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1、 WI4201-02A修訂日期 Amendment Date編號 No.WI7308 版本 VersionV.01可 靠 度 測 試 規 範 Reliability Test Specification頁次 Page1發行日期 Release Date90.11.12可 靠 度 測 試 項 目 目 錄NOEvaluation Test Items 評價項目1Temperature Distribution 溫度分布2Component Temperature Rise 元件溫度上昇3Parts Derating 元件餘裕度 4Thermal Runaway 熱暴走5High Temperatu
2、re Short Circuit 高溫短路6Life of Electrolytic Capacitor 電解電容算出壽命7Noise Immunity 雜訊免疫能力8Electro Static Discharge 靜電氣9Lightning Surge 雷擊10Input ON/OFF At High Temperature 高溫輸入 ON/OFF11Low Temperature Operation 低溫動作確認12Dynamic Source Effect 動態輸入變動13Fan Abnormal Operation FAN FAN 異常動作14Vibration 振動15Shock
3、衝擊16Abnormal Ripple 異常漣波確認17High Temperature Test 高溫測試18Low Temperature Test 低溫測試19Temperature /humidity Test 溫溼度循環測試20Strife Test 壓力測試21PLD Test 輸入瞬斷測試常溫、常濕：定義濕溫度，相對溼度 可 靠 度 測 試 規 範編號 No.WI7308修訂日期 Amendment DateWI4201-02A版本 VersionV.01Reliability Test Specification 頁次 Page2發行日期 Release Date90.11.1
4、21. Temperature distribution 溫度分布： 1.1 目的：確保待測物之可靠度；確認各元件均在溫度規格範圍內使用及有無元件異常溫度上升。1.2 適用：所有機種適用。1.3 測試條件：a.輸入電壓：規格範圍之最小、最大值。(AC 115V/230VAC 90V/265V)b.負 載：100% (最小 0%、最大,100%)。c.輸出電壓：額定。d.周圍溫度：常溫。e.接線圖：1.4 測試方法: a.輸入電壓加入後，穩定狀況下，測元件表面及銲接點之溫度分佈。 b.參考溫度 Derating 率。 c.量測之溫度與溫度 Derating 率比較，確認有無異常發熱元件，參考溫度
5、Derating 率。INPUT SOURCE待測物負載短路用治具溫度記錄器WI4201-02APage3發行日期 Release Date90.11.121.5 溫度 Derating 率NO元件名稱溫度判定標準備註電阻電阻最高耐溫之電容電容最高耐溫減半導體1.Schotty Diode 取 Tj 之 2.其它半導體（電晶體 MOSFET 取 Tj 之）熱暴走高溫短路測試Ta :55 Load :100 Ta :65 Load :70 Input :85V/265V 時 （Tj*80）+5為判定 基 礎基板1.FR-4 : 115 2.CEM-3 : 110 3.CEM-1 : 100 4.
6、XPC-FR : 100 5.判定：PCB 最大耐溫減與基板板厚無關變壓器 （含電感）絕緣區分： A 種 種 種 標準溫度： 105 120 130 熱偶式 ： 90 105 110Abnormal : 150 165 175修訂日期 Amendment Date編號 No.WI7308可 靠 度 測 試 規 範 Reliability Test Specification 頁次 Page版本 VersionV.01WI4201-02A發行日期 Release Date90.11.122 Component temperature rise 元件溫度上升：2.1 目的：確保待測物之可靠度，確認
7、各元件均在溫度規格內使用。2.2 適用：所有機種適用。2.3 測試條件：a.輸入電壓：規格範圍之最小、額定、最大。b.負載：規格範圍之最大。c.輸出電壓：額定。d.周圍溫度：常溫。e.接線圖：2.4 測試方法： a.依測試條件設定，當溫度達到熱平衡後，以熱電偶測定元件溫度，基板上之元件銲點需測量溫度。b.參考溫度 Derating 計算出最大溫升規格值t.(i.e. Derating Curve 在 100% Load 100% 下最高至 50，則以附表 Derating 率之溫度減去 50 得 100%之 LOAD 下之t.；60時，Derating 率為 70%，則減去 60 得到 70%
8、之t.) 實際負載在 100%時依減 50之t.為規格值。c.元件之選擇以 R-1 溫度分佈測得之發熱較多元件做測定。d.元件實際溫升不能超過計算得出之t.。修訂日期 Amendment Date編號 No.WI7308可 靠 度 測 試 規 範 Reliability Test Specification 頁次 Page版本 VersionV.01INPUT SOURCE待測物溫度記錄器負載WI4201-02A發行日期 Release Date90.11.123. Parts derating 元件餘裕度：3.1 目的：確保待測物之可靠度，確認元件實際使用時能在絕對最大額定下之 Derati
9、ng率範圍內。3.2 適用：所有機種適用。3.3 測試條件： a.測試待測物在下列條件下一次測和二次測主迴路波形（電流波形和電壓波形） 定額輸入和輸出 低壓起動 短路開機 開機後短路 滿載關機（不做記錄）b.各迴路波形和元件耐壓請參考元件 Deratingc.接線圖：修訂日期 Amendment Date編號 No.WI7308可 靠 度 測 試 規 範 Reliability Test Specification 頁次版本 VersionV.01INPUT SOURCE待測物SCOPE負載WI4201-02APage發行日期 Release Date90.11.123.4 元件 Derati
10、ngNO元件名稱溫度判定標準備註電阻80電阻最高耐壓之 90 Surge 取耐壓之 95電容電容最高耐壓之 85 （AC 輸入電容取耐壓之 95） Ripple 電流取 100 鉭質電容取耐壓之 80二極體（Diode）VRM VRSM ISFM Surge SCR 80 95 90 90 TRIAC 80 95 90 90 Bridge-Diode 80 95 90 90 Diode 80 95 90 90 Scotty Diode 90 95 90 90 Zener Diode 90 90 LED 80 95 90 90電晶體MOSFETVDSS/VCE :取規格之 95 VGSS/VBE
11、 :取規格之 95 ID/IC :取規格之 95 IB :取規格之 95Fuse取額定電流之 70Surge : 65Surge：I2tWI4201-02APage7發行日期 Release Date90.11.124. Thermal runaway 熱暴走：4.1 目的：確認過負載、出力短路下，保護之餘裕度。4.2 適用：所有機種適用。4.3 測試條件：a.輸入電壓：規格之輸入電壓範圍最小、最大值，（例 85V/265V）。b.負載：100% 及 70%(例 55為 100， 65為 70)。c.周圍溫度：最高動作溫度5，輸出 Derating Curve 100%下溫度上限5。d.輸出電
12、壓：額定。 e.接線圖：4.1.4.4 測試方法：a.參照部品溫度上昇結果確定待測部品，以熱電偶量測。 b.電源輸入後，連續觀測繪出溫度上昇值，確認飽和點。 c.若有 FAN 裝置於待測物，需實際模擬安裝於系統之情形進行測試。修訂日期 Amendment Date編號 No.WI7308可 靠 度 測 試 規 範 Reliability Test Specification 頁次 Page8版本 VersionV.01INPUT SOURCE待測物溫度記錄器負載電流電壓恒溫槽WI4201-02A發行日期 Release Date90.11.125. High temperature shoty
13、 circuit 高溫短路：5.1 目的：確認輸出短路放置後，待測物之可靠度。5.2 適用：除未加短路保護機種外所有機種適用。5.3 測試條件：a.輸入電壓：規格範圍之最大輸入電壓。(實測取最大，例 265V)b.輸出電壓：額定值。 c.周圍溫度：動作溫度上限5(例 65)。d.接線圖：4.1.5.4 測試方法：a.待測物在設定測試條件下，輸出短路 2 小時以上。b.記錄溫度上昇之情形，參照溫度 Derating，不能超過規定溫度。c.解除短路狀態後確認輸出仍正常，部品不能有損壞。修訂日期 Amendment Date編號 No.WI7308可 靠 度 測 試 規 範 Reliability
14、Test Specification 頁次版本 VersionV.01INPUT SOURCE待測物示波器負載WI4201-02APage9發行日期 Release Date90.11.126. Life of electrolytic capacitor 電解電容算出壽命：6.1 目的：推定待測物之壽命，並確認其可靠度。6.2 適用：所有機種適用。6.3 測試條件：a.輸入電壓：額定值。b.輸出電壓：額定值。c.負載：額定。d.周圍溫度：40。e.接線圖：6.4 測試方法：a.額定之輸出、輸入時，在規定之周圍溫度下，依下式計算：L1=LS2 L1:實際之有效壽命 LS:部品使用溫度範圍上限下之有效壽命T1:部品之使用溫度範圍上限T2:實際使用溫度。b.算出之壽命時間應規格所示。修訂日期 Amendment Date編號 No.WI730
