yam工艺学习资料

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1、YAM 组工艺学习材料一. 彩色显像管的动特性:1、色纯:是描述彩色显像管在单色时的纯正程度,表示某一种基色不受其它两种基色混杂的影响。2、静会聚:是指屏面中央部位 R.G.B 三色的会聚状态。3、动会聚:指屏中心静会聚区域以外有效面内的会聚状态。4、光栅失真:主要分为枕形失真.桶形失真.梯形失真.平行四边形失真。枕形失真.桶形失真 平行四边形失真 梯形失真5、光栅位置:指光栅的几何中心与屏面的几何中心的偏移量。分为垂直光栅位置(VRS).水平光栅位置(HRS).光栅倾斜(RR)三种。6、聚焦:指电子束打到荧光屏上的光点形状很清晰时的聚焦电压。二. ITC 调整步骤及方法1、工艺流程:光管准备

2、开机.消磁截止调整聚焦调整光栅位置调整色纯调整会聚调整色纯检查会聚检查管颈部件固定完成管2、调整步骤及方法:(一) 、准备:在 PCM 紧固部与管颈的接触部位缠一圈胶带以防止在管颈上紧固后出现滑移。然后把 DY.PCM 安装在管颈的规定位置,用电动起子紧固。开机消磁:在确认显像管插座.DY 插座.阳极触头完全接触好后,打开设备电源开关在横一线的状态用消磁线圈对显像管的屏面部锥部进行充分的消磁。把消磁线圈移到距屏面 1m 外切断消磁线圈电源。(二) 、截止调整:在横一线的状态下经调整 Ek.Ec2 电压使 RGB 三色合成为白色光栅。(三) 、光栅位置调整:(1)光栅垂直位置调整:光栅垂直位置超

3、出技术规范时可用二极磁环进行校正。 (2)光栅倾斜调整:沿管轴方向旋转使横一线与标记孔连线重合或平行。(四) 、色纯调整及检查:(1)色纯粗调:把光栅图像打到白场信号,截止红蓝色信号使光栅图像为绿色场。调整 Z 轴手柄把显像管向脱离DY 的方向移动,当荧光面两侧出现红蓝色带时停止。调整二极磁环使两侧的色带面积基本相等,然后调整 Z 轴手柄使两侧的红蓝色带消失,画面全部为绿色场。 (2)着屏状态调整:微调二极磁环和沿管轴方向前后微调和的相对位置使着屏达到规定的状态。 (3)着屏检查标准:着屏状态等级可分为 A.B.C.D.E5 个等级,对应状态如下所述:A:电子束在荧光体的中央.B.C:A 等级

4、与 D 等级的二等分处.D:电子束边沿和荧光体边沿刚好相切.E:电子束偏离荧光体出现欠缺.(五) 、紧固线圈:确认色纯和白场均一性完全进入技术规范后,紧固线圈。(六) 、会聚检查调整:1.静会聚的调整:信号切换到方格信号,阳极电流调到规定值。(1)切换绿色,使平面上显示红、蓝两色,调整四极磁片张角,使画面中央红与蓝的纵线重合;然后保持四极磁片的张角不变,一起旋转使画面中央红与蓝的横线重合。微调四极磁片和旋转使纵线和横线R 色和 B 色会聚达到最佳。(2)接通绿色,使屏显示红.绿.蓝三色,调整六极磁片张角,使绿色与红.蓝色的纵线重合;然后保持六极磁片的张角不变,一起旋转使绿色与红.蓝色的横线重合

5、。微调六极磁片和旋转使纵线和横线 R色和 B 色会聚达到最佳。(3)重复 1、2 项使画面中央 R、G、B 达到最佳会聚。2.动会聚调整:动会聚是调整四边的三色会聚(1)保持偏转线圈的位置不变,把偏转线圈开口部上下移动(称上下摆头) ,使画面上下的兰色和红色的纵线偏差与画面左右的兰色和红色的横线偏差调整到最小。(2)保持偏转线圈的位置不变,把偏转线圈开口部左右移动(简称左右摆头) ,使上下画面横线的红色和兰色与左右画面纵线的红色和兰色偏差调整到最小。(3)经上、下、左、右摆头调整动会聚仍没有进入技术规范时,可用补正材料校正。用一字形铁片从上或下插入可校正 DY 上下摆头的不足;用 形铁片从左或

6、右插入可校正 DY 左右摆头的不足。三、常见不良1、荫罩孔堵:荫罩孔被异物堵塞后,电子束不能通 过该孔,使相应的荧光粉条不发光,光栅下观察类似欠点,但用消磁器消磁时位置发生移动。2、荫罩变形:由于荫罩球面产生变形,使屏和荫罩的局部距离发生变化,破坏了点和束的关系,在光栅图象下,局部着屏偏差大,严重时色纯调不好,白色光偏色或变暗。3、着屏不良:与局部色纯不良的阴罩变形相比,着屏出现色纯不良的范围较大,多出现在角部。4、会聚不良:表现为周边部及中心部的会聚误差大,不能调整到技术规范内。四.一级品、二级品检验规格:(一)一级品检验规格:1、 欠点规格(屏固有欠点、荧光膜欠点)欠点、孔堵、掉粉、气泡、

7、杂质等允 许 个 数 平均直径(MM) A B C 50 内 合计间隔(MM)0.25 略 略 略 2 略 200.260.50 2 4 4 1 6 500.511.00 1 2 2 0 4 501.00 不 允 许 有2、碰伤:平均直径1.0MM,深度0.5MM。3、膜污、混色、M 变等片状不良:单色场下不严重影响画面质量(或执行极限样品) ,且白场等级在 L6 以内。(二)二级品检验规格:1、欠点规格(屏固有欠点,荧光膜欠点):欠点、孔堵、掉粉、气泡、杂质等允 许 个 数平均直径(MM) A B C 50内合计间隔(MM)1.50 略 略 略 0 略1.503.00 4 5 8 0 8 5

8、03.00 不 允 许 有2、碰伤:平均直径3.0 MM ,1.0MM3、膜污、M 变、M 锈、屏腐蚀等执行低对比度欠点规格: A 区:13MM 以内;B 区:50MM 以内。4、备注:能 N 再生的管子不做二级品。五.54CM 检查规格(一)会聚规格:测 定 点 H VC 0.3 0.3L R 0.9 0.8T B 0.9 0.9TR TL BR BL 1.5 1.5TRTLBRBL 1.8 2.0SI 1.3 1.3(二)色纯规格 调试测试点如下图:10 11 12 1 29 38 7 6 5 4对于着屏等级的要求:3.9 点:-AB 到+AB 级,1.2.10.11 点:+AB 到+BC

9、 级,4.5.7.8 点:A 到+B 级(三)NC 装配规格:胶带距管基距离为 501MM,重叠部分为 0 到2MM,磁件 PCM 距管基距离为 1632mm。(四)锁紧强度:3 到 4.5kg;PCM,DY 紧固力矩:6 到 10kg/cm(五)耐压:无打火、SE、聚焦变化等现象。(六)晕光: (七)画面位置:VRS:+1 到4mm;RR-1:01.0mm;(八)FP.WU 的判定:首先对实验管充分消磁,在距离实验管屏面 1到 2 米处,对整幅画面进行白色均一性评价,若在 L-4 以上判定为WU 合格,确认整个画面是均一的判定为 FP 合格。六YAM 调试中一些不良的校正方法1、 YHO Y

10、HV校正方法:纵向弓形,右图一般不会出现。对左图所示用铁氧体片从偏转线圈上面和下面沿锥部同时插入,可校正。但现场没有这种材料,故不校正,对不良的及时下线。2、1)可在 DY 上部插 26,但这样常出现 TB 点 G 偏内。2)可调二极磁件右手将长短磁片张开短下(短的靠枪) ,长上(长的靠锥) ,色纯调好时,张角不变同时逆时针旋转(可使横一线上移)使 TB 点 RB 重合后,再确认一次色纯着屏。同时必须注意横一的高低。3、YHTO 校正方法:可在隔离器上左右内插二个 E 形板,但作用效果较小,对较大的偏差应及时下线。4、校正方法:1)可在 DY 下部插 26,也会出现 TB 点 G 偏内。2)同

11、时也可调整二极磁件,只是方向相反,为顺时针旋转。5、校正方法:这时,最好在上插铁板(26CC) ,既可修正交叉,又可校正 G 偏外。6、校正方法:同样在下面插铁板(26CC) ,既可修正交叉,又可校正G 偏外。7、校正方法:在 DY 内部左侧(面向屏)插入小 E 板,如果线圈右侧有小 E 板,也可取出达到校正目的。8、校正方法:同 7,只是小 E 板插在右侧。9、校正方法:对左上角半点绿掉角,可使左右摆头不到位,让 TB 点 R偏外,B 偏内,然后用 15CC(月牙)进行补正,这样可同时减小半点绿掉角。10、校正方法:在 DY 上下部同时插 26CC,可校正,要注意 TB 点的交叉。11、校正

12、方法:弓形原因有三:1)封口扭曲 2)电子枪扭曲 3)线圈不良,用右图两种方法均可,但它们使横一线上下移动方向不同,此时应兼顾水平横一线的位置,否则 T、B软磁块 点的交叉会变大。注:弓形及相应 VRS 补偿方法:(1) 、弓形(B 枪偏上,红枪偏下)补偿时软磁块白头朝外,右边补(面朝锥部) ,则 VRS 下降;左边补,VRS 上升。(2) 、弓形(B 枪偏下,红枪偏上)补偿时,软磁块白头朝里,左边补,VRS 下降;右补,VRS 上升。(3) 、无弓形,但 VRS 偏高;则在两边同时补,白头均朝右(相对锥部) ,此时 VRS 下降;若 VRS 偏低,补偿方法同上但白头均朝左,此时 VRS 上升。自动线在补偿弓形前,先检查 VRS 高低,若处中值以上,须依照上述方法在补偿弓形的同时将 VRS 降低。12、 校正方法:1) 用 VB15CC(月牙)在屏的左边槽内插入,越靠近管颈补偿力越强,同时注意纵线有无交叉,如有交叉则可将其上下移动,边观察边校正到最佳效果。2) 可用 26CC 同时在线圈上下同时补偿,这种补救偿还可同时对TB 点交叉起一定的作用。但如出现 T、B 点 G 束偏内则不能采用。13、聚焦确认方法:点格信号下,左边第二个十字交叉点,看横线最细最清晰,方为最佳聚焦。着屏等级图示:A 级 B 级 C 级 D 级

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