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1、第二章 偏光显微镜下晶体的光学性质,2.1 单偏光镜下晶体的光学性质 2.2 正交偏光镜下晶体的光学性质 2.3 锥光镜下晶体的光学性质,偏光显微镜的构造,偏光显微镜是研究晶体光学性质的主要工具 熟练的掌握偏光显微镜下研究晶体的方法，已成为从事科学技术研究人员的基本功。,（1）机械部分 包括镜座、镜臂、镜筒、裁物台、粗动螺旋和微动螺旋。 （2）成像部分 包括物镜、目镜 （3）照明系统 光源，锁光圈 （4）偏光系统 （5）聚敛系统 （6）附件,研究晶体光学性质的主要工具 偏光显微镜,主要附件： 机械台，物台微尺尺寸、粒度测量 电子分析仪矿物含量等 补色器：石膏试板、云母试板、石英楔轴名、光性正负
2、、干涉色级序,光学显微镜的三个主要参数： （1）分辨率 所谓分辨率是指能分辨物体细小特征的本领，即用能分开两点(或两平行线)之间的最短距离。,d-分辨率 -用光波长 NA-数值孔径 n-介质折射率 -光孔角半角,物镜：是决定显微镜成像性能的重要因素，其价值约占整个显微镜的1/21/4。,数值孔径是物镜重要参数NA大分辨率高 NA大焦点深度小,（2）放大倍数 总放大倍数(M0)=物镜放达倍率(M1) 目镜放大倍率(M2) 通常，放大倍数愈高的物镜 NA愈大500 NA M0 Ne （吸收性公式）,（2）二轴晶的颜色二轴晶有三个主要颜色，分别在Ng、Nm、Np方 向上。光轴面（Ng、 Np）上，多
3、色性最明显；垂直光轴的切面无多色性（Nm）；垂直Bxa的切面上，多色性介于前两者之间（Nm、Np或Nm、Ng）。黑云母的多色性公式： Ng=深褐色，Nm=深褐色， Np=黄色（多色性公式） Ng Nm Np （吸收性公式）,角闪石的多色性公式： Ng=深绿色，Nm=绿色， Np=黄绿色（多色性公式） Ng Nm Np （吸收性公式）,（3）影响多色性的因素薄片越厚多色性越明显； 切面方向不同则多色性不同。平行光轴(一轴晶)或平行光轴面(二轴晶)切片 的多色性最明显。垂直光轴切片不具多色性,四 糙面、贝克线、突起,1 贝克线在两个折射率不同的介质的接触处产生比较黑暗的边缘，在边缘附近有一条比较明
4、亮的细线，称为贝克线。升降镜筒时，贝壳线发生移动。,贝克线产生的原因如下：相邻两介质倾斜接触，折射率大的介质盖于折射率小的介质之上。无论接触面的倾斜程度如何，平行光射到界面上时，光线由光疏介质进入光密介质，折射线折向折射率较大的一方而使这一方光线增多亮度加强。利用贝克线移动规律，可以判断相邻介质折光率相对大小。,相邻两介质倾斜接触，折射率小的介质盖于折射率大的介质之上。当接触面较缓时，平行光射到界面上由光密介质进入光疏介质，折射线远离法线而折向折射率较大的一方使这一方的光线增多亮度加强。 相邻两介质倾斜接触，折射率小的介质盖于折射率大的介质之上。当接触面较陡时，平行光射到界面上发生全反射而使光
5、线折向折射率较大的一方使这一方的光线增多亮度加强。,贝克线的移动规律 提升镜筒时，贝克线向折射率大的一方移动；下降镜筒时，贝克线向折射率低的方向移动。,观察贝克线时，应适当缩小光圈，降低视域的亮度，贝克线才能清楚。,Nn,Nn,贝克线的应用 比较相邻介质折射率的大小 油浸法测定折射率值,(一)制备油浸薄片(1)将欲测矿物打碎过筛，使颗粒粒径为0.03-0.05mm。(2)取少量矿物(约10、20颗)碎屑置于载破片中央，使其均匀散开。(3)在矿粉上加盖玻片，要放平，不宜过大，一般只需普通盖玻片的14即可。(4)用滴管吸浸油少许(12滴)在盖玻璃边缘滴下，依靠毛细管作用，浸油慢慢浸满盖破片和载玻片
6、之间空隙，并注意使气泡全部排除。,(二)折射率对比将欲测矿物与浸油交线移于视域中心，适当缩小光圈，即可见贝克线。 视矿物与浸油折射率的大小，可选择换油间隔。 依次换油，当二者折射率值相差很小时，其突起低，边缘细。 若二者折射率相差0.015-0.010时，开始出现色带，至二者相差0.005时，则出现橙、黄和蓝色色带。提升镜筒时，根据色带的移动规律可确定矿物碎屑折射率。,在己磨制好的薄片试样上总有些细微的凸凹不平，但这些不平的情况一般肉眼很难观察。在制备薄片中要粘胶，使试片表面上覆盖有树胶。由于树胶与晶片折射率不同，在显微镜下，试片的凸凹不平会清楚地呈现出来，给入一种粗糙的感觉，这种现象叫糙面,
7、2 糙面在单偏光镜下观察晶体的表面，有些比较光滑，另一些则有些粗糙。,糙面产生的原因是：有些晶体的表面有一些显微的凹凸不平，平行光在这样的表面上发生折射和反射时使光线聚集或发散而使得晶体表面的明暗程度不同，给视觉以粗糙的感觉。,不同晶体，即便薄片试样的光滑程度一样，但是使人感觉到的粗糙程度却不同，有的糙面看起来显著，有的看起来比较平滑。这种粗糙度与晶体试片和树胶之间的折射率差别有关，差别越大粗糙度越大。若试片的折射率大于树胶的折射率，则试片上凸出处为明亮色，低凹处为灰暗色。若试片的折射率小于树胶的折射率，则试片上原来凸出处为灰暗色，低凹处为明亮。,3 突起在单偏光镜下观察晶体时，有些晶体显得高，另一些晶体显得低，这种现象称为突起。 突起与糙面不同糙面是晶片表面原有的高低不平，突起则是一种假象。同样，突起与晶体和树胶的折射率之差有关。折射率之差越大突起越显著。 折射率大于树胶的为正突起，折射率小于树胶的为负突起。在观察时区分突起需借助贝克线：提升镜筒时，贝克线向晶体移动则为正突起，向树胶移动则为负突起。,
