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1、本科毕业论文本科毕业论文(毕业设计)题题 目：基于目：基于 MarchMarch 算法的内存异常检测分析算法的内存异常检测分析算法实现算法实现姓 名：学 院：软件学院系：软件工程专 业：软件工程年 级：学 号：指导教师： 职称：年 月基于 March 算法的内存异常分析算法实现I摘摘 要要在当今工业，由于生产技术和产品设计提高等的原因，每个晶体管的制造成本呈持续下降的趋势，而每个晶体管的测试成本却基本保持不变。因而测试成本在快速追上制造成本，并且将很快超过其制造成本。原因很简单，因为先进的测试设备的价格非常昂贵使得测试成本居高不下。因此，对测试方法和测试算法的改进就成了重中之重。本文从研究系统
2、芯片可测试性设计理论出发，从对可测试性设计的内建自测试方法的研究中找寻对内存测试方法的有益论点。然后，分析存储器和存储单元的故障类型，思考他们的特点，进而比较各种当前较常用的算法，详细分析 March 算法的特性，探寻对 March 算法的改进。在文章的下半部份以便于学者及研究人员对 March 算法的研究和改进为目标，分析设计了一个以 March 算法为基础的内存检测系统，并对系统的重点和难点进行了详细分析。本文包括了对内存故障模型和内存测试算法的分析，并主要对所设计的 Windows 和DOS 版内存检测系统进行介绍，分别列出了其详细设计，和运行效果，并对设计实现中的难点进行了分析，解决。
3、关键词：关键词：march 算法 存储器 内存异常检测 BIST基于 March 算法的内存异常分析算法实现IIAbstractIn todays industry, due to production of technology and improve of product design, and other reasons, the manufacturing cost of transistor continues down, but the basic cost of the test of transistor remains unchanged. Thus the tests co
4、st is rapidly catching up with the manufacturing cost, and will exceed its manufacturing costs. The reason is very simple, because of the high price of advanced test equipment makes the cost high. Therefore, the test methods and test algorithm has become the top priority of improving.This article st
5、art from can be tested on system-on-chip design theory, from the design to test the built-in self-testing methods in the study of memory testing methods to find a useful argument. Then, memory and storage unit of the fault type, thinking their characteristics and then compare the more commonly used
6、method, detailed analysis of the characteristics of March algorithm, to explore the March algorithm improvements. In the article, in the second half to scholars and researchers in March to study and improve the algorithm as the goal, the design of a March algorithm-based detection system memory and
7、system of priorities and carried out a detailed analysis of difficult.In this paper, including the fault of memory and memory test model algorithm analysis and design of the main Windows and DOS version of memory test system, a breakdown of its detailed design and operational effectiveness, and anal
8、yse the difficulties in achieving, to resolve.Keywords: March Algorithm,Memory, Memory Anomaly Detection,BIST基于 March 算法的内存异常分析算法实现III目目 录录引 言1第一章 存储器测试的发展.21.1 存储器测试发展动态.21.2 BIST 的测试方法 4第二章 存储器的故障模型.82.1 存储器故障分类 .82.2 存储单元的简化功能故障92.3 存储器故障诊断算法分析102.3.1 Checkerboard 算法（棋盘法） 102.3.2 Gallop 算法（奔跳法）.1
9、02.3.3 March 算法（进行法）.112.3.4 基于棋盘算法的改进.112.4 MARCH 算法详细叙述14第三章 内存检测系统设计.183.1 系统简析.183.2 Windows 版内存检测系统.193.2.1 系统环境193.2.2 模块划分193.2.3 模块数据流图.213.2.4 系统详细设计.213.3 DOS 版内存检测系统 .293.3.1 系统环境293.3.2 模块划分303.3.3 模块数据流图.313.3.4 系统详细设计.32第四章 系统实现464.1 DOS 版重点难点分析 .464.2 系统运行效果.49基于 March 算法的内存异常分析算法实现IV
10、第五章 结论.52致谢语53参考文献54基于 March 算法的内存异常分析算法实现VContentsIntroduction1Chapter 1 Developments of Memory Testing21.1 Developments of Memory Testing21.2 Testing Methods of BIST4Chapter 2 the Fault mode of the memory82.1 the kinds of Fault mode of the memory82.2 Simplified fault of storage unit 92.3 The analy
11、sis of memory testing algorithm102.3.1 Checkerboard algorithm（Chessboard）102.3.2 Gallop algorithm.102.3.3 March algorithm .112.3.4 The Improve Base on the Chessboard 112.4 the detail of MARCH algorithm.14Chapter 3 System Design of Memory Test183.1 Analysis System.183.2 Memory Test Base on Windows.19
12、3.2.1 Environment.193.2.2 Modules193.2.3 Data Flow Diagram 213.2.4 Detailed design 213.3 Memory Test Base on DOS .293.3.1 Environment.293.3.2 Modules303.3.3 Data Flow Diagram 313.3.4 Detailed design 32Chapter 4 Implementation of System464.1 Analysis of key and difficult Base on DOS.464.2 Running Int
13、erface.49基于 March 算法的内存异常分析算法实现VIChapter 5 Conclusion52Thanks.53References54基于 March 算法的内存异常分析算法实现1引引 言言随着深亚微米 VLSI 技术的发展，大量的不同厂家的电路设计或核集成到一个芯片上。存储器密度的增长使存储器的测试面临着更大的挑战。RAM 存储器是最难测试的电路，因为存储器的测试通常需要大量的测试模式来激活存储器并将存储器的单元内容读出来与标准值进行比较。在可以接受的测试费用和测试时间的限制下，准确的故障模型和有效的测试算法是至关重要的。而为了保证测试时间和故障覆盖率，测试的好坏大大的依赖
14、于所选的功能故障模型。随着集成电路设计方法与工艺技术的不断进步，集成电路的可测性己经成为提高产品可靠性和成品率的一个不可忽视的因素。在近的二十多年中，尤其是最近十年来，电路测试方法的研究日益受到重视，测试问题己经成为了集成电路产品开发的流程中关键问题之一。伴随着电子设备功能和结构日益复杂， “暗箱”方法越来越难以满足需求，因此要求测试人员以更积极的方式介入测试过程，不仅要承担传统测试中激励生成者和响应分析者的角色，而且要作为整个测试过程的主导者和设计者。通过改善被测试对象的设计来提高被测对象的可测试性，从而能更容易找到测试码，并使测试和测试码的生成问题大大简化，这就是可测性设计(DFT)1。第
15、一章 存储器测试的发展2第一章第一章 存储器测试的发展存储器测试的发展1.11.1 存储器测试发展动态存储器测试发展动态自集成电路诞生之日起，设计方法、制造方法和测试方法始终是集成电路发展不可分割的 3 个组成部分。但在集成电路发展的早期，人们更多的注意力集中在设计和制造领域，而且早期的集成电路逻辑设计与工艺技术相对简单，因此测试方法学的研究曾一度处于不被重视的地位，在当时人们认为可测性设计是可有可无的，是否采用完全由成本预算来决定。可测性设计是在 1970 年 Cherry Hill 测试会议上提出的，然而可测性设计的必要性直至上个世纪 70 年代中期随着集成电路设计的发展才逐渐被人们认识。
16、随后关于可测性设计设计方面的论文和研究成果越来越多，目前在一些重要的国际会议上，如国际测试会议(ITC),国际设计自动化会议(DAC)等都有专门的分组会。此外，一些可测性设计的规则已经成为集成电路设计的工业标准，如 IEEE1149. 1 标准等。可测性设计己经成为集成电路设计领域一个极其重要的组成部分1。在过去的 20 年乃至更长的时间里，可测性设计方法的研究主要集中在如何协调测试性能与其所带来的额外代价的折衷关系上。而在整个可测性设计方法学的发展道路上，对于额外代价的考虑也经历了几个不同的阶段，各个阶段都有其不同的研究侧重点，由此也出现了相应的各类可测性设计方法。在集成电路发展的早期，面积是所有产品设计的关键因素，同时由于可测性设计方法始终是集成电路设计方法的一种补充，因此在那一时期，面积代价成为了研究可测性设计方法学的核心，增加尽可能少的额外面积也就成为了选择可测性设计方法的主导因素。在此期间出现的可测性设计方法多以非扫描方法为主，所 i 胃非扫描方法主要是区
