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1、1实验要求及注意事项1、实验前必充分预习实验内容，做到思路清晰，实验任务明确。2、实验时认真阅读实验指导书，按电路原理图正确连接实验导线，仔细检查无误，方可通电实验。3、实验中多注意观察，如有元器件冒烟、发烫或有异味等应立即关断电源，报告实验老师，待找出原因、排除故障后才能重新实验。4、实验中须更改连线，必须切断电源后才能进行。5、实验结束关闭电源，拔除电源插头，并将仪器设备、工具、导线等按规定整理好。（电工与电子技术（B） ）数字电路实验基本知识（预习部分）一、数字集成电路封装中、小规模数字 IC 中最常用的是 TTL 电路和 CMOS 电路。TTL 器件型号以 74（或54）作前缀，称为
2、74/54 系列，如 74LS10、74LS181、54S86 等。中、小规模 CMOS 数字集成电路主要是 4XXX/45XX（X 代表 09 的数字）系列，高速 CMOS 电路 HC（74HC系列） ，与 TTL 兼容的高速 CMOS 电路 HCT（74HCT 系列） 。TTL 电路与 CMOS 电路各有优缺点，TTL 速度高，CMOS 电路功耗小、电源范围大、抗干扰能力强。由于 TTL 在世界范围内应用很广，所以在数字电路教学实验中，我们主要使用 TTL74 系列电路作为实验用器件，采用单一+5V 作为供电电源。数字 IC 器件有多种封装形式。为了教学实验方便，实验中所用的 74 系列器
3、件封装选用双列直插式。图 1 是双列直插封装的正面示意图。双列直插封装有以下特点：图 1 DIP 双列直插式封装图1、从正面（上面）看，器件一端有一个半圆的缺口，这是正方向的标志。缺口左边的引脚号为 1，引脚号按逆时针方向增加。图 1 中的数字表示引脚号。双列直插封装 IC 引脚数有 14、16、20、24、28 等若干种。2、双列直插器件有两列引脚。引脚之间的间距是 2.54 毫米。两列引脚之间的距离有宽（15.24 毫米） 、窄（7.62 毫米）两种。两列引脚之间的距离能够少做改变，引脚间距不能改变。将器件插入实验板上的插座中去，从插座中拔出时要小心，不要将器件引脚搞弯或折断。3、74 系
4、列器件一般左下角的最后一个引脚是 GND，右上角的引脚是 VCC 。例如，14引脚器件引脚 7 是 GND，引脚 14 是 VCC ；20 引脚器件引脚 10 是 GND，引脚 20 是 VCC 。但也有一些例外，例如 16 引脚的双 JK 触发器 74LS76，引脚 13（不是引脚 8）是12345671413121110982GND，引脚 5（不是引脚 16）是 VCC 。所以使用集成电路器件时要先看清它的引脚图，找对电源和地，避免因接线错误造成器件损坏。实验设备上的接线端上的接线采用自锁紧插头、插孔（插座） 。使用自锁紧插头、插孔接线时，首先把插头插进插孔中，然后将插头按顺时针方向轻轻一
5、拧则锁紧。拔出插头时，首先按逆时针方向轻轻拧一下插头，使插头和插孔之间松开，然后将插头从插孔中拔出。不要使劲拔插头，以免损坏插头和连线。必须注意，不能带电插、拔器件。插、拔器件只能在关断电源的情况下进行。三、数字电路测试及故障查找、排除设计好一个数字电路后，要对其进行测试，以验证设计是否正确。测试过程中，发现问题要分析原因，找出故障所在，并解决它。数字电路实验也遵循这些原则。1、数字电路测试数字电路测试大体上分为静态测试和动态测试两部分。静态测试指的是，给定数字电路若干组静态输入值，测试数字电路的输出值是否正确。数字电路设计好后，在实验台上连接成一个完整的线路。把线路的输入接逻辑开关输出，线路
6、的输出接逻辑状态指示灯，按功能表或状态表的要求，改变输入状态，观察输入和输出之间的关系是否符合设计要求。静态测试是检查设计是否正确，接线是否无误的重要一步。在静态测试基础上，按设计要求在输入端加动态脉冲信号，观察输出端波形是否符合设计要求，这是动态测试。有些数字电路只需进行静态测试即可，有些数字电路则必须进行动态测试。一般地说，时序电路应进行动态测试。2、数字电路的故障查找和排除在数字电路实验中，出现问题是难免的。重要的是分析问题，找出出现问题的原因，从而解决它。一般地说，有四个方面的原因产生问题（故障）：器件故障、接线错误、设计错误和测试方法不正确。在查找故障过程中，首先要熟悉经常发生的典型
7、故障。（1）器件故障器件故障是器件失效或器件接插问题引起的故障，表现为器件工作不正常。不言而喻，器件失效肯定会引起工作不正常，这需要更换一个好器件。器件接插问题，如管脚折断或者器件的某个（或某些）引脚没插到插座中等，也会使器件工作不正常。对于器件接插错误有时不易发现，需仔细检查。判断器件失效的方法是用集成电路测试仪测试器件。需要指出的是，一般的集成电路测试仪只能检测器件的某些静态特性。对负载能力等静态特性和上升沿、下降沿、延迟时间等动态特性，一般的集成电路测试仪不能测试。测试器件的这些参数，须使用专门的集成电路测试仪。（2）接线错误（3）设计错误（4）测试方法不正确实验二 组合逻辑电路的设计与
8、测试实验内容1.基本逻辑门逻辑实验2.表决电路的设计（参考实验指导教材）3.“半加器”电路的设计（选做内容）31.74LS20（CC4012）逻辑功能验证。管脚排列图如下图 2.1 所示要求：自拟真值表，进行逻辑功能的测试图 2.1 74LS20 管脚图3.半加器电路设计用到的四 2 输入与非门 74LS00 的管脚排列如图 2.2 所示。图 2.2 74LS00 的管脚图用两输入与非门 74LS00 实现半加器，并通过发光二极管显示输出高低电平，高电平点亮。实验内容及步骤：检查与非门：将 74LS00 的 VCC（14 脚）接通 5V 电源，将集成片中 GND 端（7 脚）接地，用万用表测
9、14 脚与 7 脚之间应有 5V 电压。其他管脚均悬空，用万用表的电压挡测量各管脚的对地电压，输入端对地应有 1.01.4V 的电压，而输出端的读数大约为 0.2V 左右。否则，门电路可能已损坏。半加器电路：按自行设计的半加器连好电路，也可参考图 2.3。按表 2.1 验证其逻辑功能。如实测结果与半加器的功能不符，请自行检查线路排除故障。测试过程中，输入高电平可直接接123456789101121314Vc Gnd1D1CBA 1Y2D2ABYC&4VCC，低电平直接接地。测试完成后，电平指示部分电路不要拆，留待以后实验使用（请将这部分电路连接可靠，并放置在合适的位置） 。VVSCR b 1R
10、 c 1T 29 0 1 35 . 1 k5 . 1 kR b 2R c 23 0 03 0 0电 平 指 示 电 路T 19 0 1 3&ABC CC C图 2.3 半加器及输出电平指示电路表 2.1 半加器真值表A B S C0 00 11 01 1实验三 计数器及其应用实验内容1.双 D 触发器 74LS74 逻辑功能测试实验2.D 触发器构成 4 位二进制异步加减法计数器（参考实验指导教材）1.双 D 触发器 74LS74 逻辑功能测试实验双 D 型正边沿触发器（带预置和清除端）74LS74 管脚图如下图 3.1 所示：图 3.1 74LS74 管脚图5双 D 触发器 74LS74 中
11、一个触发器功能测试。（1）将 CLR（复位） 、RP（置位）引脚接实验板上逻辑开关输出，Q、Q 引脚接逻辑状态显示灯，改变 CLR、RP 的电平，观察现象并记录 Q、Q 的值。（2）在步骤（1）的基础上，置 CLR、RP 引脚为高电平，D（数据）引脚接逻辑开关输出，CK（时钟）引脚接单次脉冲。在 D 为高电平和低电平的情况，分别按单次脉冲按钮，观察现象并记录 Q、Q 的值。实验接线图、测试步骤、测试结果图 3.2 74LS74 测试图 1 图 3.3 74LS74 测试图 2图 3.2 和图 3.3 是测试 D 触发器的接线图，K1、K2、K3 是逻辑开关输出，LED1、LED2是逻辑状态指示
12、灯，AK1 是单脉冲按钮，1kHz、10kHz 是时钟脉冲源。测试步骤及结果如下：（1）CLR=0，PR=1，测得Error!=1，Q=0。（2）CLR=1，PR=1，测得Error!=1，Q=0。（3）CLR=1，PR=0，测得Error!=0，Q=1。（4）CLR=1，PR=1，测得Error!=0，Q=1。（5）CLR=0，PR=0，测得Error!=1，Q=1。（6）CLR=1，PR=1，D=1，CK 接单脉冲，按单脉冲按钮，测得Error!=0，Q=1。（7）CLR=1，PR=1，D=0，CK 接单脉冲，按单脉冲按钮，测得Error!=1，Q=0。根据上述测试，得出 D 触发器的功能表如下：输 入 输 出RP CLR CLK D Q Error!L H X X H LH L X X L HL L X X H HH H H H LH H L L HH H L X QO Error!0R11D2C13S45 6UA74LS74LED2LED110kK2 K1
