器件集成与非门电路参数的测试实验报告

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1、+Vo-+Vi-3127+5V +5V14集成与非门电路参数的测试一、 实验目的(1)TTL 和 CMOS 与非门的电压传输特性的测试(2)TTL 和 CMOS 与非门的主要参数及测试方法二、 实验器件(1)HBE 硬件基础电路实验箱、双踪示波器、数字万用表(2)元器件:74LS00、CD4011三、 实验内容1. 测试与非门 74LS00 的电压传输特性测量电路原理如图所示,调节电位器 RW,使 Vi 从 0V 向 5V 变化,逐点测试 Vi和 Vo,列表记录 Vi 和 Vo 值。根据测试数据画出门电路的传输特性曲线。电路连线:实验数据:传输特性曲线:Vi 0.45 0.73 0.83 1.

2、11 1.28 1.39 1.47 1.58 1.69Vo 4.44 4.43 4.42 4.24 3.29 2.33 1.52 0.13 0.13&VV12 3Vi +5.00VVDD +5V714CH1CH20 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.2 1.4 1.6 1.8 Vi/VVo/V4.543.532.521.510.5原理:根据调节上拉电阻接入电路中的电阻值来调节 Vo 和 Vi 的大小从而得出关系曲线。2. 与非门电压传输特性曲线与 TTL 与非门电压传输特性曲线测试方法基本一样。这是将不用的输入端接到电源+V DD(+5V)上即可,不得悬空。下图为用示波器 X-Y 方式的测试电路,输入信号电压 Vi应为+5V 正弦直流电压。电路连线:如上图。示波器显示:原理:利用信号发生器产生一个连续信号在电路图中的 Vi 端输入到电路中,&再用示波器的 X-Y 方式显示电路中的 CH1 和 CH2 信号的关系图像,动态测试与非门电压传输特性曲线。四、 实验心得此次实验内容很少,但任然花了好长时间才做出来,而且还是在老师帮助下。示波器调节比较难弄,连线也有些纠结,通过此次实验我更加深入得了解了示波器的使用,初步掌握了 TTL 和 CMOS 与非门的电压传输特性的测试。

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