(新)工程光学实验

上传人:wt****50 文档编号:49941783 上传时间:2018-08-05 格式:PPT 页数:79 大小:713KB
返回 下载 相关 举报
(新)工程光学实验_第1页
第1页 / 共79页
(新)工程光学实验_第2页
第2页 / 共79页
(新)工程光学实验_第3页
第3页 / 共79页
(新)工程光学实验_第4页
第4页 / 共79页
(新)工程光学实验_第5页
第5页 / 共79页
点击查看更多>>
资源描述

《(新)工程光学实验》由会员分享,可在线阅读,更多相关《(新)工程光学实验(79页珍藏版)》请在金锄头文库上搜索。

1、工程光学实验主讲教师:李晶闽南理工学院 实践教学中心 目 录 光学实验预备知识 2实验一 用自准法测薄凸透镜焦距f 5实验二 用位移法测薄凸透镜焦距f 7实验三 目镜焦距fe的测量 9实验四 自组显微镜 11实验五 自组透射式幻灯机(投影系统) 13实验六 测节点位置及透镜组焦距 15实验七 菲涅尔双棱镜干涉 18实验八 偏振光分析 21光学实验预备知识返回光学实验是普通物理实验的一个重要部分。这里先介绍光学实验中经常用到的 知识和调节技术。初学者在做实验以前应认真阅读这些内容,并且在实验中遵 守有关规则和灵活运用有关知识。一、光学元件和仪器的维护透镜、棱镜等光学元件,大多数是用光学玻璃制成的

2、。它们的光学表面都是经 过仔细的研磨和抛光,有些还镀有一层或多层薄膜。对这些元件或其材料的光 学性能(例如折射率、反射率、透射率等)都有一定的要求,而它们的机械性 能和化学性能可能很差,若使用和维护不当,则会降低光学性能甚至损坏报废 。造成损坏的常见原因有:摔坏、磨损、污损、发霉、腐蚀等。为了安全使用 光学元件和仪器,必须遵守以下规则:必须在了解仪器的操作和使用方法后方可使用。轻拿轻放,勿使仪器或光学元件受到冲击或震动,特别要防止摔落。不使用的 光学元件应随时装入专用盒内并放入平台的箱子内,最好放入干燥器中保存。切忌用手接触元件的光学表面。如必需用手拿光学元件时,只能接触其磨沙面 ,如透镜的边

3、缘、棱镜的上下底面等(如预备图1)。 光学表面上如有灰尘,用实验室专备的干燥脱脂棉轻轻拭去或 用橡皮球吹掉。光学表面上若有轻微的污痕或指印,用清洁的镜头纸轻轻拂去 ,但不要加压擦拭,更不准用手帕、普通纸片、衣服等擦拭。若表面有较严重的污 痕或指印,应由实验室人员用丙酮或酒精清洗。所有镀膜面均 不能接触或擦拭。防止唾液或其溶液溅落在光学表面上。调整光学仪器时,要耐心细致,一边观察一边调整,动作要轻 、慢,严禁盲目及粗鲁操作。仪器用毕后应放回箱内或加罩,防止灰尘沾污。二、消视差光学实验中经常要测量像的位置和大小,经验告诉我们,要测 准物体的大小,必须将量度标尺与被测物体紧贴在一起。如果 标尺远离被

4、测物体,读数将随眼睛的位置不同而有所改变,难 以测准,如预备图2所示。可是在光学实验中被测物往往是一个看得见摸不着的像,怎样才能确定标尺和待测像是紧贴在一 起的呢?利用“视差”现象可以帮助我们解 决这个问题。为了认识“视差”现象,读者可做一简单实验:双手各伸出一只手指,并使一指在前,一指在后相隔一定距离,且两指平行。 用一只眼睛观察,当左右(或上下)晃动眼睛时(眼睛移动方向应与 被观察手指垂直),就会发现两指间有相对移动,这种现象称为“视差 ”。而且还会看到离眼近者,其移动方向与眼睛移动方向相反;离眼远者则与眼睛移动方向相同。若将两指紧贴在一起,则无上述现象,即 无“视差”。由此可以利用视差现

5、象来判断测像与标尺是否紧贴。若待测像和标尺间有视差,说明它们没有紧贴在一起,则应该稍稍调节像 或标尺位置,并同时微微晃动眼睛观察,直到它们之间无视差后方可 进行测量。这一调节步骤,我们常称之为“消视差”。在光学实验中,“ 消视差”常常是测量前必不可少的操作步骤。三、共轴调节光学实验中经常要用一个或多个透镜成像。为了获得质量好的像,必须使各个 透镜的主光轴重合(即共轴)并使物体位于透镜的主光轴附近。此外透镜成像 公式中的物距、像距等都是沿主光轴计算长度的,为了测量准确,必须使透镜 的主光轴与带有刻度的标尺平行。为了达到上述要求的调节我们统称为共轴调 节。调节方法如下:1、粗调,将光源、物和透镜靠

6、拢,调节它们的取向和高低左右位置,凭眼睛观察,使它们的中心处在一条和标尺平行的直线上,使透镜的主光轴与标尺平 行,并且使物(或物屏)和成像平面(或像屏)与平台垂直。这一步因单凭眼 睛判断,调节效果与实验者的经验有关,故称为粗调。通常应再进行细调(要 求不高时可只进行粗调)。2、细调,这一步骤要靠其他仪器或成像规律来判断和调节。不同的装置可能有不同的具体调节方法。下面介绍物与单个凸透镜共轴的调节方法。使物体与单个凸透镜共轴实际上是指将物上的某一点调到主光轴上。要解决这 一问题,首先要知道如何判断物上的点是否在透镜的主光轴上。根据凸透镜成 像规律即可判断。如预备图3所示,当物AB与像屏之间的距离b

7、大于4f时,将 凸透镜沿光轴移到O1或O2位置都能在屏上成像,一次成大像A1B1,一次成 小像A2B2。物点A位于光轴上,则两次 像的A1和A2点都在光轴上而且重合。物点B不在光轴上,则两次像 的B1和B2一定都不在光轴上,而且不重合。但是,小像的B2点总是 比大像的B1点更接近光轴。由此可知,若要将B点调到凸透镜光轴上 ,只需记住像屏上小像的B2点位置(屏上贴有坐标纸供记录位置时作 参照物),调节透镜(或物)的高低左右,使B1向B2靠拢。这样反 复调节几次直到B1与B2重合,即说明B点已调到透镜的主光轴上了。若要调多个透镜共轴,则应先将物上B点调到一个凸透镜的主光轴上,然后,同样根据轴上物点

8、的像总在轴上的原理,逐个增加待调透 镜,调节它们使之逐个与第一个透镜共轴。实验一 用自准法测薄凸透镜 焦距f返回一、实验目的 掌握简单光路的分析和调整方法了解、掌握自准法测凸透镜焦距的原理及方法二、实验原理当发光点(物)处在凸透镜的焦平面时,它发出的光线通过透 镜后将成为一束平行光。若用与主光轴垂直的平面镜将此平行 光反射回去,反射光再次通过透镜后仍会聚于透镜的焦平面上 ,其会聚点将在发光点相对于光轴的对称位置上。三、实验仪器1、带有毛玻璃的白炽灯光源S2、品字形物屏P: SZ143、凸透镜L: f=190mm(f=150mm)4、二维调整架: SZ075、平面反射镜M二维调整架: SZ077

9、、通用底座: SZ048、二维底座: SZ029、通用底座: SZ0410、通用底座: SZ04 四、仪器实物图及原理图图一 五、实验步骤 1、把全部元件按图一的顺序摆放在平 台上,靠拢,调 至共轴。而后拉开 一定的距离。可调成如图一所示的距离 2、前后移动凸透镜L,使在物屏P上成 一清晰的品字形像。 3、调M的倾角,使P屏上的像与物重 合。 4、再前后微动透镜L,使P屏上的像既 清晰又与物同大小。 5、分别记下P屏和透镜L的位置a1、a2。 6、把P屏和透镜L都转180度,重复做前四 步。 7、再记下P和L的新位置b1、b2。 8、分别把f=150mm和f=190mm的透镜 各做一遍,并比较

10、实验值和真实值的差异, 并分析其原因。 9、老师可选择更多规格的透镜进行实验。 (选做) 六、数据处理 被测透镜焦距:f=(fa+fb)/2实验二 用位移法测薄凸透镜 焦距f返回一、实验目的了解、掌握位移法测凸透镜焦距的原理及方法二、实验原理对凸透镜而言,当物和像屏间的距离L大于4倍焦距时,在它们之间移动透镜,则在屏上会出现两次清晰的像,一个为放大的像,一个为缩 小的像。分别记下两次成像时透镜距物的距离O1、O2(e=|O1O2|) ,距屏的距离O1、O2 根据光线的可逆性原理,这两个位置是“对称 ”的。即 O1=O2,O2=O1则:Le= O1 O2O1O2O1=O2(Le)/而O1= LO

11、1L(Le)/(L+e)/2 把结果带入透镜的牛顿公 式1/s+1/s=1/f得到透镜的焦距为由此便可算得透镜的焦距,这个方法的优点 是,把焦距的测量归结为对于可以精确测定的量L和e的测量, 避免了在测量u和v时,由于估计透镜中心位置不准确所带来的误差。 三、实验仪器 带有毛玻璃的白炽灯光源S 2、品字形物屏P: SZ14 3、凸透镜L: f=190mm(f=150mm) 4、二维调整架: SZ07 5、白屏H: SZ13 6、通用底座: SZ04 7、二维底座: SZ02 8、通用底座: SZ04 9、通用底座: SZ04 四、仪器实物图及原理图(见图二) 五、实验步骤 把全部器件按图二的顺

12、序摆放在平台上,靠拢后目 测调至共轴,而后再使物屏P和白屏H之间的距离大 于4倍焦距。 沿标尺前后移动L,使品字形物在白屏H上成一清晰 的放大像,记下L的位置a1。 再沿标尺向后移动L,使物再在白屏H上成一缩小像 ,记下L的位置a2。 将P、L、H转180度,重复做前三步,又得到L的两 个位置b1、b2。 分别把f=150mm和f=190mm的透镜各做一遍, 并比较实验值和真实值的差异并分析其原因。 老师可选择更多规格的透镜进行实验。(选做) 六、数据处理 透镜焦距: f=(fa+fb)/2 图二实验三 目镜焦距fe的测量返回 一、实验目的 了解、掌握用测量物像放大率来求目镜 焦距fe的原理及

13、方法 二、实验原理 焦距的测量可以归结为测量焦点到光学 系统的某一指定点的距离。 测量焦距时,常用到牛顿公式: 。 若物空间和像空间的光学介质相同,则 。 线放大率:。 三、实验仪器1、带有毛玻璃的白炽灯光源S2、1/10mm分划板F3、二维调整架: SZ074、被测目镜Le(fe=14mm)5、可变口径二维架: SZ056、测微目镜L(去掉其物镜头的读数显微镜)7、读数显微镜架 : SZ388、三维底座: SZ019、一维底座: SZ0310、一维底座: SZ0311、通用底座: SZ04四、仪器实物图及原理图图三五、实验步骤把全部器件按图三的顺序摆放在平台上,靠拢后目测调至共轴 。在F、L

14、e、L的底座距离很小的情况下,前后移动Le,直至在 测微目镜L中看到清晰的1/10mm的刻线,并使之与测微目镜 中的标尺(mm刻线)无视差。测出1/10mm刻线的宽度,求出其放大倍率m1,并分别记下 L和Le的位置a1、b1。把测微目镜L向后移动3040mm,再慢慢向前移动Le,直 至在测微目镜L中又看到清晰且与毫米标尺刻线无视差的 1/10mm的刻线像。再测出像宽,求出m2,记下L和Le的位置a1、b2。六、数据处理 mx=(像宽/实宽)20 (20为测微目镜的放大倍数)像距改变量:s=(a1a2)+(b2b1)被测目镜焦距:fe=s/(m2m1)实验四 自组显微镜返回一、实验目的了解显微镜的基本原理和结构,并掌握其调节、使用和测量它 的放大率的一种方法。二、实验原理 物镜Lo的焦距fo很短,将F1放在它前面距离略大于fo的位 置,F1经Lo后成一放大实像F1,然后再用目镜Le作为放大 镜观察这个中间像F1,F1应成像在Le的第一焦点Fe之内, 经过目镜后在明视距离处成一放大的虚像F1。三、实验仪器1、带有毛玻璃的白炽灯光源S2、1/10mm分划板F13、二维调整架: SZ074、物镜Lo: fo=15mm5、二维调整架: SZ076、测微目镜Le(去掉其物镜头的读数显微镜)7、读数显微镜架 : SZ388、三维底座: SZ019、一维底座: SZ

展开阅读全文
相关资源
相关搜索

当前位置:首页 > 生活休闲 > 社会民生

电脑版 |金锄头文库版权所有
经营许可证:蜀ICP备13022795号 | 川公网安备 51140202000112号