CH04全部资料教程

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1、场效应管,BJT是一种电流控制器件(iB iC),工作时,多数载流子和少数载流子都参与运行,所以被称为双极型器件。,场效应管(Field Effect Transistor简称FET)是一种电压控制器件(vGS iD) ,工作时,只有一种载流子参与导电,因此它是单极型器件。 FET因其制造工艺简单,功耗小,温度特性好,输入电阻极高等优点,得到了广泛应用。,P沟道,耗尽型 (D型),P沟道,P沟道,增强型(E型),场效应管的分类:,4.1 金属-氧化物-半导体(MOS)场效应管,4.1.1 N沟道增强型MOSFET,4.1.5 MOSFET的主要参数,4.1.2 N沟道耗尽型MOSFET,4.1

2、.3 P沟道MOSFET,4.1.4 沟道长度调制效应,4.1.1 N沟道增强型MOSFET,1. 结构(N沟道),绝缘栅型场效应管(Metal Oxide Semiconductor FET),简称MOSFET。分为: 增强型 N沟道、P沟道 耗尽型 N沟道、P沟道,1. N沟道增强型MOS管 结构 (4个电极) 漏极d,源极s, 栅极g, 衬底b。,符号,MOSFET结构动画演示,4.1.1 N沟道增强型MOSFET,2. 工作原理,当vDS=0且vGS0V时g、b间存在纵向电场将靠近栅极下方的空穴向下排斥,留下带负电的离子形成耗尽层。,当vGS=0V时,漏源之间相当两个背靠背的PN结,在

3、d、s之间加上电压后,总有一个PN结反偏,不会形成电流,即管子截止。,再增加vGS纵向电场将P区少子电子聚集到P区表面形成导电沟道(反型层、感生沟道),如果此时加有漏源电压,就可以形成漏极电流iD。,栅源电压vGS的控制作用,注意:由于有SiO2绝缘层,故栅极电流为0。,定义: 开启电压(VT)刚刚产生沟道所需的栅源电压VGS。,N沟道增强型MOS管的基本特性: vGS VT ,管子截止, vGS VT ,管子导通。 vGS 越大,沟道越宽,在相同的漏源电压vDS作用下,漏极电流ID越大。,4.1.1 N沟道增强型MOSFET,2. 工作原理, 漏源电压vDS对漏极电流id的影响,当vGSVT

4、,且固定为某一值时,来分析漏源电压VDS对漏极电流ID的影响。(设VT=2V,vGS=4V),(a)vDS=0时, iD=0。,(b)vDS iD;同时沟道靠漏区变窄。,(c)当vDS增加到使vGDvGSvDSVT时,沟道靠漏区夹断,称为预夹断。,(d)vDS再增加,预夹断区加长, vDS增加的部分基本降落在随之加长的夹断沟道上, iD基本不变。,2. 工作原理,2. 工作原理,(3) vDS和vGS同时作用时,给定一个vGS ,就有一条不同的 iD vDS 曲线。,MOSFET工作原理动画演示,3. V-I 特性曲线及大信号特性方程,(1)输出特性及大信号特性方程, 截止区 当vGSVT时,

5、导电沟道尚未形成,iD0,为截止工作状态。,3. V-I 特性曲线及大信号特性方程,(1)输出特性及大信号特性方程, 可变电阻区 vDS(vGSVT),由于vDS较小,可近似为,rdso是一个受vGS控制的可变电阻,3. V-I 特性曲线及大信号特性方程,(1)输出特性及大信号特性方程, 可变电阻区,n :反型层中电子迁移率 Cox :栅极(与衬底间)氧化层单位面积电容,本征电导因子,其中,Kn为电导常数,单位:mA/V2,3. V-I 特性曲线及大信号特性方程,(1)输出特性及大信号特性方程, 饱和区 (恒流区又称放大区),vGS VT ,且vDS(vGSVT),是vGS2VT时的iD,V-

6、I 特性:,3. V-I 特性曲线及大信号特性方程,(2)转移特性,4.1.2 N沟道耗尽型MOSFET,1. 结构和工作原理(N沟道),二氧化硅绝缘层中掺有大量的正离子,可以在正或负的栅源电压下工作,而且基本上无栅流,特点: 当vGS=0时,就有沟道,加入vDS,就有iD。 当vGS0时,沟道增宽,iD进一步增加。 当vGS0时,沟道变窄,iD减小。,在栅极下方的SiO2层中掺入了大量的金属正离子。所以当vGS=0时,这些正离子已经感应出反型层,形成了沟道。,夹断电压( VP):沟道刚刚消失所需的栅源电压vGS。,4.1.2 N沟道耗尽型MOSFET,1. 结构和工作原理(N沟道),4.1.

7、2 N沟道耗尽型MOSFET,2. V-I 特性曲线及大信号特性方程,(N沟道增强型),4.1.3 P沟道MOSFET,4.1.4 沟道长度调制效应,实际上饱和区的曲线并不是平坦的,L的单位为m,当不考虑沟道调制效应时,0,曲线是平坦的。,修正后,4.1.5 MOSFET的主要参数,一、直流参数,1. 开启电压VT (增强型参数),2. 夹断电压VP (耗尽型参数),3. 饱和漏电流IDSS (耗尽型参数),4. 直流输入电阻RGS ,在漏源之间短路时测得(1091015 ),二、交流参数,1. 输出电阻rds,当不考虑沟道调制效应时,0,rds,说明了vDS对iD的影响。是输出特性某一点上切

8、线斜率的倒数。,NMOS增强型,4.1.5 MOSFET的主要参数,2. 低频互导gm,二、交流参数,考虑到,则,其中,反映了uGS 对 iD 的控制能力,单位 S(西门子)。一般为几毫西 (mS)。相当于转移特性上工作点的斜率。是表征FET放大能力的一个重要参数。,4.1.5 MOSFET的主要参数,三、极限参数,1. 最大漏极电流IDM,2. 最大耗散功率PDM,3. 最大漏源电压V(BR)DS,4. 最大栅源电压V(BR)GS,4.3 结型场效应管,4.3.1 JFET的结构和工作原理,4.3.2 JFET的特性曲线及参数,4.3.3 JFET放大电路的小信号模型分析法,4.3.1 JF

9、ET的结构和工作原理,1. 结构,结型场效应管结构动画演示,# 符号中的箭头方向表示什么?,2. 工作原理(以N沟道为例),正常工作条件(N沟道):,栅源之间加负向电压(vGS0 ),以形成漏极电流 iD。,场效应管通过栅源电压vGS和漏源电压vDS对导电沟道的影响来实现对iD的控制,从而实现其放大(控制)的功能。,4.3.1 JFET的结构和工作原理,s,4.3.1 JFET的结构和工作原理,工作原理:,当vDS=0(d、s短路)时,vGS对导电沟道的控制作用,s,vDS=0且vGS=0,耗尽层很窄,导电沟道很宽。,|vGS|增大时,耗尽层加宽,沟道变窄,沟道电阻增大。, |vGS|增大到某

10、一数值时,耗尽层闭合,沟道消失,沟道电阻趋于无穷大,称此时vGS的值为夹断电压VP,4.3.1 JFET的结构和工作原理,当vGS为某一固定值(VP 0 )时,vDS对漏极电流iD的影响。,vGS为某一固定值(VP 0 ),存在由vGS所确定的一定宽度的沟道。若vDS=0,此时由于ds间电压为零,沟道中的载流子不会产生定向移动,故电流iD=0。,若vDS0,则有电流iD从漏极流向源极,此时沟道中各点与栅极间的电压不等(从源极到漏极逐渐增大),耗尽层宽度不一(沟道上窄下宽,呈楔型)。,由于栅漏电压vGD=vGS-vDS,所以当vDS从零逐渐增大时,vGD逐渐减小,靠近漏极一侧的导电沟道必将随之变

11、窄。但只要栅漏间不出现夹断区域,沟道电阻仍取决于栅源电压(vGS),故电流iD将随vDS的变化近似线性变化。,一旦vDS的增大使vGDVP,则漏极一边的耗尽层就会出现夹断区,称vGDVP为预夹断。,4.3.1 JFET的结构和工作原理,4.3.1 JFET的结构和工作原理,预夹断后,若vDS继续增大,vGDVP,耗尽层闭合部分将沿沟道方向延伸,夹断区加长。,一方面,自由电子从源极向漏极定向移动所受阻力加大(从夹断区窄缝高速通过),从而导致iD减小; 另一方面,随着vDS的增大,ds间的电场增强,使iD增大。 二者变化趋势相互抵消,在预夹断后,vDS增大,iD近似不变,即iD仅仅取决于vGS,表

12、现出iD的恒流特性。,当vGDVP 时,vGS对漏极电流iD的控制。,在vGD=vGS-vDSvGS-VP的情况下,当vDS为一常量时,对应于确定的vGS,就有确定的iD。此时通过改变vGS就可以控制iD的大小,这就是场效应管的控制作用。 场效应管控制作用体现在漏极电流受栅源电压的控制,故场效应管为电压控制器件,体现其控制作用的参数为gm(低频跨导)。,结型场效应管工作原理动画演示,4.3.1 JFET的结构和工作原理,小结:,在vGD=vGS - vDSVP的情况下,即当vDSvGS - VP (即gd间未出现夹断) 时,对应于不同的vGS,ds间等效为不同阻值的电阻; 当vDS使vGD=V

13、P时,ds间出现预夹断; 当vDS使vGDVP时,iD几乎仅仅决定于vGS,而与vDS无关。此时可以把iD近似看成vGS控制的电流源。,4.3.1 JFET的结构和工作原理,综上分析可知,沟道中只有一种类型的多数载流子参与导电, 所以场效应管也称为单极型三极管。,JFET是电压控制电流器件,iD受vGS控制。,预夹断前iD与vDS呈近似线性关系;预夹断后, iD趋于饱和。,# 为什么JFET的输入电阻比BJT高得多?,JFET栅极与沟道间的PN结是反向偏置的,因 此iG0,输入电阻很高。,4.3.2 JFET的特性曲线及参数,1. 输出特性,输出特性曲线:,输出特性曲线描述了当栅源电压vGS为

14、常量时,漏极电流iD与漏源电压vDS之间的函数关系(一簇曲线) 。,场效应管的四个工作区:,可变电阻区:在预夹断前,通过改变vGS的值,可以改变沟道的宽度,从而改变漏源极之间的电阻。,恒流区:当vDSvGSVp,即vGDVp时,各曲线近似一组横轴的平行线。当vDS增大时,iD几乎不变,因而可将iD近似为vGS控制的电流源。该区为场效应管作放大管时的工作区。,夹断区:当vGSVp时,导电沟道被夹断,iD0,无电流。,击穿区:vDS过大,管子击穿。,输出特性曲线动画演示,1. 输出特性,2. 转移特性,转移特性曲线:,转移特性曲线描述了当漏源电压vDS为常量时,漏极电流iD与栅源电压vGS之间的函

15、数关系。,当场效应管工作在恒流区时,由于输出特性曲线可近似为恒轴的一组平行线,所以可用一条转移特性曲线代替恒流区所有曲线。,注意:为了保证栅源间的耗尽层加反向电压,N沟道管vGS0,P沟 道管vGS0。,转移特性曲线动画演示,与MOSFET类似,3. 主要参数,4.3.2 JFET的特性曲线及参数,4.2 MOSFET放大电路,4.2.1 MOSFET放大电路,1. 直流偏置及静态工作点的计算,2. 图解分析,3. 小信号模型分析,4.2.1 MOSFET放大电路,1. 直流偏置及静态工作点的计算,(1)简单的共源极放大电路(N沟道),直流通路,共源极放大电路,4.2.1 MOSFET放大电路

16、,1. 直流偏置及静态工作点的计算,(1)简单的共源极放大电路(N沟道),假设工作在饱和区,即,验证是否满足,如果不满足,则说明假设错误,须满足VGS VT ,否则工作在截止区,再假设工作在可变电阻区,即,假设工作在饱和区,满足,假设成立,结果即为所求。,解:,例:,设Rg1=60k,Rg2=40k,Rd=15k,,试计算电路的静态漏极电流IDQ和漏源电压VDSQ 。,VDD=5V, VT=1V,,4.2.1 MOSFET放大电路,1. 直流偏置及静态工作点的计算,(2)带源极电阻的NMOS共源极放大电路,饱和区,需要验证是否满足,4.2.1 MOSFET放大电路,1. 直流偏置及静态工作点的计算,静态时,vI0,VG 0,ID I,电流源偏置,VS VGS,(饱和区),VD VDD IDRd,VDS VD VS,验证是否满足,4.2.1 MOSFET放大电路,2. 图解分析,由于负载开路,交流负载线与直流负载线相同,4.2.

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