《电工实验集成门电路的逻辑变换及应用》由会员分享，可在线阅读，更多相关《电工实验集成门电路的逻辑变换及应用（15页珍藏版）》请在金锄头文库上搜索。
1、实验5.3.1 集成门电路的逻辑变换及应用,一、实验目的,1.熟悉数字实验箱和双踪示波器的使用方法。2.掌握集成与非门的逻辑功能及其测试方法。3.掌握由集成与非门组成其他逻辑门电路的方法并测试其功能4.门电路对数字信号传输的控制作用。5.进一步理解集成与非门逻辑电路的设计过程。6.学习查阅集成电路器件手册，熟悉集成与非门的外形和管脚。,二、实验器材,数字逻辑实验箱 1台双踪示波器 1台数字万用表 1台,74LS00 2块74LS20 1块,1检查与非门的功能。2用与非门组成其他逻辑门电路并测试功能。（1）用与非门组成与门。（2）用与非门组成或门。（3）用与非门组成或非门。（4）用与非门组成异或
2、门。（5）用与非门组成同或门。3测试控制门的功能。,波形由实验箱中时钟信号提供,三、实验内容,1.检查连接导线；2.测试芯片的逻辑功能；3.按逻辑电路图连接电路；4.按所设计的真值表操作电路输入端，观察输出端，验证结果；5.得出实验结论；6.电路故障的排除（用逐点测试法）。,四、电路连接步骤,（1）芯片是否出现故障,（2）每一根导线是否导通；（3）芯片和导线是否完全插入实验板中；先检查芯片上的“电源”和“地”是否接对；有没有电压，用万用表测量。（4）所搭电路的连线是否正确； 接电路时，要断开电源；接好电路，确认无误通电；做完实验后，关掉电源，再拆电路。,电路故障的排除方法,蜂鸣档,1. 测试导
3、线,（1）管脚识别,,2. 测试芯片,Quad 2-input NAND Gate,门电路的测试(以74LS00为例),将管脚1、2、4、5、9、10、12、13依次分别接电平开关，管脚3、6、8、11分别接电平显示，将电平开关按真值表置位，分别测输出电压及逻辑状态。,将14脚（VCC）接通5V电源，将7脚（GND）接地，用万用表测14脚与7脚间应有5V电压；,数字实验箱介绍,五、实验仪器应用,集成电路有缺口一侧向左,输入是高电平的时候指示灯亮,开关打在上面的时候，输出为高电平；反之，输出为低电平,TTL：（1）工作电压 ：5V+10%；（2）多余输入端的处理 ： 悬空为高，但不稳定，易受干扰
4、，需按逻辑要求接入电路；（3）输出端的处理 ： 一般不允许并联使用，不允许直接接地或接5V电源。,CMOS：（1）工作电压 ：+3V-+18V , （2）多余输入端的处理 ：所有输入端都不允许悬空,不使用的输入端应按逻辑电平要求通过电阻接电源或地；（3）输出端的处理 ： 输出端不允许直接与电源或地连接,同一芯片上的输出端可以并联使用 。（4）输入信号幅度不能超过VDDVSS。,TTL与CMOS,1. 实验前：用万用表“欧姆挡”或“蜂鸣档”检测导线，每次使用完，应将万用表置于测电压档位。 2.电路连线时，先连芯片的电源和地的管脚，再连接其他管脚。3.TTL芯片的多余输入端的处理 ： 悬空为高，但不稳定，需按逻辑要求接入电路；输出端的处理 ： 一般不允许并联使用，不允许直接接地或接5V电源；4.注意仪器设备和电路的地要共地。5.严禁带电操作。,六、注意事项,
