA。JC 表示是特定的、通过传导方式进行热传递的散热通路的热阻,而 JA 则表示的是通过传导、对流、辐射等方式进行热传递的散热通路的热阻。CA 是指从管壳到周围环境的热阻。CA 包括从封装外表面到周围环境的所有散热通路的热阻。注意,如果有散热片,则可分为 CS 和 SA。JA = JC + CAJB 是指从结到电路板的热阻,它对结到电路板的热通路进行了量化。通常 JB 的测量位置在电路

3、板上靠近封装处。JB 包括来自两个方面的热阻:从 IC 的结到封装底部参考点的热阻,以及贯穿封装底部的电路板的热阻。以上三个热阻的对比图:热特性 和 之定义类似,但不同之处是 是指在大部分的热量传递的状况下,而 是指全部的热量传递。在实际的电子系统散热时,热会由封装的上下甚至周围传出,而不一定会由单一方向传递,因此 之定义比较符合实际系统的量测状况。JB 是结到电路板的热特性参数,单位是C/W。热特性参数与热阻是不同的。与热阻 JB 测量中的直接单通路不同,JB 测量的元件功率通量是基于多条热通路的。由于这些 JB 的热通路中包括封装顶部的热对流,因此更加便于用户的应用。JT 是衡量结温和封装

4、顶部温度之间的温度变化的特征参数。当封装顶部温度和功耗已知时,JT 有助于估算结温。结论-JA 是非常糟糕的,计算仅用于理想的 PCB 理想的贴装,理想的环境。-JC 是非常糟糕的,只有那种特别大的封装才有意义 TO220,因为直接传导占据最主要的比例。-JL, -JB, -JT, 不同的模型:在正确使用的时候,是一个非常好的模型参考资料:IC 封装热阻的定义与量测技术AP4083IC 封装的热特性(MAXIM)AP3500通过测量有源元件的管芯温度监控电子系统的热耗散(MAXIM)标准系列:JESD51: Methodology for the Thermal Measurement of

5、Component Packages (Single Semiconductor Device)JESD51-1: Integrated Circuit Thermal Measurement MethodElectrical Test Method (Single Semiconductor Device)JESD51-2: Integrated Circuit Thermal Test Method Environmental ConditionsNatural Convection (Still Air)JESD51-3: Low Effective Thermal Conductivi

6、ty Test Board for Leaded Surface Mount PackagesJESD51-4: Thermal Test Chip Guideline (Wire Bond Type Chip)JESD51-5: Extension of Thermal Test Board Standards for Packages with Direct Thermal Attachment MechanismsJESD51-6: Integrated Circuit Thermal Test Method Environmental ConditionsForced Convecti

7、on (Moving Air)JESD51-7: High Effective Thermal Conductivity Test Board for Leaded Surface Mount PackagesJESD51-8: Integrated Circuit Thermal Test Method Environmental ConditionsJunction-to-BoardJESD51-9: Test Boards for Area Array Surface Mount Package Thermal MeasurementsJESD51-10: Test Boards for Through-Hole Perimeter Leaded Package Thermal Measurements.JEDEC51-12: Guidelines for Reporting and Using Electronic Package Thermal Information.

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