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1、846mm 平板对接焊缝超声检测步骤( 个人观点仅供实习参考 )一、选择探头 :测量母材厚度 ,焊缝宽度 ,坡口型式 ,选定探头 K 值。可用公式计算确定 :K(a+b+L0)/T 二、调校仪器 :按说明书进行 ,仪器调零点 (测量入射点 ,测三次,取平均值 );零点调校完毕,测量探头的实际K值(测三次 )；接着用 CSK-A距离波幅曲线 注意:1. 绘第一点 (深 10mm) 后, 要记下仪器上增益的读数 ；2. 距离波幅曲线必须覆盖最大检测范围即测绘点数为比2 倍母材厚度多一点 , 且不少于 4 点( 孔深 40)。“距离波幅”曲线绘制完毕, 调整“范围”或“声程” , 使荧光屏水平刻度右
2、端的最大读数 (即“范围”或“声程” )变为比“ 2 倍母材厚度”大 10 左右, 最好是将一、二次波的终点调于刻度线上,以分辨下部上部边缘的反射。 如果母材厚度在1446mm最好是将仪器水平刻度第4 格(满屏为 5 格的仪器为第2 格)处的数字显示为一个板厚，第 8 格(满屏为 5 格的仪器为第 4 格) 处的数字显示为二个板厚。调节手动“增 益”, 使评定线“ 2 倍母材厚度”处位于“荧光屏”高度的20% 处, 即为调好“检测灵敏度” ,记下“仪器读数”并将此状态下的距离波幅曲线绘下来。三、探测： 1. 粗探用“检测灵敏度”进行粗探 , 按标准规定的几种方式进行扫查。如果有反射波(高于满刻
3、度 100% ，用“自动增益”将波降至基准波高), 前后左右益转动探头，找到最高反射波位置后：(1) 看其 dB值是否达到相应距离的定量线以上,( 在区以下先记号 , 待后处理 ) 。(2) 如果在定量线( 含定量线 ) 以上则读出其水平距离, 测量相应位置是否在焊缝上,( 注意区分咬边或加强高的反射), 如果在焊缝上先做好记号(可用纸片贴在焊 缝上) , 如果不在焊缝上或者深度也不在焊缝里可不记录。(3) 恢复为“检测灵敏度”后再继续往下扫查。如果再遇到反射波用前面方法处理，直至扫完两侧。 (4) 提高 6dB(比评定线灵敏度高6dB)作斜平行扫查。找完所有缺陷。2精探把粗探出的缺陷从左至右
4、逐个进行精探：(1) 在缺陷两侧进行测定，探头要做前后左右环绕转角扫查，一次波、二次及两侧 波对照取位于最高区域（离SL 最大即缺陷当量最大）位置进行测定。(2) 找到缺陷波最高反射位置且降至基准波高后探头不动记下:dB 值、深度 H、测量记下离左端的距离S3及偏离焊缝中心q 四个数据后，再进行测长。 (3) 测长: 测长方法按 JB/T4730.3 。先调节“增益”使定量线与缺陷波交点位于屏高位于便于观察的适当位置 （约 60% 左右）左右平移动探头看有几个波峰，只有一个时用 6dB 法，有二个以上时用端点6dB 法。先往试块左端移得S1，再往右 端移得 S2。测长时探头应平移， （可稍前后
5、移动）不得转角。(4) 测完一个缺陷后，恢复灵敏度再测下一个。测完后如有时间检查一遍。四、校验仪器全部检测完后用CSK- A试块校验 3 个点。 五、整理数据，填发报告。钢板检测实作步骤（以中科数字机为例）( 个人观点仅供实习参考) 1. 选择探头 : 根据板厚选择合适的探头(形式、频率、晶片尺寸) 2. 调校“零点” : 按说明书进行 ,(用 CSK-A 试块 ,厚度 25mm 调校)打开参数 ,输入相应参数后进入自动调校( “起始距离”输入25, 终止距离输入 125) 。3.( 调节零点后 ) 调节检测灵敏度 : 根据板厚确定调节方法(1)检测厚度不大于20mm 的钢板时， 采用工件无缺
6、陷完好部位调节,将第一次底波高度调整到满刻度的50%，再提高即 +10dB作为基准灵敏度。(2)检测厚度大于20mm的钢板时，采用的CB 标准试块应符合图2和表 2 的规定的与被检钢板厚度相应的试块。找到CB 试块 5平底孔第一次反射波最高位置后调整到满刻度的50% ，然后并进行耦合补偿作为基准灵敏度。注: 调节灵敏度后 , 不允许再增益。4. 调整“范围” , 使之符合不少于5 个底波的要求。 ( 即将范围的数值调为:5 倍板厚的数值 ) 5. 粗探 : 按规定进行扫查 , 找出有缺陷的位置, 并作出标记。（先找出缺陷个数）6. 精探 : 按规定的方法对每个缺陷进行边界测定, 确定每个缺陷的
7、位置、形状及尺寸。 (可先找出 X、Y再测定其他尺寸 ) 7. 校验仪器 : 全部检测完缺陷后校验仪器8. 整理数据，填发报告。锻 件 探 伤 步 骤（中科数字机 , 个人观点仅供实习参考 )方法 1 利用工件大平底调节灵敏度法1.1 探头选择单晶直探头 , 频率 :2.5MHz, 晶片14 或20 晶片的选择原则是既满足 Xf3N 又有足够的灵敏度。一般XB（锻件检测方向上的厚度）在 65200mm 的工件可用 14；XB200mm 的工件可用 20 1.2 计算B2的 dB值, 根据工件探测厚度XB用公式 B2 =20lg2 XB/( Df2)计算( 式中=C/f 、 Df=2 检测灵敏度
8、应为最大检测距离处的2 平底孔当量直径, 故应取 2) 1.3 调校“零点”: 按说明书进行 ,( 用 CSK- A试块, 厚度 25mm 调校)打开参数 ,输入相应参数后进入自动调校(“起始距离” 输入 25, 终止距离输入 125)。然后调整“范围”， “范围”满足 B1不超过荧光屏满刻度的80% 的要求。1.4 调节检测灵敏度 : 探头置于工件无缺陷适当位置( 不宜靠近边缘 , 以免产生边界效应）调节“增益”使B1反射波达到基准波高，然后调节“增益”提高B2dB即为检测灵敏度调好。记下仪器衰减器的读数N 2。1.5 检测： 100%扫查1.5.1 发现缺陷后 , 前后左右移动探头 , 配
9、合使用“自动增益”, 使缺陷最高反射波高达到基准波高后记下增益Nf和缺陷深度 H。 ( 探头暂不动 ) 1.5.2 测量记录 X、Y值(X 探头中心离 Y轴的距离 ;Y探头中心离 X轴的距离 ) 1.5.3 恢复检测灵敏度继续往下探测，直至检出全部缺陷。（如果有 3 以上(含3) 密集性缺陷，测量缺陷密集区的面积。）1.6 校验仪器 : 全部检测完缺陷后校验仪器1.7 当量计算探测和记录完所有缺陷后，对每个缺陷逐个进行计算：1.7.1 先求出该缺陷的dB值：f =N2-Nf )1.7.2 该缺陷的平底孔当量直径：Df=(2H/XB)10f/40 ( 注: 因为用大平底调节灵敏度所以这里：X 2
10、=XB) 1.7.3 将该缺陷的当量换算为4 基准的当量：（用4+ dB表示）缺陷当量 =4+40lg(Df/4)= 4+ dB 1.8 整理数据，填发报告。用大平底调节灵敏度（探头为2.5P20Z，工件规格 1100600mm） 1计算大平底与2 的 dB差：=f/C=2.5/5.9=2.36mm XB=1050mm Xf=工件长度 /2+ 工件长度 5%=1100/2+110010% 600mm =20lgPB/Pf=20lg2 Xf2/( D f2X B) =20lg2 2.36 6002/( 221100)=41dB 2仪器调节： 49+41=90 dB 即声程 600mm 处达到 2
11、 灵敏度时仪器计数(N 2) 应调节为 90dB （或者说仪器计数应调节为90 dB 时的灵敏度为 2/600mm ）) 缺陷当量计算声程 600mm 处达到 2 灵敏度时仪器计数(N2) 应调节为 90dB 即: Xj=XB=600mm Dj=2mm N2=90dB 1 号缺陷 : Nf=68 dB Xf=W=H=261mm f = N 2- Nf=90-68=22dB 1 号缺陷平底孔当量直径：Df=(DjXf/Xj)10/40=(DjH/XB)10f/40=(2 261/600) 1022/40=3.1 mm 换算为 4 基准的当量： （用 4+ dB表示）缺陷当量 = 4+40lg(Df/4) = 4+40lg(3.1/4)4-4dB 2 号缺陷 : Nf=77 dB Xf=W=H=363mm f = N 2- Nf=90-77=13dB 2 号缺陷平底孔当量直径：Df=(DjXf/Xj)10/40=(DjH/XB)10f/40=(2 363/600) 1013/40=2.6 mm 换算为 4 基准的当量： （用 4+ dB表示）缺陷当量 = 4+40lg(Df/4) = 4+40lg(2.6/4)4-7dB
