《数字电子技术实验一 集成逻辑门电路的测试》由会员分享，可在线阅读，更多相关《数字电子技术实验一 集成逻辑门电路的测试（4页珍藏版）》请在金锄头文库上搜索。
1、实验一：集成逻辑门电路的测试一、实验目的：1学会检测常用集成门电路的好坏的简易方法；2掌握 TTL 与非门逻辑功能和主要参数的测试方法；3掌握 TTL 门电路与 CMOS 门电路的主要区别。二、实验仪器与器件：4元器件：74LS20、74LS00(TTL 门电路);4011(CMOS 门电路) ；电阻、电位器若干；5稳压电源、万用表、数字逻辑箱。三、实验原理：6集成逻辑门电路的管脚排列：（1）74LS20（4 输入端双与非门）： ABCDYVCC 2A 2B NC 2C 2D 2Y1A 1B NC 1C 1D 1Y GNDVCC：表示电源正极、GND：表示电源负极、N C：表示空脚。（2） 7
2、4LS00（2 输入端 4 与非门）： ABYVCC 4A 4B 4Y 3A 3B 3Y1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND14 13 12 11 10 9 81 2 3 4 5 6 714 13 12 11 10 9 81 2 3 4 5 6 7（3） 4011（2 输入端 4 与非门）： ABYVCC 4A 4B 4Y 3Y 3B 3A1A 1B 1Y 2Y 2B 2A GND集成门电路管脚的识别方法：将集成门电路的文字标注正对着自己，左下角为 1，然后逆时针方向数管脚。A） TTL 与非门的主要参数有：导通电源电流 ICCL、低电平输入电流 IIL、高电平输入电流 IIH、输出高电
3、平VOH、输出低电平 VOL、阈值电压 VTH 等。注意：不同型号的集成门电路其测试条件及规范值是不同的。B）检测集成门电路的好坏的简易方法：1）在未加电源时，利用万用表的电阻档检查各管脚之间是否有短路现象；2）加电源：利用万用表的电压档首先检查集成电路上是否有电，然后再利用门电路的逻辑功能检查电路。例如：“与非”门逻辑功能是：“有低出高，全高出低” 。对于 TTL 与非门：若将全部输入端悬空测得输出电压为 0.1V 左右，将任一输入端接地测得输出电压为 3V 左右，则说明该门是好的。思考：COMS 与非门如何测试。四、实验内容和步骤：（1） 将 74LS20 加上+5V 电压，检查集成门电路
4、的好坏。（2）TTL 与非门的主要参数测试：导通电源电流 ICCL= 。测试条件：V CC=5V，输入端悬空，输出空载，如图（1） 。14 13 12 11 10 9 81 2 3 4 5 6 7mA+VCC=5VICCLmA+VCC=5VIIL图（1） 图（2） 低电平输入电流 IIL= 。测试条件：V CC=5V，被测输入端通过电流表接地，其余输入端悬空，输出空载，如图（2） ，依次测量每个输入端。高电平输入电流 IIH= 。测试条件：V CC=5V，被测输入端通过电流表接 VCC，其余输入端接地，输出空载，如图（3） ，每个输入端都测一下。注意：在测试中万用表应串入电路中，档位选择应由
5、10mA 档逐渐减小。mA+VCC=5VIIH+VCC=5VVoVi1Vi2图（3） 图（4） 比较 TTL 门电路和 CMOS 门电路的性能：在下列情况下，用万用表电压档测量图（4）V i2 端得到的电压填入表（2）：表（2）：在不同的 Vi1 下 74LS00 4011Vi1 接高电平（3V）Vi1 接低电平（0.4V）Vi1 经 100 电阻接地Vi1 经 10k 电阻接地思考：请回答为何结果不同？五、实验报告要求：（2） 记录本次实验中所得到的各种数据。根据测试数据判断所测与非门的逻辑关系是否正确。（3） 思考并回答下列问题：TTL 与非门中不用的输入端可如何处理？各种处理方法的优缺点是什么？CMOS 与非门呢？
