XRF中的基体效应及数学校正课件

《XRF中的基体效应及数学校正课件》由会员分享，可在线阅读，更多相关《XRF中的基体效应及数学校正课件（71页珍藏版）》请在金锄头文库上搜索。

1、2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,XRF中的基体效应及数学校正,陶 光 仪 中国科学院上海硅酸盐研究所 上海定西路1295号，200050,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,主 要 内 容,一. XRF定量分析的基础 二. 基体效应 三. 克服或校正基体效应的方法概述 四. 经验影响系数法 五. 基本参数法 六. 理论影响系数法,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,XRF的定量分析基础,好的分析准确度,制 样,测 量,数据处理,强度浓度,制样方法选择,制样精度,制样过程中的丢失或沾污,谱线重叠校正,死时间校正,背景扣除,谱线选择和测量参数的选择,基

2、体效应的校正,合金块样,粉末压片,熔融制样,液体制样,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,XRF的定量分析基础,好的谱仪测量精度好的分析准确度 1963年，黄铜样（65.30%Cu）一天测10次， n-1 = 0.068% 定量分析的先决条件 : 1) 试样平整，表面光滑 2) 对X光为无限厚 3)谱线测得的净强度系指经背景，谱线重叠和计数死时间校正后的强度,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,基体效应或元素间吸收增强效应,如果某一试样中含i, j, k三个元素，而且: j元素的X光荧光能激发i元素 k元素的X光荧光能激发j元素 试样中i素的X光荧光强度就取决于：

3、1) X光源的强度 2) 入射角，出射角 3) X光源对i元素激发产生的一次荧光 4) j元素和k元素对i元素激发产生的二次荧光 5) k元素对j元素激发而增强j元素的部份再对i元素激发所产生的三次荧光 6) i元素的总光荧光强度射出试样过程中被试样的吸收,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,三 次 X 光 荧 光 示 意 图,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,Cr-Fe-Ni的特征X射线波长及其吸收限,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,Cr Ka 线的一次、二次和三次荧光相对强度,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,吸 收 效 应,

4、Ci Ri 为双曲线, 对于K系线而言，小于分析元素原子序数 的所有元素均只起吸收作用,i = Fe,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,吸 收 效 应(Ci Ri 曲线),2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,增 强 效 应, Ci Ri不再为双曲线 将增强效应的校正处理为负吸收， 实际上是错误的。 例如：i = Fe j = Ni i = Fe j = Si 的Ci Ri曲线之比较,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,增 强 效 应,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,克服或校正基体效应的方法概述(1),1 忽略基体效应： (1)基体匹

5、配法(matrix match method) 使用与未知样基体组成相似的标准样品，常常在较窄的浓度范围内或低浓度时，强度与浓度成线性关系。（或二次曲线） (2)薄试样法(Thin film method) 当试样厚度仅为几百或几千时，其基体效应可予忽略，此时分析方法变成绝对法，但荧光强度也大为下降,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,克服或校正基体效应的方法概述(2),2 减小基体效应： 使用稀释剂将未知样予以高倍稀释和（或）添加重吸收剂，使经处理后的试样基体处于较为恒定的状态。 例如熔融制样法，经熔剂稀释。 0.66g 样品 + 6.8g 12-22(Li2B4O7-LiBO

6、2) 加重吸收剂La2O3,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,克服或校正基体效应的方法概述(3),3 补偿基体效应： (1)内标法（The internal standard method） 在试样中加入已知量的内标元素，该内标元素 X光荧光特性应与分析元素相似 常用于确定类型试样中单个元素的测定，（如油中Ni, W矿中W的测定），测定浓度范围较宽且准确度好。 寻找合适而且样品不含的内标元素常会发生困难。用于液体试样很理想，熔片法也可以。 内标元素选择时，在分析元素和内标元素谱线所对应的吸收限之间，不可有主量元素的特征线存在。,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,

7、测定Nb时用Mo作内标元素(铌钽铁矿),2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,内 标 元 素 的 选 择,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,润滑油添加剂中的分析线和内标线,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,润滑油用内标添加剂,*制造厂家不同，含量有时各异,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,克服或校正基体效应的方法概述(4),(2)标准加入法 (The standard addition method) 在未知样中加入一定量的待测元素，比较加入前后试样中待测元素强度的变化，对其基体效应进行校正。 常用于复杂试样中单个元素的测定，一般测定

8、浓度1%，个别可至百分之几。对液体试样和熔融试样体系，比较适用，如与添加重吸收剂相结合，则可扩大测定浓度范围。,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,克服或校正基体效应的方法概述(5),(3)双重稀释法 (The double dilution method) 不是用减小基体效应的方法，而是测量二个已知的不同稀释比时试样的强度，以进行基体效应补偿的方法。 原则上对混合物，溶液或固熔体中有足够浓度的任一元素均可测定。主要用于中等或高浓度组分的分析。,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,克服或校正基体效应的方法概述(6),(4) 散射比法 (The scattered r

9、adiation method) 其原理是试样所产生的特征X射线和试样对原级谱的散射线，在波长相近处的行为相近。即它们的强度之比与试样的组成无关。 所选的散射线可以是： 1）X光管靶材的相干或非相干散射线 2）试样对原级X光连续谱的散射背景 但所选散射线的波长与待测元素特征线波长之间不可以有主要元素的吸收限（包括待测元素），同时，所选的散射线需要有足够的强度。,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,典型的X光管散射线及背景,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,散射比法测定例子,上图：Sr Ka线强度 对Sr浓度作图,下图：(Sr Ka/散射背景线)强度对Sr浓度作图,

10、2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,基体效应的数学校正,上述各种忽略，减小或补偿基体效应的方法，虽有一定的应用，但范围有一定的限制，或者不能完全校正基体效应，因此寻找更有效和全面的基体校正方法，势在必行。 鉴于X光特征谱线产生于原子内层电子的跃迁，基本上不受化学态的影响。因此，与紫外发射光谱相比，其元素间的吸收增强效应比较容易加以计算和进行校正。,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,基体效应的数学校正,计算机的飞速发展不仅为XRF基体效应的数学校正提供了一个有力的工具，并且大大促进了数学校正法的发展。,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,经 验 影 响

11、 系 数 法,使用一定的数学模式，一组二元或多元标样及相应测得的强度，通过作图或回归计算，求得经验影响系数。 在分析未知样时，将测得的强度和经验影响系数通过直接计算或迭代，求得分析元素的浓度。,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,经 验 影 响 系 数 法,1)强度校正模式 : a.Lucas - Tooth & Price方程：(1961年）,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,典型试样分析结果：Cu-Zn-Sn合金,a) 用纯Cu样作标准 b) 用上述校正方程,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,经 验 影 响 系 数 法,b. Lucas - T

12、ooth & Pyre方程：(1964年),2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,典型试样分析结果：高温合金钢中Cr的分析,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,经 验 影 响 系 数 法,2) 浓度校正模式： a. Lachance-Traill校正方程（1966年）,b. Claisse-Quantin校正方程（1967年）,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,经 验 影 响 系 数 法,c. Rasberry-Heinrich校正方程 （1974年）,若共存元素以吸收效应为主时，用rij 若共存元素以增强效应为主时，用rik,2020/9/18,G.

13、Y.Tao SICCAS,Cr-Fe-Ni 合 金 样,用了31个三元合金校样13个纯元素标样做校正，求得rij，rik。,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,经 验 影 响 系 数 法,d. 日本工业标准校正方程 （1981年）,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,经 验 影 响 系 数 法,经验系数法虽然可以选用不同的校正方程，但其主要原理是利用回归技术(Regression Techniques)来计算出经验影响系数。 由于是数学上的拟合，对浓度和强度值非常敏感 经验影响系数很少或毫无物理意义 参加校正的标样回代结果往往很好，而未参加校 正的标样结果常常很差

14、需要大量的标样求经验影响系数,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,基 本 参 数 法,由美国海军研究实验室的Criss & Birks于1968年首先提出。 1) Ii Ci的理论公式， 2) 测量的X光管原级谱的强度分布数据， 3) 入射X光的波长积分用加和代替 4) 一个迭代求解程序。 原则上，仅需纯元素标样，也可以用一个多元标样。,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,理论计算(一次+二次)荧光强度的公式,Pi + Si,一次荧光强度的公式：,其中：,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,理论计算(一次二次)荧光强度的公式,其中：,二次荧光强度的公式

15、：,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,典型试样分析结果,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,NRLXRF软件,1978年，Criss等推出了著名的NRLXRF软件，将68年提出的基本参数法和理论影响系数法相结合。对未知样逐个进行计算求解 用一个合金钢标样分析九个合金钢样中的九个元素，其结果为： 对2.5%主量元素，平均相对误差1.2% 对0.5-2.5%次量元素，平均相对误差1.6% 对0.5%痕量元素，平均绝对误差0.04%,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,合金钢样分析结果,a 1160与其余合金钢样类型不相同,2020/9/18,G.Y.Ta

16、o SICCAS,理论影响系数法,影响系数从Ii Ci理论公式计算所得 基本影响系数法：由已知或假设组分浓度的试样用理论公式计算出精确的理论影响系数。 推导影响系数法：由一个或几个基本影响系数及所选的校正方程推导出来的理论影响系数。,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,推导影响系数法(理论a系数法）,L-T方程：,COLA方程：,简化的C-Q方程：,其中：Cm = Cj + Ck+ = 1 - Ci,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,理论a系数 吸收系数,i = 14Si j = 26Fe,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,理论a系数 增强系数,i = 25Mn j = 27Co,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,吸收效应时不同校正公式的比较,i = 28Ni j = 26Fe,2020/9/18,G.Y.Tao SICCAS,增强效应时不同校正公式的比较,i = 26Fe j = 28Ni,2020/9/18,G.Y.Ta