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1、失效發生情況調查 電性測試 數據收集失 效 模 式 分 類外 觀 檢 查內部開路 半開 路內部擊穿 短路 半短路電 性 能 退 化重測合格電容器失效模式和機理分析引線脫焊或斷裂（一） 內部開路半開路電 性 能 測 試解 剖銀層脫落介質開路引線與電極接觸不良失效機理1.電極氧化 2.無焊錫 3.錫未熔化 4.擊穿引起電極和 引線絕緣1.銀層過薄 2.銀層附著 力不足1.壓片成型密度過 大 導致介質分層 2. 在機械應力作用 下電介質瞬時開路干 燥 處 理（二） 內部擊穿短路半短路短路 半短路 介質擊穿 解 剖電 性 能 測 試失效機理1.電介質中有針孔裂縫等疵點或缺陷 或存在有雜質導電粒子 2.
2、電介質在制造中的機械損傷如蹦邊 暗裂等 3. 在機械應力作用下電介質瞬時短路 4. 電介質的電化學擊穿 5. 電介質老化。1.在制造過程中兩電 極間有雜質 錫渣 2.在高濕度或低氣 壓環境下極間邊緣飛 弧干 燥 處 理（三） 電性能退化物理性退化化學性退化解 剖電性能測試失效機理1.電介質內部缺陷及介質老化或熱 分解 2.離子遷移 3.介質中的雜質和有害離子作用。1.水汽作用 2.表面污染 3. 引線和電極接觸電 阻增加。干燥處理引線短裂引線脫焊失效機理1. 引線氧化 2. 引線鍍錫層過薄 3. 引線沾有雜質或油質等臟物。 1.化學腐蝕 2.機械損傷 3.疲勞斷裂。 外觀識別(四) 引線脫焊短
3、裂（五）重測合格破壞檢查解剖溫度循環檢 漏特性量測失效模式分類量測瓷片之溫 度特性不合格1.內部開路 半開路 2.內部擊穿 短路 半短路 3.電性能退化合格合格不合格特性量測高溫老化 高 溫高濕存放溫度特性量測解剖量測內部瓷片 電性合格品不合格合格陶瓷電容器耐壓失效模式解析陶瓷電容器耐壓失效模式有以下三種典型模式第1 種模式電極邊緣瓷片貫穿(擊穿點在銀面邊緣位置)A.可能原因:1. 粉末及其配制問題2. 素地邊緣的致密性不佳陶瓷體銀電極B. 失效模式在制程中的具體表現1. 銀面邊緣位置針孔2. 銀面邊緣位置針孔同時此位置部份陶瓷炸裂。3. 裂痕（先針孔后裂痕素子表面有燒蝕碳化之小黑點裂痕為新痕
4、跡。C. 應對措施:信息及時反饋前段制程要求其改善提升素地整體耐壓水准第2 種模式瓷片延邊導通或瓷片邊緣破裂破損(擊穿點在素子側面)A.可能原因:1. 素地表面有污點如銀助焊劑油質焊錫渣等2. 涂料中有導電雜質3. 涂料中有氣泡4. 涂料致密性不佳5. 涂料包封層固化不充分B. 失效模式在制程中的具體表現1.跨弧2.崩邊3.側邊炸裂C. 應對措施:1.素子外觀（擴散側邊沾銀）管控2.助焊劑液面控管適中及瓷片浸入深度控管3.及時徹底清理錫槽中的錫渣等雜質4.涂料的絕緣品質証5.涂料包封及固化工序品質保証。第3 種模式電極內瓷片貫通(擊穿點在素子（銀面）中心及其周邊位置)。A.可能原因:1. 素地致密性極差2. 素地里面有裂痕氣泡導電雜質等B. 失效模式在制程中的具體表現1. 素子中心及其周邊位置針孔2. 素子中心及其周邊位置針孔。同時此位置部份陶瓷炸裂。3. 裂痕（先針孔后裂痕素子表面有燒蝕碳化之小黑點裂痕為新跡 。）C. 應對措施:1.素子外觀（擴散側邊沾銀）管控2.助焊劑液面控管適中及瓷片浸入深度控管3.及時徹底清理錫槽中的錫渣等雜質4.涂料的絕緣品質証5.涂料包封及固化工序品質保証。
