徕卡全站仪十大技术特点

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1、GeosystemsDate*Geosystems徕卡全站仪的十大技术特点一、机械轴系1、全滚动式精密柱形轴系2、摩擦制动,无限位微动与激光对中二、电子测角3、特有的绝对编码电子测角方式4、小巧精密的液态双轴补偿系统5、智能自主式目标自动识别与跟踪功能 三、电子测距6、超高频测距频率技术7、动态测距频率校正技术8、无棱镜相位法激光测距原理 四、软件系统9、高可靠实时操作系统RTOS10、UNICODE编码体系与MMI技术Date*Geosystems1、全滚动式精密柱形轴系徕卡全站仪的轴系传承世界王牌T2光学经纬仪的百年制造工艺,确保徕卡全站仪具有灵活而精密的垂直与水平转动轴系,令操作者“手感

2、”非凡!徕卡T2光学经纬仪半运动式圆柱形轴系的主要特点是将滚珠安置于轴套的锥形表面和轴的圆柱面、端面之间,滚珠和轴、轴套之间为点接触,旋转运动中为滚动摩擦,转动灵活轻便,在低温下不致发生咬死现象。新型的徕卡全站仪,垂直轴系的滚珠已发展为全身性的矩阵分布式结构,使轴系的准确度和运转的灵活性进一步加强。Date*Geosystems2、摩擦制动,无限位微动与激光对中 人性化的技术进步,使人、机之间的感觉更加友好。摩擦制动与无限位的微动驱动,让仪器操作者又少了一份约束。Date*Geosystems2、摩擦制动,无限位微动与激光对中续 全站仪有了激光对中装置,不但可以使仪器的整置工作方便而快捷,更可

3、贵的是免了您的低头弯腰。激光对点器由激光管、微型电路板、连接电缆及透镜组成。它安装在全站仪的垂直轴里,通过仪器底座将光点投在地面上。由于它的机械部分加工精细,其安装十分简单,直接插进垂直轴即可。当仪器高为1.5米时,它的精度为0.8mm。 Date*Geosystems3、独特的绝对编码电子测角方式 徕卡全站仪独特的静态条码式码盘测角技术,不但具有开机无需角度初始化等优点,并且测角精度可优于0.5“,堪称当今全站仪制造领域一绝技,令同行望尘莫及。目前,徕卡各系列的全站仪,无论测角精度高低,都采用该项测角技术,让全球用户分 享徕卡技术进步带来的好处。Date*Geosystems徕卡-绝对编码度

4、盘的先驱1984年,在徕卡高精度的全站仪采用动态绝对编码度盘。1990年代起,徕卡采用独特的静态绝对编码度盘。绝对编码度盘之优点:在仪器关闭或丢电以后,还能保持原来的定向角。 3、独特的绝对编码电子测角方式 续 普通编码度盘T2002动态测角原理Date*Geosystems徕卡全站仪采用类似数字水准条码标尺的单一轨道刻划编码度盘。度盘角度编码信息由一线性CCD阵列和一个8位的A/D转换器读出,为了确定其位置,一般需要捕获至少10条编码线信息。在实际角度测量过程中,单次测量包括大约60条编码线,因此通过取平均和内插的方法可以进一步提高角度的测量精度。线性CCD 阵列发光管徕卡条码编码度盘3、独

5、特的绝对编码电子测角方式 续 Date*Geosystems确定绝对编码度盘测角精度的要素:1、CCD阵列个数:1-4个(参见下图)2、偏心改正:使用本厂专用的角度计量仪器TPM对其全站仪度盘的残余偏心差进行确定(度盘偏心的幅度,度盘偏心的相位角)。3、独特的绝对编码电子测角方式 续 Date*Geosystems4、小巧精密的液态双轴补偿系统 液体补偿器:当仪器倾斜时,倾斜传感器液体形成的光楔导致光束的位移。位移的大小感应在阵列X和Y方向上。全站仪内的微处理器根据位移的大小计算仪器的倾斜量以及改正这些倾斜所需的改正数,最后将正确的改正数由系统提供给角度输出。 Date*GeosystemsT

6、2000的液体补偿器:图中,M为经纬仪的垂直度盘,K为液体补偿器,安装在垂直度盘上方。工作时,发光二极管N发出的光透过度盘,经过一套光路调整系统A、B、C、D、E、F、G,在液体补偿器K的硅油液面上被反射,再经过透镜H,分划板I被接收二极管J所接收。同时光路将分划板影像投影到固定指标的位置。当垂直轴倾斜时,光线相对于液体表面的入射角发生变化,从而导致分划板成像位置的变化,即相当于固定指标在变化,达到自动补偿的目的。 4、小巧精密的液态双轴补偿系统续 Date*Geosystems同样是液体补偿器,徕卡新型垂直轴液体补偿器在光路上更加紧凑,并用一线性CCD阵列解决双轴的补偿问题。精密而小巧的结构

7、,使液体补偿器可以安装在水平度盘中心上方的垂直轴线上,即使照准部快速旋转,补偿器液体镜面也可瞬间平静如常。4、小巧精密的液态双轴补偿系统续 Date*Geosystems棱镜上的三角线状刻划板(1)被LED(7)照明,在液体表面(2)上经过两次反射后经成像透镜(4)在线性CCD阵列(6)上形成影像(5)。通过三角线状分划板影像线间距的变化信息求得纵向倾斜量,横向倾斜量则由分划板影像中心在线性CCD阵列中的位移变化而求得。因此用一个一维线性接收器就能获取纵、横两个倾斜量。 1724 3651 棱镜分划板 2 液面 3 偏转透镜 4 成像透镜 5 分划板影象 6 CCD线性阵列 7 发光二极管4、

8、小巧精密的液态双轴补偿系统续 Date*Geosystems目镜竖轴调焦透镜物镜反光镜一般的望远镜5、智能自主式目标自动识别与跟踪功能(ATR) 徕卡光路Date*Geosystems接收二极管发射二极管内外光路转换马达棱镜标准EDM徕卡光路5、智能自主式目标自动识别与跟踪功能(ATR)续 Date*Geosystems激光光源双模式EDM: IR 与 RL徕卡光路5、智能自主式目标自动识别与跟踪功能(ATR)续 Date*GeosystemsATR发光二极管(红外光束)CCD 阵列TCRA 机器人徕卡光路5、智能自主式目标自动识别与跟踪功能(ATR)续 Date*Geosystems全站仪发

9、射红外光束,并利用自准直原理和CCD图象处理功能,无论在白天还是黑夜,都能实现目标的自动识别、照准与跟踪。这是徕卡技术带领全站仪向测量机器人迈进的关键一步。TPS1000 TPS11005、智能自主式目标自动识别与跟踪功能(ATR)续 Date*GeosystemsATR自动目标识别和照准可分为三个过程:目标搜索过程、目标照准过程和测量过程。启动ATR测量时,全站仪中的CCD相机视场内如果没有棱镜,则先进行目标搜索;一旦在视场内出现棱镜,即刻进入目标照准过程;达到照准允许精度后,启动距离和角度的测量。ATR的目标照准过程5、智能自主式目标自动识别与跟踪功能(ATR)续 Date*Geosyst

10、emsATR 照准过程发射红外光束 搜索到棱镜 精确地照准棱镜定位时,马达驱动望远镜来照准棱镜的中心并使之 处于预先设定的限差之内, 一般情况下,十字丝只是位 于棱镜中心附近。它之所以 没有定位于棱镜中心,是为 了优化测量速度。因为确定 十字丝和光学照准间的偏差 比靠马达准确地定位于棱镜 中心要快些。5、智能自主式目标自动识别与跟踪功能(ATR)续 Date*GeosystemsATR 照准过程发射红外光束 搜索到棱镜 精确地照准棱镜测量偏差 对Hz和V进行改正测量距离ATR 精密测量过程5、智能自主式目标自动识别与跟踪功能(ATR)续 Date*GeosystemsATR 流程图5、智能自主

11、式目标自动识别与跟踪功能(ATR)续 Date*GeosystemsATR图像识别与处理CCD影像纵、横光点求和功能5、智能自主式目标自动识别与跟踪功能(ATR)续 Date*GeosystemsATR自动跟踪目标自动跟踪是一种自动控制系统或反馈环。ATR是一个测量系统,它不仅仅提供实际值,而且也提供实际值与所需值之间的偏差 ,以及来自电子或光学视准线的在水平和垂直方向上的改正值。自 动控制系统试图使测量值偏差最小,而不考虑目标的速度和加速度 。偏差以视频速度读出,通过仪器控制电路来确定马达转动所需要 的电流,以便获得所需目标位置。5、智能自主式目标自动识别与跟踪功能(ATR)续 Date*G

12、eosystems6、超高频测距频率技术 根据相位法测距原理,提高测距信号的频率,有利于提高测距精度。徕卡全站仪采用当今世界上最高的测距信号频率,使之位居世界全站仪最高测距精度之颠,当然具有坚实的理论基础。Date*Geosystems6、超高频测距技术续 徕卡:5MHz(TC2000)7.5MHz(DI2000、DI1000)15MHz(TC1000) 50MHz (90年代初:DI1600、TC1600、早期的TPS1000) 100MHz(98年起:TPS300/700/1100系列,则安装TCW型测距头) 大量测试结果表明,这种利用高频技术测距的全站仪,工作稳定,数据离散不大,受环境条

13、件的影响小,其测距精度远高于全站仪本身的标称精度,从而充分证明了高频测距技术的成熟性、可靠性和先进性。Date*Geosystems7、动态测距频率校准技术 采用温度补偿晶体振荡器:温度变化时,温补网络里热敏电阻引起的频率变化量与晶体振荡器的频率变化量近似相等且符号相反, 从而提高频率稳定度; 采用频率综合和锁相技术:即在采用高稳定温补晶体振荡器的基础上,用频率合成的方法得到所有需要的频率,如精测、粗测、主 、本振频率。使各个频率之间严格相关,具有与温补晶振相同的频 率稳定度; 晶振器件老化:一般来说,器件使用初期老化进程最快,为了不把这种变化带给用户,工厂在仪器制造时,先进行晶体老化工作。

14、这样在仪器投入使用后,老化进程将变得极为缓慢。对于徕卡仪器 来说,仪器出厂前已使晶体老化一年,使第一年3ppm的变化量在用 户使用之前结束,而后晶体年变化量约为1ppm。常见的频率补偿技术Date*Geosystems7、动态测距频率校准技术续 徕卡测距仪具有三种不同类型的频率: 标称频率(nominal frequency)即仪器标称的精测频率,该频率由生产厂家设计并确定,是其它两频 率设计的基础,可被用来粗略地计算精测尺长。 发射频率,或称实际频率(effective frequency)即来自晶体振荡器的调制频率。晶体一旦由厂家选定,其频率便不可 调整。但该频率受温度影响而变化,且可通过

15、光电转换装置和频率计进 行测试。 计算频率(calculated frequency)这是徕卡测距仪特有的一种频率,由计算产生。它用来对发射频率进 行校正,但这种校正并不直接应用于发射频率,而是通过自动测相环节 的计算过程来进行。Date*Geosystems7、动态测距频率校准技术续 为了保证测距结果的准确性,一般全站仪采用被动“保姆”式的温补等测距频率稳定技术,有时事与愿违。徕卡全站仪一反常规,采用动态测距频率校准技术,尤如治水中的以“疏”换“堵”。因此,无论是“严冬”还是“酷夏”,徕卡全站仪都有无与伦比的测距稳定性。徕卡技术人员正在进行全站仪的超低温试验Date*Geosystems7、

16、动态测距频率校准技术续 Date*Geosystems7、动态测距频率校准技术续 在生产过程中,除对晶体进行老化外,还对晶体在整个温度范 围内的变化进行严格的测试,得出其在标准温度下的频率FO,同时 还测出了在其它温度状态下的三个温度系数K1、K2、K3,求出晶体 随温度变化的多项式函数曲线和表达式,即:测距仪工作时,将受到环境、自身元器件运作时的发热等温度的 影响。因此,晶体振荡器频率即测距频率必然会产生变化。徕卡 测距仪内部的温度传感器适时地测出此时晶体附近的温度,将其 送往CPU,代入K1、K2和K3所组成的温度表达式对F0进行校正,得出该温度状态下的计算频率和测尺来参加最终距离解算。 Date*Geosystems8、无棱镜相位法

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