Sweet2008.12.20ICT程式debug和优化内容内容u程式debuguICT盲点u程式优化Ø 电阻 Ø 电容 Ø 电感Ø 降低误判率Ø 减少测试的时间Ø 二极管 Ø 三极管 Ø MOS管Ø 光耦 Ø 晶闸管 Ø 变压器l程式 debug步骤1.治具的安装 （file，电路板名称，路径，备注）2.测试参数的设定3.短路群的学习 （机种有差异，治具共用时重新学习）4.零件的debug5.IC保护二极体的学习 6.复制多连片 （offset值）7.IC空焊学习 （SMT）uu程式程式DebugDebugl 注意并联后的电阻值要变化 l 大电阻或是并联C时用模式2（快速）测试比较稳定， 必 要时可加适当的延时l 并联D、IC、Q时（1）用模式1（低一档电流源）（2）其他模式，交换高低点也可l 10Ω以下的用跳线模式，测试不稳定的用电阻模式l 隔离点的选择 ：隔离电阻小于等于被测电阻程式程式debug—debug—电阻电阻l 注意并联后的电容值要变化 l 单个电容测试模式如下： pf级的小电容采用高频信号模式 2，3nf级的大电容采用低频信号模式 0，13uf以上的大电容采用直流测试模式 4，8l 并联R或L时，采用AC交流相位模式5、6、7, f 越高越好。
（1）根据Zl=2πfL，故L一定时，若f越高，则Zl越大，则对C影响越小 （2）根据Zc=1/2πfC，故C一定时，若f越高，则Zc越小，则R的影响越小l 电容容值越高，AC电压源频率越低，模式越小 程式程式debug——debug——电容电容程式程式debug——debug——电感电感l电感，保险丝，跳线，变压器（T80X的Pin7，Pin8除外 ）（1）采用JUMP测试 （2）测试不稳定改用：型态R 模式0l 普通二极体压降0.7V~0.9V，首选模式“1”1.双向二极管（同向并联）（1） 正向0.7V(硅) ，0.4V（锗）（2） 反向 1.2~1.5V （防止极反）程式程式debug——debug——二极管二极管缺件盲点2.双向二极管（异向并联）（1） 正向0.7V （2） 反向 0.7V 防止极反 防止缺件3.桥式整流分别测试12，13，24，34 间的二极体特性， 压降为0.7V注：并联电容时要加延时，防止极反三步测试：（1）BC间PN结特性：0.7V（2）BE间PN结特性：0.7V（3）隔离测试：提供3.5V电压源，降压0.2V~0.4V程式的详调程式的详调————三极管三极管（模式4） （模式3）程式程式debug——Qdebug——Q模式的选择模式的选择程式程式debug——MOSdebug——MOS管管三步测试：（1）SD间二极管特性：0.7vl（2）GS间的电容特性？nf（具体容值测量）（3）隔离G点，测SD间的饱和压降0.2V （区分N型和P型）l 注：增加电容特性是防止G脚未入的情况。
Q8011. N型（1）SD（1，7）间的二极体特性（2）GS（2，1）间的电容特性（3）隔G，测DS间的饱和压降（模式4）2. P型（1）DS（5，3）间的二极体特性（2）GS（4，3）间的电容特性（3）隔G，测SD间的饱和压降（模式3）IC602IC602测试步骤：（1）1，2端的正向导通电压1.2V，型态D（2）隔离1，2，外加激励源7.5V，3，4脚的正向饱和压降0.4V，型态PC程式程式debug——debug——光耦合组件光耦合组件l 工作原理程式程式debug——debug——晶闸管晶闸管l l IC702IC702测试步骤测试步骤： （1）R，K间的二极体特性 （2）隔R，测AK间电流，激励源5V，饱和电流12mA，型态QS 程式程式debug——debug——晶闸管晶闸管l 测开路部分关掉，短路不良可以检测l T801和T802的7，8脚阻抗大，采用R模式，标准值与实际 值一般情况为400Ω，量不同机种而定程式程式debug——debug——变压器变压器 l 缺件盲点：可以关掉不测（1）大电阻 ：与小电阻并联与大电容并联 （2）电容 ＜20pF不可测与小电阻，跳线，保险丝并联与IC并联 （3）二极管 与三极管并联，与小电阻，跳线，保险丝并联uu常见盲点常见盲点（4）三极管 ：与三极管并联，三个脚同时并联不可测 （5）跳线：地与地之间 （6）IC701【注意：现有光耦器件命名为IC701，不列作盲点】l极性盲点电解电容，极性不可测，但要测试其值大小1.测试小电阻时，可能因测试针的阻抗增大，影响量测 测试值的偏移，可适当放宽上限与下限范围2.对于电感，小于10Ω的电阻采用跳线模式，测试不稳 定的采用电阻模式，上限不能超过25Ω3.大电容重测次数设定为3次4.与电容并联时加延时，D放电重测5.选择正确的debug模式程式优化程式优化————降低误判率降低误判率l所有MOS管要加测一步GS间电容特性测试方法和Q809一样，测试容值有变化，不一定是 1.5nf，具体容值根据SA确定。
程式优化程式优化————减少测试时间减少测试时间l（2）多个电容并联的时候，只测一步l (1)减少放电重测D，采用合适的模式和形态来测试l（3）所有测开路的程式关掉，短路不良可以检测CN701， CN801，T602，T801，L601 …… 。