第二章 电容(相对介电常数)及损耗因数的测量

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1、,2-1 概述2-2 电桥法测量Cx及tan2-3 谐振法测量Cx及tan2-4 测量误差及其消除方法2-5 介电谱的测量,电容(相对介电常数)及损耗因数的测量,1、对相对介电常数r的要求1)储能元件大,使单位体积中储存的能量大 2)一般电工设备小,减小流过的电容电流2、对介质损耗因数tan(介质损耗角正切)的要求 1)一般电工设备中用的电介质和绝缘体小,否则易消耗浪费电能,使介质发热,容易造成老化或损坏 2)特殊要求利用介质发热大3、测量目的:1)检验评定电工设备、元件的性能,选择合适的绝缘材料 2)通过测量,来判断绝缘系统中的含湿量、老化程度等 3)测量其频率谱和温度谱,可作为研究电介质和

2、绝缘材料物质结构的一种手段,2-1 概述,相对介电常数r,定义: 在同一电极结构中,电极周围充满介质时的电容Cx与周围是真空 时的电容C0(几何电容)之比 若为平行板电极 A电极面积(m2), t电极间距离(m), 08.85410-12(F/m) r是测量电容Cx及与电极、试品有关的尺寸,损耗因数tan,定义:试品在施加电压时所消耗的有功功率与无功功率的比值,即介质损耗角的正切tan介质无损耗时,电流与电压相位差为90o介质有损耗时,电流于电压相位差为90o-,电路分析法计算tan,并联 串联说明:1、并联等效阻抗能切实反映绝缘体中有泄漏电流的事实Cx=Cp ,当tanZ3,ZNZ4,电桥上

3、施加的电压绝大部分都降落在高压桥臂上电桥灵敏度与电桥本身结构、电桥上施加的电压幅值及频率、以及电桥的平衡指示器有关:1)比例臂两阻抗相等时(串接部分),灵敏度最高;2)电压、频率越高、指示器可测出的电流或电压越小,电桥灵敏度就越高。,电桥的四个桥臂都是由电阻电容组成的电桥(最常用)。,精密西林电桥(高压),采取措施,消除或减小对电桥结构上可能造成的误差1)减小标准电容器的损耗 标准电阻正常情况下tanN10-5,若受潮,受污染,或是电压太高出现局部放电,则会增大几个数量级,使用时应保证标准电阻干净、无局部放电2)减小杂散电容的影响 试品低压端连接到桥臂及平衡指示器要用屏蔽线,且屏蔽线外屏蔽接地

4、,采用电位自动跟踪器(输入阻抗很高1012,放大倍数1,无相位移的放大器),保证C、D零电位3)减小残余电感及零电容的影响 R4中点加可调电容,大电容电桥,精密西林电桥内电阻R3允许的最大电流为30mA,电容量很大的试品,如电力电容器,长电缆等,高压下会流过很大的电流,在R3上并联电阻分流器(a);当电流更大时,要用精密电流互感器(b),反接和对角线接地电桥,反接电桥:若试品一端必须接地,精密西林电桥不能使用,将电桥接地端改到高阻抗桥臂一端安全性:低压桥臂安装在法拉第笼S内,S用绝缘子N支撑,N上加保护金属环K,减小绝缘子泄露电流的影响对角线接地电桥:电桥在C点接地,试验变压器两端都不能接地,

5、低压阻容电桥(适用于薄膜材料),适用:薄膜材料及某些电子器件,不允许施加过高电压,要采用低压电桥(不大于100V),比例臂的两个阻抗可以做的很接近,弥补由于电压降低而造成的电桥灵敏度的降低 1、电容比例臂电桥 2、电阻比例臂电桥,C1,G1接上试品:Ci,Gi取掉试品:Co,Go适用于50Hz及以下超低频,变压器电桥电感比例臂电桥,桥臂:试品,标准电容器,两个电感(一)电流比变压器电桥:电感桥臂与平衡指示器回路耦合适用:试品工作电压高,高电压下测量,又称为高压变压器电桥,(二)电压比变压器电桥:电感桥臂与电桥的电源耦合适用:施加于电桥的电压不高时,加瓦格纳接地,(三)自动平衡电桥:电压比例臂变

6、压器电桥制成选择标准元件RN,CN,自动平衡的改变UR,UC,直到电桥平衡数字式自动平衡电桥LR,CR锁相器;ADA模数、数模转换器;不接试品,选择RN,CN;接试品,自动调节UC,URd:试样厚度 A:电极面积 CN:标准电容 Ux:施加于试样上的电压 Uc:记录的信号RN:标准电阻 UR:记录的信号 0:电流电导率 :损耗指数,双T电桥,两个T形网络并联组成输入端接电源E输出端接平衡指示器G测量过程1、闭合开关,接入试品,C2i,C3i2、打开开关,不接试品,C2o,C3o精度:公共接地O,a端对地杂散阻抗与电源并联,b端对地杂散阻抗与指示器并联,不会引入测量误差。可在50kHz50MHz

7、范围内保持较高的准确度,电桥法的局限性:1、随频率提高,测量回路中的杂散电容及电感对测量结果的影响增大2、电桥回路和元件的杂散电容及电感较大,一般适用于测量频率在MHz以下谐振法优点:1、测量频率在MHz以上2、谐振法测试回路简单,用的元件少,杂散电容及电感较小3、用替代法测量,可把部分固定的误差减除4、在很高测量频率(GHz)下,可使测量误差减到允许范围,2-3 谐振法测量Cx及tan,谐振法测量电容,1、由电感L和调谐电容C组成,损耗用等效电导Go表示2、谐振回路品质因数Qo和损耗因数tan是倒数关系3、电压表V用以测量C两端的电压4、测量电容CP:根据谐振条件求得 1)闭合S,接入试品,

8、调C使电路谐振Ci 2)打开S,不接试品,调C出现谐振,Co 3)试品电容为:5、两次测量值均有误差,但只要误差是相同的,在计算偏差时可以消除,是替代法的优点,变Q法测量tan,1、谐振回路的品质因数Q值和tan成倒数关系2、Q值可用谐振时调谐电容器C两端的电压Ur与电源电压U0之比表示3、 Q值可以用Q表测量4、谐振回路接与不接试品,回路Q值不同,接试品时Q小1)不接试品时 2)接试品时3)试品损耗因数为,Q表,1、电源:频率和幅值都可变的高频正弦电压发生器,频率:几十kHz几百MHz;电压:几V。要求负载能力很强,输出阻抗很小,频率和幅值在负载变化时都很稳定2、谐振回路:电感L和谐振电容C

9、组成。C:30500pF;电感L:外插的独立元件,测量频率较高时,选较小的电感量。要求回路的损耗小,即Qo值大。3、电压表:用以测量电源及调谐电容C两端的电压,后者要求输入阻抗很高,很灵敏,通常是电力毫伏表,变电纳法测量tan,1、谐振曲线的宽度C与谐振回路的损耗有一定的关系,损耗越大,C就越大2、利用接和不接试品两种情况下,回路谐振曲线宽度C的变化来测量试品的tan3、接入试品测试1)调C使回路谐振,谐振电压Uri,计算 2)调大C,使UC下降为Usi,记C为Cbi3)调小C,使UC上升为Uri后再降到Usi,记C为Cai4、不接试品测试1)调C使电路谐振,谐振电压Uro ,计算2)调大C,

10、使UC下降为Uso,记C为Cbo3)调小C,使UC上升为Uro后再降到Uso,记C为Cai,要求电源电压和频率稳定,谐振回路的损耗小,并有微调电容器,比变Q值法具有较高的灵敏度和准确度,但操作较烦,一、外来电磁场干扰试品空间中的电磁场,在试品测试回路中产生干扰电流消除:1)屏蔽法:试品的测试系统和干扰源之间用金属板或网屏蔽起来,使电磁场透过屏蔽层时大大衰减,衰减程度与屏蔽材料的电导率、磁导率、金属板的厚度以及被衰减的电磁波的频率有关。适用于实验室内,在变电站等现场试验中无法采用。2)倒向法:在正相和反相电压下,两次测量检测:磁场干扰主要是影响指示电桥平衡的检流计的正常工作,即改变其中的固有磁场

11、。测量前先把检流计的输入开关置于断开位置,若只是不为零,说明有外来磁场的干扰,可移动电桥和检流计位置,直到指示为零。或采用倒向法测量后计算,2-4 测量误差及其消除方法,二、外界耦合阻抗 外来阻抗与试品或任一桥臂耦合,对测量结果造成严重影响1)星形阻抗与试品耦合:耦合阻抗不同,对测得电容及tan影响不同2)变压器旁放置木梯电容偏大, tan偏小3)电机棒放在桌子上电容和损耗因数都偏大,三、电极、电导等可能造成的误差:误差随测量频率的提高而增大1、连接导线的电阻、电感以及分布电容带来误差分析接线电感和电阻影响时,试品用串联等效电路表示测量频率很高(几MHz以上),试品电容很大,接线很长时,要注意

12、接线电感及电阻的影响分析接线电容影响时,试品用并联等效电路表示测得的电容偏大,损耗因数偏小,2、对于原材料或某些部件,测量时必须加上电极才能加电压,电极与试品间 接触不好带来误差电极与试品之间接触不良,即电极与试品之间存在一夹层,在电极之间的电场中,除了试品外还有夹层测得的电容总是偏小若夹层tan小于试品,则测得的tan偏小,如空气若夹层tan大于试品,则测得的tan偏大,如很脏的粘合剂或水,3、电极边缘的影响1)某些场合不能使用三电极系统,各种元器件、各种绝缘材料在高频下用谐振法测量电容及损耗因数用两电极2)电极边缘的电力线仍然通过试品的表面及试品周围的媒质3)可用并联等效阻抗分析试品表面及周围媒质对测量结果的影响测得的电容总是偏大若边缘tanb小于试品,则测得的tan偏小若夹层tanb大于试品,则测得的tan偏大,4、消除或减少接线及电极带来误差的方法简单方法用较粗的架空短接线,用替代法时,不接试品时,将接线保留在测试系统中用损耗因数与试品相同、介电常数很小的粘合剂涂在电极与试品的表面使两者接触好用三电极系统可避免电极边缘效应的影响测微电极高频下测量绝缘材料的专用电极夹具试品放在高压电极与接地电极之间,

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