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1、数字电子技术基础上一页下一页返 回实验一 门电路的测试一、实验目的1、学会检测常用集成门电路的好坏的简易方法 。 2、掌握TTL与非门逻辑功能和主要参数的测试 方法。二、实验仪器与器件1、元器件：74LS0，74LS20，100、10k电阻 ，电位器等。2、电子线路实验台（数字电压表，数字毫安表 ，+5V直流稳压电源）。数字电子技术基础上一页下一页返 回三、实验原理1、集成逻辑门电路的管脚排列：（1）74LS20（4输入双与非门）：Y=（ABCD）74LS20 17814VCCGND1A 1B2A 2B1C 1D1Y2C 2D2YNCNCVCC表示电源正极，GND表示电源负极；NC表示空脚 。
2、数字电子技术基础上一页下一页返 回（2）74LS00（2输入四与非门）：Y=（AB）74LS00 17814VCCGND1A 1B 1Y 2A 2B 2Y3A 3B3Y4A 4B 4Y2、TTL与非门的主要参数有：导通电源电流ICCL，低电平输入电流IiL，高电平 输入电流IiH，输出高电平VOH，输出低电平VOL，阈值 电压VTH等。注意：不同型号的集成门电路其测试条件及规范 值是不同的。数字电子技术基础上一页下一页返 回3、检测集成门电路的好坏的简易方法：（1）在未加电源时，用欧姆表检查各管脚之间 是否有短路现象；（2）加电源，用直流电压表首先检查集成电路 上是否有电，然后再根据门电路的逻
3、辑功能检查其输 出电平。例如：与非门的逻辑功能是有0出0，全1出1。对于TTL与非门，若将全部输入端悬空测得输出 电压为0.1V左右；将任一输入端接地测得输出电压约为3V，则说明 该门是好的。数字电子技术基础上一页下一页返 回四、实验内容与步骤1、将74LS20加上+5V的直流电压，检查集成门 电路的好坏。2、TTL与非门主要参数的测试（1）导通电源电流ICCL。测试条件：VCC=5V，输入端悬空，输出空载， 如图（1）。图（1 ）图（2 ）数字电子技术基础上一页下一页返 回（2）低电平输入电流IiL。测试条件：VCC=5V，被测输入端通过电流表接 地，其余输入端悬空，输出空载，如图（2）。依次 测每个输入端。（3）高电平输入电流IiH。测试条件：VCC=5V，被 测输入端通过电流表接VCC， 其余输入端接地，输出空载， 如图（3）。依次测每个输入 端。 图（3 ）数字电子技术基础上一页下一页返 回3、TTL门电路的输入电平和输出电平的测量用电压表测量图（4）所示电路（74LS00）Vi2端 的电压和输出电压VO。图（4 ）在不同的Vi1下Vi2VOVi1接高电平（3V）Vi1接低电平（0.3V ） Vi1经100电阻接地Vi1经10k电阻接地
