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1、实验四实验四 线性系统的校正线性系统的校正（一）频域法串联超前校正（一）频域法串联超前校正 控制系统的校正与状态反馈就是在被控对象已确定，在给定性能指标的前提下，要求 设计者选择控制器（校正网络）的结构和参数，使控制器和被控对象组成一个性能满足指 标要求的系统。 一实验要求一实验要求 1了解和掌握二阶系统中的闭环和开环对数幅频特性和相频特性（波德图）的构造及绘制 方法。 2了解和掌握超前校正的原理，及超前校正网络的参数的计算。 3熟练掌握使用本实验机的二阶系统开环对数幅频特性和相频特性的测试方法。4观察和分析系统未校正和串联超前校正后的开环对数幅频特性和相频特性，)(L)(幅值穿越频率处 c，
2、相位裕度 ，并与理论计算值作比对。 二实验内容及步骤二实验内容及步骤 本实验用于观察和分析引入频域法串联超前校正网络后的二阶系统瞬态响应和稳定性。 超前校正的原理是利用超前校正网络的相角超前特性，使中频段斜率由-40dB/dec 变为-20 dB /dec 并占据较大的频率范围，从而使系统相角裕度增大，动态过程超调量下降；并使系 统开环截止频率增大，从而使闭环系统带宽也增大，响应速度也加快。 1未校正系统的时域特性的测试未校正系统的时域特性的测试 未校正系统模拟电路图见图 3-3-2。本实验将函数发生器（B5）单元作为信号发生器， OUT 输出施加于被测系统的输入端Ui，观察 OUT 从 0V
3、 阶跃+2.5V 时被测系统的时域特 性。图 3-3-2 未校正系统模拟电路图图 3-3-2 未校正系统的开环传递函数为： 0.3S)0.2S(16)S(G模拟电路的各环节参数：积分环节（A5 单元）的积分时间常数 Ti=R1*C1=0.2S， 惯性环节（A6 单元）的惯性时间常数 T=R2*C2=0.3S， 开环增益 K=R2/R3=6。 实验步骤：实验步骤： 注：注：S ST 用用“短路套短路套”短接！短接！ （1）将函数发生器（B5）单元的矩形波输出作为系统输入 R。 （连续的正输出宽度足够大 的阶跃信号) 在显示与功能选择（D1）单元中，通过波形选择按键选中矩形波 （矩形波指示灯亮）
4、。 量程选择开关 S2 置下档，调节“设定电位器 1” ，使之矩形波宽度3 秒（D1 单元左显 示） 。 调节 B5 单元的“矩形波调幅”电位器使矩形波输出电压= 2.5V（D1 单元右显示） 。 构造模拟电路：按图 3-3-2 安置短路套及测孔联线，表如下。（a）安置短路套 （b）测孔联线模块号跨接座号1A1S4，S82A3S1，S63A5S4，S104A6S4，S8，S95B5S-ST （3）运行、观察、记录： 运行 LABACT 程序，在界面自动控制自动控制菜单下的“线性系统的校正和状态反馈线性系统的校正和状态反馈” -实验 项目，选中“线性系统的校正线性系统的校正”项，弹出线性系统的校
5、正的界面，点击开始开始，用虚拟示波 器 CH1 观察系统输出信号。 观察 OUT 从 0V 阶跃+2.5V 时被测系统的时域特性，等待一个完整的波形出来后，点 击停止停止，然后移动游标测量其超调量、峰值时间及调节时间。 在未校正系统的时域特性特性曲线上可测得时域特性： 超调量 Mp= 56.4 % 峰值时间 tp= 0.32S 调节时间 ts= 1.8S(=5 时)未校正系统的时域特性测试：Mp=62.4% tp=0.32s ts =1.83s1 信号输入 r(t)B5（OUT）A1（H1）2 运放级联A1（OUT）A5（H1）3 运放级联A5（OUT）A6（H1）4 负反馈A6（OUT）A1
6、（H2）5 运放级联A6（OUT）A3（H1）2未校正系统的频域特性的测试未校正系统的频域特性的测试本实验将数/模转换器（B2）单元作为信号发生器，自动产生的超低频正弦信号的频率从低到高变化（0.5Hz16Hz） ，OUT2 输出施加于被测系统的输入端r(t)，然后分别测量被测 系统的输出信号的对数幅值和相位，数据经相关运算后在虚拟示波器中显示。未校正系统 频域特性测试的模拟电路图见图 3-3-4。图 3-3-4 未校正系统频域特性测试的模拟电路图实验步骤：实验步骤： （1）将数/模转换器（B2）输出 OUT2 作为被测系统的输入。（2）构造模拟电路：按图 3-3-4 安置短路套及测孔联线，在
7、1。未校正系统时域特性的 测 试的联线表上增加频率特性测试模块，表如下。（3）运行、观察、记录：将数/模转换器（B2）输出 OUT2 作为被测系统的输入，运行 LABACT 程序，在界面 的自动控制自动控制菜单下的线性线性控制系统的频率响应分析控制系统的频率响应分析-实验项目，选择二阶系统阶系统，就会弹出虚 拟示波器的界面，点击开始开始，则进行频率特性测试。详见第 3.2 节线性控制系统的频域 分析 。 在未校正系统模拟电路的相频特性曲线上可测得未校正系统频域特性： 穿越频率 c= 9.4 rad/s， 相位裕度 = 18.9 未校正系统的频域特性的测试: c=9.3rad/s =180-16
8、0.9=19.11信号输入r(t)B2（OUT2） A1（H1）改变联线2幅值测量A3（OUT） B7（IN4）3A3（OUT） A8（CIN1）4A8（COUT1） B4（A2）5相位测量B4（Q2） B8（IRQ6）增加联线3超前校正网络的设计超前校正网络的设计 在未校正系统模拟电路的开环相频特性曲线（图 3-3-5）上测得未校正系统的相位裕度=18.9。 如果设计要求校正后系统的相位裕度设计要求校正后系统的相位裕度 =50，则网络的最大超前相位角必须为： ，。4291950m67. 0Sinm其中为考虑到时，所需減的角度，一般取 510。)(CC 据式 3-3-3 可计算出网络的参数：
9、567. 0-10.671 sin1sin1amm 据式 3-3-4 可计算出网络的最大超前相位角处的对数幅频值为：m7dB10lg510lga)(LmC 在系统开环幅频特性曲线（图 3-3-6）上，可测得时的角频率=14.4 7dB)(Lmrad/s ，该角频率应是网络的最大超前角频率，这亦是串联超前校正后系统的零分贝频率。c 据式 3-3-2 可计算出计算串联超前校正网络参数：， 031. 024. 214.41a1Tm 据式 3-3-5 令 C=1u， 计算出：R4=155K， R5=38.7K 因为 a=5，所以系统开环增益应改为 30,56aKK超前校正网络传递函数为： （3-3-7
10、）0.031S10.155S1 51)S(GC4。串联超前校正后系统的频域特性的测试。串联超前校正后系统的频域特性的测试 串联超前校正后系统频域特性测试的模拟电路图见图 3-3-7。图 3-3-7 串联超前校正后系统频域特性测试的模拟电路图图 3-3-7 串联超前校正后系统的传递函数为：0.3S)0.2S(130 031S. 01155S. 01 51)S(G实验步骤：实验步骤： 在2未校正系统的频域特性的测试联线表上，取消 A1 单元（OUT）到 A5 单元 （H1）的联线，再根据图 3-3-7 串联超前校正后系统频域特性测试的模拟电路图增加 串联超前校正网络的联线，其中安置短路套应按下表修
11、改。模块号跨接座号4A6S2，S8，S9运行、观察、记录： 运行程序同2未校正系统的频域特性的测试 。 在串联超前校正后的相频特性曲线上可测得串联超前校正后系统的频域特性：穿越频率 c= 14.45 rad/s， 相位裕度 =54.5串联超前校正后系统的频域特性的测试 c=14.45rad/s =54.5(测试结果表明符合设计要求测试结果表明符合设计要求)5.串联超前校正系统的时域特性的测试串联超前校正系统的时域特性的测试串联超前校正后系统时域特性测试的模拟电路图见图 3-3-10。图 3-3-10 串联超前校正后系统时域特性测试的模拟电路图实验步骤：注：实验步骤：注：S ST 用用“短路套短
12、路套”短接！短接！安置短路套及测孔联线表与4。串联超前校正后系统的频域特性的测试相同，频率 特性测试模块可联可不联，只须把示波器输入端 CH1 接到 A3 单元信号输出端 OUT（C(t)） ，并且把信号输入r(t) 从 B2 单元（OUT2）改为从 B5 单元（OUT）输入。 运行、观察、记录：运行程序同1未校正系统的时域特性时域特性的测试观察 OUT 从 0V 阶跃+2.5V 时被测系统的时域特性，等待一个完整的波形出来后，点击停停 止止，然后移动游标测量其超调量、峰值时间及调节时间。 在串联超前校正后的时域特性特性曲线上可测得时域特性： 超调量 Mp= 18.8% 调节时间 ts= 0.
13、38S(=5 时) 峰值时间 tp=0.18S串联超前校正系统的时域特性的测试 Mp=20.4% tp=0.18s ts =0.40s（2 2）频域法串联迟后校正频域法串联迟后校正频域法校正主要是通过对被控对象的开环对数幅频特性和相频特性（波德图）观察和 分析实现的。一实验要求一实验要求1了解和掌握二阶系统中的闭环和开环对数幅频特性和相频特性（波德图）的构造及绘制 方法。 2了解和掌握迟后校正的原理，及迟后校正网络的参数的计算。 3熟练掌握使用本实验机的二阶系统开环对数幅频特性和相频特性的测试方法。4观察和分析系统未校正和串联迟后校正后的开环对数幅频特性和相频特性，)(L)(幅值幅值穿越频率处
14、 c，相位裕度 ，并与理论计算值作比对。二实验内容及步骤二实验内容及步骤本实验用于观察和分析引入频域法串联迟后校正网络后的二阶系统瞬态响应和稳定性。 串联迟后校正的原理是利用迟后校正网络其高频幅值衰减的特性，以降低已校正系统的系 统开环截止频率，从而获得足够的相角裕度。 1未校正系统的时域特性的测试未校正系统的时域特性的测试未校正系统模拟电路图见图 3-3-13。本实验将函数发生器（B5）单元作为信号发生器， OUT 输出施加于被测系统的输入端Ui，观察 OUT 从 0V 阶跃+2.5V 时被测系统的时域特 性。图 3-3-13 未校正系统模拟电路图图 3-3-13 未校正系统的开环传递函数为
15、： 模拟电路的各环节参0.1S)0.2S(110)S(G数： 积分环节（A2 单元）的积分时间常数 Ti=R1*C1=0.2S， 惯性环节（A3 单元）的惯性时间常数 T=R2*C2=0.1S。 开环增益 K=R2/R3=10实验步骤：实验步骤： （1）将函数发生器（B5）单元的矩形波输出作为系统输入 R。 （连续的正输出宽度足够大 的阶跃信号) 在显示与功能选择（D1）单元中，通过波形选择按键选中矩形波 （矩形波指示灯亮） 。 量程选择开关 S2 置下档，调节“设定电位器 1” ，使之矩形波宽度3 秒（D1 单元左显 示） 。 调节 B5 单元的“矩形波调幅”电位器使矩形波输出电压= 2.5V（D1 单元右显示） 。 （2）构造模拟电路：按图 3-3-13 安置短路套及测孔联线，表如下。 （a）安置短路套 （b）测孔联线模块号跨接座号1A1S4，S82A3
