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1、YD/T XXXXXXXX 9 A A 附 录 A （规范性附录） 测试场地与辐射测试的场地布置指南 A.1 开阔测试场或半电波暗室 开阔测试场或半电波暗室应符合GB/T 9254对测试场地的相应要求。 在1GHz以下频段，测量收发天线的测试距离不小于3m。在1GHz以上频段，选择合适的测试距离。被 测设备大小应小于测试距离的20%。被测设备架高或替代用天线架高要求为1.5m，测量天线架高要求在 1m4m范围内调整。 为确保因测试场地附近有障碍物而产生的反射波信号对测试结果没有影响，测试场地应满足如下 条件： a) 测试场地近处不能有直径大于测试最高频率对应波长的四分之一（4，为波长）的导电
2、物体存在； b) 连接电缆尽量沿地板表面铺设，最好铺设在地板下面，低阻抗电缆要采用屏蔽电缆。 典型的测试布置如图A.1所示。 1被测设备； 2测量天线； 3滤波器组； 4频谱仪或测量接收机。 图A.1 测试布置图 YD/T XXXXXXXX 10 A.2 全电波暗室 全电波暗室是一种室内装有射频吸收材料的全屏蔽室，用来模拟电磁波传播的自由空间环境，它 是完成设备辐射发射测试的替换场地。测量天线、被测设备和其替代用天线的测试布置同开阔测试场 相似，但它们离地板的架设高度是固定的。 关于全电波暗室屏蔽效能和墙面反射损耗的指标要求见表A.1、表A.2。要求全电波暗室内被测设 备到测量天线的空间传输损
3、耗与在自由空间环境下的传输损耗的偏差在 4dB以内。 表A.1 全电波暗室屏蔽效能指标要求 频率范围频率范围 屏蔽效能最低限值屏蔽效能最低限值(dB) 10kHz100kHz 60 100kHz30MHz 80 30MHz10GHz 105 表A.2 全电波暗室墙面反射损耗指标要求 频率范围频率范围 反射损耗最低限值反射损耗最低限值(dB) 30MHz100MHz 10 100MHz300MHz 22 300MHz10GHz 30 A.3 测量天线 测量天线的物理尺寸不能超过测试距离的20。 测量天线应适合于极化波的接收， 应安装在水平臂 的末端， 应允许天线能按测量电场的水平分量或垂直分量来
4、定位安装。 当按垂直极化取向及在最低位置 安装时，天线的低端应至少离地0.3m。 A.4 替代用天线 替代用天线的增益精度在 1dB以内。 YD/T XXXXXXXX 11 附 录 B （规范性附录） 辐射杂散发射的通用测试方法 B.1 辐射杂散发射测试 辐射杂散发射测试要在全电波暗室内按照如下图B.1的布置进行。进行测试时，测量天线要正对被 测设备的最大辐射电平方位，将测量方位记录在测试报告中，并在该方位上进行相关的测量。 1被测设备； 2测量天线； 3频谱分析仪。 图 B.1 测试布置示意图 辐射杂散发射测试程序如下： a) 测试场地要满足指定测试频段的测试要求，被测设备放置在标准转台（或
5、支架）上，除非特别 要求，测量天线要垂直极化正对被测设备，天线高度与被测设备的高度相同； b) 设置频谱分析仪为峰值检波方式。 在规定的辐射杂散发射测试频段内进行扫描， 搜索除免测频 段以外的由被测设备产生的有效杂散发射频谱分量。 若有必要， 对测量天线在较小范围内进行 升降，使频谱分析仪获得有效输出频谱分量的最大功率读数； c) 旋转被测设备，使频谱分析仪获得最大电平读数。若有必要，再次对测量天线在较小范围内进 行升降， 使频谱分析仪在上述最大电平读数基础上获得更大电平读数， 记录有效频谱分量的频 率和最大电平读数在测试报告中； d) 将测量天线设置为水平极化位置，重复上述测试过程。 B.2
6、 替代测试 YD/T XXXXXXXX 12 用上述B.1的测试方法获得的测试数据并非最终的测试结果，被测设备产生的杂散信号的实际发射 电平需要用替代测试来确定。 替代测试的原理是用已知的信号发生器替代被测设备， 从而定量给出被测 设备产生的各个信号的发射电平，测试连接如图B.2所示。替代用天线替代被测设备放置在原位置处， 并且是垂直极化方式，信号发生器频率调谐至B.1测试过程中的各个信号的测试频率。调整信号发生器 输出功率大小，使得测量频谱分析仪获得与在B.1测试过程中记录的测试电平相同。则对应频率信号的 辐射发射功率即为信号发生器输出电平与替代用天线的增益之和减去连接电缆损耗后的计算值， 这样就 得到了各个频率信号的实际辐射功率。 1替代用天线； 2测量天线； 3频谱分析仪； 4信号发生器。 图 B.2 测试布置示图二
