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1、 WI4201-02A修订日期 Amendment Date编号 No.WI7308 版本 VersionV.01可 靠 度 测 试 规 范 Reliability Test Specification页次 Page1发行日期 Release Date90.11.12可 靠 度 测 试 项 目 目 录NOEvaluation Test Items 评价项目1Temperature Distribution 温度分布2Component Temperature Rise 组件温度上升3Parts Derating 组件余裕度 4Thermal Runaway 热暴走5High Temperatu
2、re Short Circuit 高温短路6Life of Electrolytic Capacitor 电解电容算出寿命7Noise Immunity 噪声免疫能力8Electro Static Discharge 静电气9Lightning Surge 雷击10Input ON/OFF At High Temperature 高温输入 ON/OFF11Low Temperature Operation 低温动作确认12Dynamic Source Effect 动态输入变动13Fan Abnormal Operation FAN FAN 异常动作14Vibration 振动15Shock
3、冲击16Abnormal Ripple 异常涟波确认17High Temperature Test 高温测试18Low Temperature Test 低温测试19Temperature /humidity Test 温湿度循环测试20Strife Test 压力测试21PLD Test 输入瞬断测试常温、常湿：定义湿温度，相对湿度 WI4201-02A修订日期 Amendment Date编号 No.WI7308 版本 VersionV.01可 靠 度 测 试 规 范 Reliability Test Specification页次 Page2发行日期 Release Date90.11.
4、121. Temperature distribution 温度分布： 1.1 目的：确保待测物之可靠度；确认各组件均在温度规格范围内使用及有无组件异常温度上升。1.2 适用：所有机种适用。1.3 测试条件：a.输入电压：规格范围之最小、最大值。(AC 115V/230VAC 90V/265V)b.负 载：100% (最小 0%、最大,100%)。c.输出电压：额定。d.周围温度：常温。e.接线图：1.4 测试方法:a.输入电压加入后，稳定状况下，测组件表面及焊接点之温度分布。 b.参考温度 Derating 率。 c.量测之温度与温度 Derating 率比较，确认有无异常发热组件，参考温度
5、Derating 率。INPUT SOURCE待測物負載短路用治具溫度記錄器WI4201-02A修订日期 Amendment Date编号 No.WI7308 版本 VersionV.01可 靠 度 测 试 规 范 Reliability Test Specification页次 Page3发行日期 Release Date90.11.121.5 温度 Derating 率NO组件名称温度判定标准备注电阻电阻最高耐温之电容电容最高耐温减半导体1.Schotty Diode 取 Tj 之 2.其它半导体（晶体管 MOSFET 取 Tj 之）热暴走高温短路测试Ta :55 Load :100 Ta
6、 :65 Load :70 Input :85V/265V 时 （Tj*80）+5为判定 基 础基板1.FR-4 : 115 2.CEM-3 : 110 3.CEM-1 : 100 4.XPC-FR : 100 5.判定：PCB 最大耐温减与基板板厚无关变压器 （含电感）绝缘区分： A 种 种 种标准温度： 105 120 130 热偶式 ： 90 105 110Abnormal : 150 165 175WI4201-02A修订日期 Amendment Date编号 No.WI7308 版本 VersionV.01可 靠 度 测 试 规 范 Reliability Test Specific
7、ation页次 Page发行日期 Release Date90.11.122 Component temperature rise 组件温度上升：2.1 目的：确保待测物之可靠度，确认各组件均在温度规格内使用。2.2 适用：所有机种适用。2.3 测试条件：a.输入电压：规格范围之最小、额定、最大。b.负载：规格范围之最大。c.输出电压：额定。d.周围温度：常温。e.接线图：2.4 测试方法： a.依测试条件设定，当温度达到热平衡后，以热电偶测定组件温度，基板上之元件焊点需测量温度。b.参考温度 Derating 计算出最大温升规格值t.(i.e. Derating Curve 在 100% L
8、oad 100% 下最高至 50，则以附表 Derating 率之温度减去 50 得 100%之 LOAD 下之t.；60时，Derating 率为 70%，则减去 60 得到 70%之t.) 实际负载在 100%时依减 50之t.为规格值。c.组件之选择以 R-1 温度分布测得之发热较多组件做测定。d.组件实际温升不能超过计算得出之t.。INPUT SOURCE待測物溫度記錄器負載WI4201-02A修订日期 Amendment Date编号 No.WI7308 版本 VersionV.01可 靠 度 测 试 规 范 Reliability Test Specification页次 Page
9、发行日期 Release Date90.11.123. Parts derating 组件余裕度：3.1 目的：确保待测物之可靠度，确认组件实际使用时能在绝对最大额定下之 Derating率范围内。3.2 适用：所有机种适用。3.3 测试条件： a.测试待测物在下列条件下一次测和二次测主回路波形（电流波形和电压波形） 定额输入和输出 低压起动 短路开机 开机后短路 满载关机（不做记录）b.各回路波形和组件耐压请参考组件 Deratingc.接线图：INPUT SOURCE待測物SCOPE負載WI4201-02A修订日期 Amendment Date编号 No.WI7308 版本 Version
10、V.01可 靠 度 测 试 规 范 Reliability Test Specification页次 Page发行日期 Release Date90.11.123.4 组件 DeratingNO组件名称温度判定标准备注电阻80电阻最高耐压之 90 Surge 取耐压之 95电容电容最高耐压之 85 （AC 输入电容取耐压之 95） Ripple 电流取 100 钽质电容取耐压之 80二极管（Diode）VRM VRSM ISFM Surge SCR 80 95 90 90 TRIAC 80 95 90 90 Bridge-Diode 80 95 90 90 Diode 80 95 90 90
11、Scotty Diode 90 95 90 90 Zener Diode 90 90 LED 80 95 90 90晶体管MOSFETVDSS/VCE :取规格之 95 VGSS/VBE :取规格之 95 ID/IC :取规格之 95 IB :取规格之 95Fuse取额定电流之 70Surge : 65Surge：I2tWI4201-02A修订日期 Amendment Date编号 No.WI7308 版本 VersionV.01可 靠 度 测 试 规 范 Reliability Test Specification页次 Page7发行日期 Release Date90.11.124. The
12、rmal runaway 热暴走：4.1 目的：确认过负载、出力短路下，保护之余裕度。4.2 适用：所有机种适用。4.3 测试条件：a.输入电压：规格之输入电压范围最小、最大值，（例 85V/265V）。b.负载：100% 及 70%(例 55为 100， 65为 70)。c.周围温度：最高动作温度5，输出 Derating Curve 100%下温度上限5。d.输出电压：额定。 e.接线图：4.1.4.4 测试方法：a.参照部品温度上升结果确定待测部品，以热电偶量测。 b.电源输入后，连续观测绘出温度上升值，确认饱和点。c.若有 FAN 装置于待测物，需实际仿真安装于系统之情形进行测试。IN
13、PUT SOURCE待測物溫度記錄器負載電流電壓恒溫槽WI4201-02A修订日期 Amendment Date编号 No.WI7308 版本 VersionV.01可 靠 度 测 试 规 范 Reliability Test Specification页次 Page8发行日期 Release Date90.11.125. High temperature shoty circuit 高温短路：5.1 目的：确认输出短路放置后，待测物之可靠度。5.2 适用：除未加短路保护机种外所有机种适用。5.3 测试条件：a.输入电压：规格范围之最大输入电压。(实测取最大，例 265V)b.输出电压：额定值
14、。 c.周围温度：动作温度上限5(例 65)。d.接线图：4.1.5.4 测试方法：a.待测物在设定测试条件下，输出短路 2 小时以上。b.记录温度上升之情形，参照温度 Derating，不能超过规定温度。c.解除短路状态后确认输出仍正常，部品不能有损坏。INPUT SOURCE待測物示波器負載WI4201-02A修订日期 Amendment Date编号 No.WI7308 版本 VersionV.01可 靠 度 测 试 规 范 Reliability Test Specification页次 Page9发行日期 Release Date90.11.126. Life of electrolytic capacitor 电解电容算出寿命：6.1 目的：推定待测物之寿命，并确认其可靠度。6.2 适用：所有机种适用。6.3 测试条件：a.输入电压：额定值。
