《计算机组成原理》第10章实训

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1、2007.7.2,计算机组成原理,1,第10章 实训, 实训一 运算器 实训二 存储器实训三 微控制器实验实训四 基本模型机设计与实现,2007.7.2,计算机组成原理,2,一、实训目的,1了解运算器的组成结构。2掌握运算器的工作原理。3掌握简单运算器的数据传输方式。4验证运算功能发生器(74LS181)及进位控制的组 合功能。,2007.7.2,计算机组成原理,3,二、实训要求,完成不带进位及带进位算术运算和逻辑运算训练,了解算术逻辑运算单元的运用。,三、实训原理,1运算器的设计原理(1)使用基本的门电路构成1位全加器。(2)利用进位传递逻辑将其构成N位并行加法器。(3)利用多路选择逻辑实现

2、多种输入输出组合选 择,使加法器扩展为多功能的算术逻辑运算。,2007.7.2,计算机组成原理,4,(4)利用多路选择逻辑实现移位功能。(5)使用加法器与移位器组合构成乘法器和除法器。(6)使用两个(定点)运算器部件的组合则可构成一个浮点运算器。274LS181运算器 74LS181是一个四位ALU单元,它是由4个一位全加器以及进位电路构成。下面给出了正逻辑74LS 181的逻辑图如图10-1所示,其功能表见表10-1。,2007.7.2,计算机组成原理,5,图10-1 正逻辑74LS181的逻辑图,2007.7.2,计算机组成原理,6,表10-1 74LS181逻辑功能表(注意:“”为算术加

3、,“|”为逻辑或,“”为算术减。),2007.7.2,计算机组成原理,7,四、实训电路,1. 基本运算部件 图10-2所示的是由两片74LS181芯片构成的8位字长的运算器。右方为低4位运算芯片,左方为高4位运算芯片。低位芯片的进位输出端Cn+4与高位芯片的进位输入端Cn相连,高位芯片的输出端Cn+4可连至进位锁存电路,以保存此进位。 两个芯片的控制端S0S3和M各自相连,其控制电平如表10-1。,2007.7.2,计算机组成原理,8,为进行双操作数运算,运算器的两个数据输入端分别由两个数据暂存器DR1、DR2(74LS273实现)来锁存数据。要将内总线上的数据锁存到DR1或DR2中,则锁存器

4、74LS273的控制端LDDR1或LDDR2须为高电平。当T4脉冲来到的时候,总线上的数据就被锁存进DR1或DR2中了。 为了控制运算器向内总线上输出运算结果,在其输出端连接了一个三态门(74LS245实现)。若要将运算结果输出到总线上,则要将三态门74LS245的控制端ALU-B置低电平。,2007.7.2,计算机组成原理,9,2进位控制运算部件 在图10-2的基础上增加进位控制部分,可设计出进位控制运算部件实训原理图如图10-3所示。其中181的进位进入一个74LS74锁存器,其写入是由T4和AR信号控制,T4是脉冲信号,实验时将T4连至“STATE UNIT”的微动开关KK2上。AR是电

5、平控制信号(低电平有效),可用于实现带进位控制实验,而T4脉冲是将本次运算的进位结果锁存到进位锁存器中。,2007.7.2,计算机组成原理,10,(下面两个图中S0、S1、S2、S3只和两片181连接,不连245),图10-2 运算器实训原理图,2007.7.2,计算机组成原理,11,图10-3 进位控制实训原理图,2007.7.2,计算机组成原理,12,五、实训步骤,1算术逻辑运算(1)实训说明 实训电路如图10-2所示。其中运算器由两片74LS181构成8位字长的ALU。运算器的输出经过一个三态门(74LS245)到AUJ3插座,再通过连接排线连接到内总线上。运算器的两个数据输入端分别由两

6、个锁存器(74LS373)锁存,锁存器的输入端已经连接到内总线上了。,2007.7.2,计算机组成原理,13,数据输入单元用以给出参与运算的数据。其中输入开关经过一个三态门(74LS245)和内总线相连,该三态门的控制信号位SW-B,取低电平时,开关上的数据则通过三态门而送入内总线中。 总线显示灯(在BUS UNIT单元中)已与内总线相连,用来显示内总线上的数据。 控制信号中除T4为脉冲信号,其它信号均为电平信号。,2007.7.2,计算机组成原理,14,由于实训电路中的时序信号均已连至“JT UNIT”单元中的相应时序信号引出端,因此,需要将“JT UNIT”单元中的T4接至“STATE U

7、NIT”单元中的微动开关KK2的输出端。在进行实验时,按动微动开关,即可获得实验所需的单脉冲,如图10-4所示。 S3、S2、S1、S0、Cn、M、LDDR1、LDDR2、ALU-B,SW-B各电平控制信号则使用“SWTICH UNIT”单元中的二进制数据开关来模拟,其中Cn、ALU-B、SW-B为低电平有效,LDDR1、LDDR2为高电平有效。上述实训信号连接情况如图10-4所示。,2007.7.2,计算机组成原理,15,图10-4 运算器实训接线图,2007.7.2,计算机组成原理,16,(2)操作步骤 按图10-4连接实训电路并检查无误后打开电源开关。图中将用户需要连接的信号线用小圆圈标

8、明。 用输入开关向暂存器DR1置数,操作流程如图10-5所示。 a. 拨动输入开关形成二进制数01100101(或其它数值)。(数据显示灯亮为0,灭为1)。 b. 使SWITCH UNIT单元中的开关SW-B=0(打开数据输入三态门)、ALU-B=1(关闭ALU输出三态门)、LDDR1=1(为打开DR1输入准备)、LDDR2=0(关闭DR2输入)。,2007.7.2,计算机组成原理,17,c. 按动微动开关KK2(产生T4脉冲信号),与LDDR1信号一起,将二进制数01100101置入DR1中。 输入开关向暂存器DR2置数,操作流程如图10-5所示。 a. 拨动输入开关形成二进制数101001

9、11(或其它数值)。(数据显示灯亮为0,灭为1)。 b. 使SWITCH UNIT单元中的开关SW-B=0(打开数据输入三态门)、ALU-B=1(关闭ALU输出三态门)、LDDR1=0(关闭DR1输入)、LDDR2=1(为打开DR2输入准备)。,2007.7.2,计算机组成原理,18,c. 按动微动开关KK2(产生T4脉冲信号),与LDDR2信号一起,将二进制数01100101置入DR2 中。 检查DR1和DR2中存在的数是否正确。 a. 使SWITCH UNIT单元中的开关SW-B=1(关闭数据输入三态门)、ALU-B=0(关闭ALU输出三态门)、LDDR1=0(关闭DR1输入)、LDDR2

10、=0(关闭DR2输入)。 b. 置S3、S2、S1、S0、M为11111,总线显示灯则显示DR1中的数。 c. 置S3、S2、S1、S0、M为10101,总线显示灯则显示DR2中的数。,2007.7.2,计算机组成原理,19,改变运算器的功能设置,观察运算器的输出。 a. 保持SW-B、ALU-B=0保持不变。 b. 按表1.1置S3、S2、S1、S0、M、Cn的数值,并观察总线显示灯显示的结果。例如:置S3、S2、S1、S0、M、Cn为100101,运算器作加法运算置S3、S2、S1、S0、M、Cn为011000,运算器作减法运算。,2007.7.2,计算机组成原理,20,图10-5 向DR

11、1和DR2寄存器置数操作流程,2007.7.2,计算机组成原理,21,2. 进位控制运算 (1)实训说明 进位控制运算器的实训原理如图10-3所示,在算术逻辑运算实训的基础上增加进位控制部分,使ALU的进位进入到进位锁存器中。其写入是由T4和AR信号控制。T4为脉冲信号;AR是电平控制信号,低电平有效。当T4脉冲来到时,则将本次运算的进位结果锁存到进位锁存器中。,2007.7.2,计算机组成原理,22,图106 进位控制实训接线 (上图方格内竖线不需要),2007.7.2,计算机组成原理,23,(2)操作步骤 按图10-6连接实验电路并检查无误。 打开电源开关。 用输入开关向暂存器DR1和DR

12、2置数。操作流程如图10-5所示。 关闭数据输入三态门(SW-B=1),打开ALU输出三态门(ALU-B=0),并使LDDR1=0、LDDR2=0,关闭寄存器。 对进位标志清零。 置S3、S2、S1、S0、M的状态为0 0 0 0 0,置AR的状态为0。(清零时DR1中的数不应等于FF)。按动微动开关KK2。 注:进位标志指示灯CY亮时表示进位标志为“0”,无进位;标志指示灯CY灭时表示进位为“1”,有进位。,2007.7.2,计算机组成原理,24,验证带进位运算及进位锁存功能。 使Cn=1,AR=0,进行带进位算术运算。 例如,进行加法运算,使ALU-B=0,S3 S2 S1 S0 M状态为

13、10010,此时数据总线上显示的数据为DR1加DR2加当前进位标志,这个结果是否有进位产生,则要按动微动开关KK2,若进位标志灯亮,则无进位,反之则有进位。因为做加法运算时数据总线一直显示的数据为DR1+DR2+CY,所以当有进位输入到进位锁存器后,总线显示的数据为加上进位位的结果。,思考:在8位运算器的基础上,如何设计16位运算器?,2007.7.2,计算机组成原理,25,六、练习,验证74LS181的算术运算和逻辑运算功能: 在给定DR1=65H、DR2=A7H的情况下,改变运算器的功能设置,观察运算器的输出,填入下表中,并和理论分析进行比较、验证。,2007.7.2,计算机组成原理,26

14、,2007.7.2,计算机组成原理,27,实训二 存储器,1熟悉存储器和总线组成的硬件电路。 2掌握静态随机存储器RAM工作特性及数据的读写方法。,一、实训目的,2007.7.2,计算机组成原理,28,按照实训步骤完成实训项目,利用存储器和总线进行数据传输。,二、实训要求,三、实训原理,半导体存储芯片采用超大规模集成电路制造工艺,其结构如图10-7所示。,2007.7.2,计算机组成原理,29,图10-7 半导体存储芯片结构,存储芯片通过地址总线、数据总线和控制总线与外部连接。地址线是单向输入,数据线是双向输入输出,数据线和地址的位数共同反映存储芯片的容量。例如:地址线为10根,数据线为8根,

15、则芯片容量为210840964KB。,2007.7.2,计算机组成原理,30,控制线主要有读/写控制线WE与片选线CE两种。读/写控制线决定芯片进行读/写操作,片选线用来选择存储芯片(通常主存由多个存储芯片构成)。,四、实训电路,所用的半导体静态存储器电路原理如图10-8所示。实训中的静态存储器由一片6116(2K8)构成,其数据线接至数据总线,地址总线由地址锁存器(74LS273)给出,地址灯AD0AD7与地址线相连,显示地址线内容。数据开关经一三态门(74LS245)连至数据总线,分时给出地址和数据。,2007.7.2,计算机组成原理,31,因为地址寄存器为8位,接入6116的地址A7A0,而高三位A8A10接地,所以其实际容量为256字节。6116有三个控制线:CE(片选线)、OE(读线)、WE(写线)。当片选有效(CE=0)时,OE=0时进行读操作,WE=0时进行写操作。本实验中将OE常接地,在此种情况下,当CE=0、WE=0时进行读操作,CE=0、WE=1时进行写操作,其写时间与T3脉冲宽度一致。 操作时将T3脉冲接至实验板上时序电路模块的TS3相应插孔中,其脉冲宽度可调,其它电平控制信号由“SWITCH UNIT”单元的二进制开关模拟,其中SW-B为低电平有效,LDAR为高电平有效。,

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