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1、三德冠精密电路科技有限公司 质量体系工作文件 检验、测量、检测设备免校指引检验、测量、检测设备免校指引 文件编号：WI-QRA-054 版本号：A0 第 1 页 共 3 页 文文 件件 修修 订订 履履 历历 表表版本修订日期修订人修订内容A02007-8-1孙爱菊初版发行三德冠精密电路科技有限公司 质量体系工作文件 检验、测量、检测设备免校指引检验、测量、检测设备免校指引 文件编号：WI-QRA-054 版本号：A0 第 2 页 共 3 页 1.0 目 的：确保在生产、检查工序内运用的计量器具合格。2.0 范 围：适用本公司检验、测量、试验设备控制程序中 C 类检测设备。3.0 有 CMC
2、标志的免校正控制方法：3.1 使用有 CMC 标志的计量器具（国家计量主管部门已按计量法规的标准对计量器具进行控制及产品质量认可） ；3.2 使用有 CMC 标志的计量器具自使用之日起一年内可免校正；3.3检测设备周期校定计划上标明该仪器免校正；3.4 若玻璃类计量器具有损坏或刻度不清时，则需由使用部门申请更换，由计量工程师给予新的编号；3.5 标志式样 MC 。4.0 新购计量器具的免校正控制:4.1 新购计量器具有可追溯至国家/国际标准的出厂合格证明书/声明时，自投入使用之日起，一年内免校正；4.2 在检测设备周期校定计划中说明新购免校正的须说明下次校正日期；4.3 如出现没有 CMC 标志的玻璃类计量器具，须用 CMC 标志的器具进行校正；4.4 新购或有 CMC 标志的计具器具自投入使用之日起满一年时，应进行校正；4.5 曝光尺每年更换一次（或根据使用磨损情况）不用校正。5.0 所有免校正的检测设备由计量工程师在设备上贴“合格”标识。6.0 相关文件：6.1检验、测量、试验设备控制程序7.0 相关记录：7.1检测设备周期校定计划 本文件编制人： 本文件审核人： 三德冠精密电路科技有限公司 质量体系工作文件 检验、测量、检测设备免校指引检验、测量、检测设备免校指引 文件编号：WI-QRA-054 版本号：A0 第 3 页 共 3 页 本文件批准人： 本文件生效日期：
