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1、光片和薄片的区别如下：1、切片方式不同薄片要把岩石切至 0.3mm 以下，用树胶贴在载薄片下便于观察岩石的矿物组成等岩相学 和岩组学特征。光片不需要载薄片或是盖玻片，只需要把岩石表面抛光。2、实验仪器不同薄片：主要用透射光显微镜 光片：用反射光显微镜。不过现在高级的显微镜同时配备 有透射和反射光路。3、磨片目的不同薄片：主要是对岩石中的透明矿物进行观察，适用于一般岩石。但是若岩石中含有金属矿 物，等无法判别。光片：适用于矿石中矿石矿物（方铅矿、黄铜矿等）的判别。岩矿薄片、光片鉴定样品及标本采集样品, 薄片, 标本, 鉴定, 采集1.样品规格：陈列标本的大小不应小于 369cm；供薄片、光片鉴定
2、用样品以能满足切制光片、薄片及 手标本观察的需要为原则，规格不限。2.采样要求沉积岩 对工作区内各时代地层的每一种代表性岩石均应按地层层序系统采样，同时也要 适当采集能反映沿走向变化情况的样品；有沉积矿产的地段和沉积韵律发育地段，应视研 究的需要而加密采样点。岩浆岩 在每个岩体中按相带系统采集各种代表性岩石样品，在各相带间的过度地段应加 密采样点；对岩体的下列地段及地质体均应采集样品：析离体、捕掳体、同化混染带、脉 岩、岩体各类围岩、接触变质带、岩体冷凝边等；对各种类型的火山岩，按其层序及岩性， 沿走向和倾向系统采样。变质岩 根据岩石变质程度按剖面系统采样，并注意样品中应含有划分变质带的标志矿
3、物； 对不同夹层、残留体（由边缘至中心） 、各种混合岩应系统地分别采样。矿石应按不同自然类型、工业类型、矿化期次、矿物共生组合、结构、构造、围岩蚀变的矿 石，以及根据矿石中各有用矿物的相互关系，有用矿物与脉石矿物的相互关系等特征分别 采集矿石样品。对于矿石类型复杂，矿物组合变化大的矿体，还应选择有代表性的剖面系 统采样，以便研究矿石的变化规律。在对矿石采集光片鉴定样品的同时，为研究其中透明 矿物及其与金属矿物的关系，应注意适当采集薄片、光薄片鉴定样品。当对各类岩石和矿石采集化学全分析样品，同位素地质年龄测定样品时，应同时采集岩矿 鉴定样品。应注意采集反映构造特征的标本，若小型标本不足以反映岩石、矿石的特殊构 造时，可根据需要采集大型标本；若采集定向标本，则应注明产状方位；采集极疏松和多 孔样品时，可先用丙酮胶（废胶卷溶于丙酮制成）浸透岩石、矿石，待胶结干涸后再采集 样品。无特殊情况（如研究风化岩石、矿石） ，一般应采集新鲜样品。对于岩石标本，有时 可适当保留部分风化面，以便更好地再现它的野外直观特征。3.样品的编录样品采集后，应在采样现场按采样目的，将欲切制成光片、薄片等部位，用醒目的色笔圈 出。在一般情况下，应使切片平面垂直于层理、矿脉等延向。然后编号、登记、填写标签 （同时注明切片种类、数量）等，尤其须在记录本上注明采样位置、编号、采样目的等。
