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1、P. 1,SPC统计过程控制(SPC统计量介绍),P. 2,常用统计量,Mean:(平均值) Max:(最大值) Min:(最小值) Range:(Max Min最大跨距) StdDev标准差 Cp:(过程能力指数) Cr:(过程能力比值 ) k:(偏移系数 ) Cpu:(上限过程能力指数 ) Cpl:(下限过程能力指数 ) Cpk:(过程能力指数 ) Cpm:(目标能力指数) Zu(Cap) :(规格上限SIGMA水平) Zl(Cap) :(规格下限SIGMA水平) Fpu(Cap): (超出规格上限机率),P. 3,常用统计量,Fpl(Cap):(超出规格下限机率) Fp(Cap):(超出
2、规格限的机率) Pp:(过程性能指数 ) Pr:(过程性能比值 ) Ppu:(上限过程性能指数 ) Ppl:(下限过程性能指数 ) Ppk:(过程性能指数 ) Ppm:(目标过程性能指数) Zu(Perf):(规格上限SIGMA水平) Zl(Perf):(规格上限SIGMA水平) Fpu(Perf):(超出规格上限机率) Fpl(Perf):(超出规格下限机率) Fp(Perf): (超出规格界线的机率) Skewness:(偏度) Kurtosis:(峰度),P. 4,计算公式,2、Max最大值,3、Min最小值,4、Range最大跨距,1、Mean均值,例:X1=2,X2=4,X3=6,X
3、4=4,求Mean=(2+4+6+4)/4=4,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Max(2,4,6,4)=6,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Min(2,4,6,4)=2,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Range(2,4,6,4)=6-2=4,P. 5,计算公式,6、Cp:(过程能力指数),7、Cr:(过程能力比值 ),5、StdDev标准差,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求,例:产品规格为(400.5),产品标准差为0.4,试计算CP CP=(40.5-39.5)/(6*0.4)=1/2.4=0.42,例:产品规格为(400.5),产
4、品标准差为0.4,试计算Cr Cr=(6*0.4)/(40.5-39.5)=2.4,P. 6,计算公式,8、k:(偏移系数 ),例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,试计算K K=(40.2-40)/(40.5-39.5)/2)=0.4,评价产品检验结果偏离规格中心程度的质量指标!,规格中心M,产品均值,规格宽度T,K越大说明产品均值偏离中心值越远;,P. 7,计算公式,规格下限LSL,产品均值,规格上限USL,所有检验数据形成一个数据分布,而用 可以衡量数据分布离散的大小; 越小分布越好,数据越集中,9、Cpu:(上限过程能力指数 ),例:产品规格为(400.5),产品均值为40
5、.2,产品标准差为0.4试计算Cpu; Cpu =(40.5-40.2)/(0.4*3)=0.3/1.2=0.25,Cpu越大,产品检验数据超出上限的概率就越小,也就是说产品超出上限的不合格品数量就越少;,P. 8,计算公式,10、Cpl:(下限过程能力指数 ),例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpl; Cpl =(40.2-39.5)/(0.4*3)=0.7/1.2=0.58,规格下限LSL,产品均值,规格上限USL,所有检验数据形成一个数据分布,而用 可以衡量数据分布离散的大小; 越小分布越好,数据越集中,Cpl越大,产品检验数据超出下限的概率就越
6、小,也就是说产品超出下限的不合格品数量就越少;,P. 9,计算公式,12、Cpm:(目标能力指数),11、Cpk:(修正的过程能力指数 ),Cpk=Min（Cpl，Cpu）=Cp(1-k),例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpk; Cpk =Min(0.25,0.58)=0.25 或Cpk =0.42*(1-0.4)=0.25,例:产品规格为(400.5),目标值为40.2,产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpm; Cpm=1/2.4=0.42,P. 10,计算公式,产品均值,规格上限USL,13、Zu(Cap) :(规格上限SIGMA水平
7、),Zu(Cap)表示产品均值离 规格上限有多少倍标准差? 也表示为几个SIGMA,P. 11,计算公式,产品均值,规格上限USL,Zl(Cap)表示产品均值离 规格下限有多少倍标准差? 也表示为几个SIGMA,14、Zl(Cap) :(规格下限SIGMA水平),P. 12,计算公式,Fpu(Cap)表示产品检验 结果超出规格上限的概率,15、Fpu(Cap): (超出规格上限概率),规格上限USL,P. 13,计算公式,Fpl(Cap)表示产品检验 结果超出规格下限的概率,规格上限USL,16、Fpl(Cap):(超出规格下限机率),P. 14,计算公式,Fpl(Cap)表示产品检验 结果超
8、出规格下限的概率,规格上限USL,规格上限LSL,17、 Fp(Cap):(超出产品规格上下限的概率),P. 15,计算公式,18、 Pp:(过程性能指数 ),19、 Pr:(过程性能比值 ),P. 16,计算公式,20、Ppu:(上限过程性能指数 ),21、Ppl:(下限过程性能指数 ),22、Ppk:(修正的过程性能指数 ),Ppk=Min（Ppl，Ppu）=Pp(1-k),P. 17,计算公式,25、Zl(Perf):(规格上限SIGMA水平),23、Ppm:(目标过程性能指数),24、Zu(Perf):(规格上限SIGMA水平),P. 18,计算公式,28、Fp(Perf): (超出规格上下限的概率),26、Fpu(Perf):(超出规格上限概率),27、Fpl(Perf):(超出规格下限概率),P. 19,计算公式,30、Kurtosis:(峰度),29、Skewness:(偏度),
