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1、第! “卷 第#期低!温!物!理!学!报$ % / - + /( % ?E+ M 1超导系列样品的正电子寿命谱“: 4 8# 测量! 讨论了正电子湮没机制与超导转变温度的关联! 并从电子密度转移方面解释了5 ?!JE ?E+ M 1超导样品在*$H处的转变温度受抑制的原因关键词%正电子寿命谱!超导电性公司的* ) ) ) 型扫描电镜) 正电子寿命测量采用1 3 8 . + W * ) ) 2快J快符合正电子寿命仪系统! 实验环境温度为! )l) #b为保证足够的统计精度! 每个谱积分包含* )=以上的湮没事件去除背景和经源修正后! 寿命谱采用: 1 / - 8 3 1( 6 - 8 W . d
2、 8 . ( Q . Q程序进行两寿命程序分析! 拟合方差(!优于* * )图*给出了替代量E为) * ! #的样品的S射线衍射图样! 由图可以看出没有出现杂相衍射峰! 可见样品具有很好的单相结构! 表明了样品质量的可靠性图!给出了样品的扫描电镜“/ .9# 照片% 从照片中可以观察到! ?替代含量为) * ! # 时! 样品结晶度较好! 晶粒发育饱满! 缺陷浓度较其它样品要小较小的缺陷浓度可能与*$H反常现象存在某种关联“基金项目% 河南省自然科学基础研究项目“ 项目编号%) * * * ) # ) “ ) )#!收稿日期%! ) ) # W ) W ) =!低!温!物!理!学!报! “卷图
3、*! 5 ?!JE ?E+ M 1!EF) * ! #“ 样品d射线谱结构分析结果图!)#*#“#:#1“ 不同 ?含量的5 ?!JE ?E+ M 1样品的扫描电镜照!EF) ) #$) * )$) * ! #$) * #$) ! )“图A给出了正电子寿命谱的结果%,*$,!$ 和O!分别表示的是短寿命长寿命及长寿命的 相对强度根据两态捕获模型$,*主要反映的是正电子在样品完整晶格结构中的湮没特征$ 可探测材料内部微观结构的电子分布 + 1$ “ 正电子波函数主要分布在5 ? W 1层之 间%#!C ? ? D M Z S8!7R T ? R ? N(!N T? 8 3 = :; 2 ) 2
4、1G 8 AA 5 9!C D%* B B *+!/ M R O ? X+/! ? X ? T S4!N T? 4(W 7. (*K 1 $ = “ !J 1 9 ) 99 8 6 A ) 35 9 = F 1 6 = 2 $!J 1 9 ) 9S = 9 E = ) 9 C! # A ) ) “!K 1 9 8 3 8 C $!S = 9 E = ) 9 CA 1 : = “ ) 3 “ 8 3 3 1 C 1!J 1 9 ) 9S = 9 E = ) 9 C! # A ) ) A%3 N Z N S ?E+ M 1 N X NZ ? X X S N O% M T U: % P S WT X % R& S V N T S E NP Y N Z T X % R 8 NX N & ? T S % R P S Y% V P M Y N X Z % R O M Z T S ?*Y % P S T X % R& S V N T S E NP Y N Z T X ?!P M Y N X Z % R O M Z T S S T U& ( (*“ ) )!“ A ) 6H#
