第 １ 页 共 4 页文件编号：JL/YF-01浙江佳龙电子有限公司检验设备操作规程 修改次数：第 A 版 第 1 次修改标题：荧光测厚仪 FISCHERSCOPE X-RAY 操作规程 页 码：第 1 页 共 2 页一．仪器用途荧光测厚仪 FISCHERSCOPE X-RAY 用于测量涂镀层厚度及成分，分析合金成分，测量镀液主盐离子浓度二．开机及关机步骤1． 开机步骤1）开启仪器电源；2）开启打印机和计算机；3） 5 分钟左右后打开高压钥匙开关（仪器长时间不用[特别是冬天] ，要 30 分钟打开高压钥匙开关） ；4）打开 FTM 软件，按“确定”完成开机步骤2．关机步骤1）关闭 FTM 软件；2）关闭高压钥匙开关；3）关闭仪器电源；4）关闭计算机及打印机三．测量准备１．预热仪器为了保证测量的精确性和稳定性，仪器开启后必须进行充分的预热预热方法如下：完成正常的开机步骤后，点击 图标进入“光谱”子程序按动 图标开始不间断测量。
30 分钟后 按动 图标停止测 量， 再按动 图标退出“光谱”子程序后，即完成预热过程2．测量基准注意：这个步骤非常重要注意：在进行 测量基准 之前，必须先 预热仪器因为仪器是以元素 Ag 为基准进行测量的，所以必须精确定位元素 Ag 的位置，不能偏移一般说来，一个星期做一次“测量基准”就可以了 （也可以每天都做）（仪器是以 Ag 为基准，如果 Ag 的光谱偏移了，则其它金属元素的光谱也跟着偏移）测量基准步骤如下：1）将元素 Ag 置于工作台上 ，调整其位置并聚焦清晰，使其清楚显示在视频窗口十字线中央2）选择菜单“一般—→测量基准” ，按动“开始测量基准”按钮开始测量基准3）Ag 测完之后，会提示 放入原素 Cu， （将元素 Cu 置于工作台上，使其显示在视频窗口十字线中央在按 确定4）测量基准结束时，显示“基准测量完成，接受？”信息，按“确定”完成测量基准如果显示“不需要做基准测量 ”信息，则按“确定” ，再按“取消”退出即可)四．进行测量1．完成开机步骤，并进行预热及基准测量后，就可以开始测量样品了2． 进行测量的步骤如下：1）根据待测样品的镀层情况，点击菜单“产品程式—→选择． ． ．或 点击 ”选相应的产品程式。
2）将样品置于工作台上，调整其位置并聚焦清晰，使其清楚显示在视频窗口十字线中央3）按显示屏左下角的按钮“开始(s)”或仪器控制台上的 “START”键开始测量，倒计时结束后即完成一次测量3．测量注意事项R 第 ２ 页 共 4 页１）测量时间的选择测量时间越长稳定度越好一般来说，单镀层不少于 15 秒，双镀层和合金比例测量时间不少于 30 秒，三镀层测量时间不少于 45 秒，镀液主盐离子浓度测量时间在 30~60 秒之间２）样品放置原则必须正确放置样品（详细见仪器使用说明） ，保证 X 射线荧光不受干扰地到达探测器３）如果测量结束后，出现“错误：不能测量”及“错误：光谱无效”信息，此时应进行如下操作：A：检查所测样品镀层情况是否与所选择的产品程式一致B：进行基准测量C：进行底材修正４）测量之前应检查待测样品的底材成分与设定的底材是否一致方法是直接测量底材，如果测量结果偏离零点较大，则应进行底材修正把底材放在工作台上，选择菜单“调校—→底材修正” ，当出现“元素：测量产品的底材物料”后，按“确定”进行底材修正即可。
五．打印报表1．打印测量数据1）选择菜单“结果计算读数组报告”或点击 工具 栏上的图标进入单个数据组报表窗口选择要打印的测量数据组 （V3.16 版以后的软件和 V6 版软件）2) 选择菜单“文件—→列印 ”进行打印如果要打印所有数据的统计结果，则选择菜单“结果计算—→最后报告” ，选择菜单“文件—→列印”进行打印操作 （V3.16 版以前的软件）六．调校产品程式（要有调校标准片才能做）正确的调校是保证仪器测量精度的必要条件在调校之前必须充分预热仪器及进行基准测量这点非常重要确定是否应进行调校，可通过测量调校标准片来检验选择菜单“产品程式—→测量调校标准片” ，放置标准片在工作台上，移动标准片测量几次如果测量数据平均值与标准片之差不符合标准片的精度，则可以进行“归一化”操作如果归一化后，仍然不符合标准片的精度，则应进行调校调校步骤：1) 选择要调校的产品程式2) 选择菜单“调校—→调校”开始进行“调校” 屏幕左下角的指令窗口会出现下一步的操作指示按照指示放置相应的材料和标准片进行测量如果底材或标准片要测量几次，轻轻移动底材或标准片几次调校结束后， “输入调校标准”窗口出现，按“确定”结束调校。
七．注意事项１．仪器供电电压必须与 FISCHERSCOPE® XRAY XDVM 仪器铭牌上的电压一致仪器必须使用三线插头连到一个已接地的插座上２．本仪器为精密仪器，建议配备高精度的稳压电源计算机和仪器应配备不间断电源（UPS）３．仪器应特别注意与存在电磁的场合隔离开来４．仪器适合在 10~40℃（50~104℉）的环境温度下操作使用（最好恒温） ，在 0~50℃（32~122℉）的温度下存放操作和存放的允许湿度范围在 0~65%之间（非冷凝） 在操作过程中，环境温度和湿度应保持恒定５．仪器曝晒在阳光下时，窗口玻璃后的温度极易超过 50℃所以请不要在这样的环境下操作和存放仪器，以避免高温对仪器造成损害６．为避免短路，严禁仪器与液体直接接触如果液体进入仪器，请立刻关闭仪器！ 并在重新使用前请技术人员全面检查仪器７．本仪器不能用于酸性及电磁环境和易爆场合８．不要弄脏和刮擦元素片或调校标准片！否则会造成读数错误！９．不要用任何机械或化学的方法清除元素片或调校标准片上的污物！如果必要的话，可以用一块不起毛的布轻轻擦除脏物 第 ３ 页 共 4 页拟制 审核 批准 第 ４ 页 共 4 页拟制 审核 批准拟制 审核 批准拟制 审核 批准拟制 审核 批准。