β晶型聚丙烯管材和管件中β晶含量的测定(x射线衍射法)2020版

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1、DB35/T 19142020 1 晶型聚丙烯管材和管件中晶含量的测定(X 射线衍射法) 1 范围 本标准规定了用 X 射线衍射法对聚丙烯(PP)管道产品中晶相对含量测试分析的一般方法。 本标准适用于晶型聚丙烯管材、 管件, 也适用于其它可得到平整测试平面的晶型改性聚丙烯固 体样品。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。 凡是注日期的引用文件, 仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 29182018 塑料 试样状态调节和试验的标准环境 JJG 6292014 多晶X射线衍射仪 3 术语和定义 下列术语

2、和定义适用于本文件。 3.1 晶型聚丙烯 -crystal polypropylene 含有三方或六方晶体结构的聚丙烯。 注:聚丙烯在聚合或成型加工时通过添加一定量的成核剂,或通过施加剪切、压力等方式获得晶型聚丙烯。 3.2 PP中晶含量 -crystallite content in PP 晶在PP结晶部分中所占的比例。 4 原理 一种物相的X射线衍射图谱是对该物相的晶体结构特征表征。晶型聚丙烯管材、管件中除含有 晶外,还含有晶。采用X射线衍射测量试样的衍射图谱后,对晶和晶的主要结晶衍射峰运用积分 程序计算其积分强度,PP中晶含量按照公式(1)计算: %100 (130)(040)11030

3、0 300 IIII I K. (1) 式中: K PP中晶含量,%; I(300)晶(300)晶面的衍射峰积分强度,单位为每秒光子数(cps); I(110)晶(110)晶面的衍射峰积分强度,单位为每秒光子数(cps); I(040)晶(040)晶面的衍射峰积分强度,单位为每秒光子数(cps); DB35/T 19142020 2 I(130)晶(130)晶面的衍射峰积分强度,单位为每秒光子数(cps)。 5 仪器设备 5.1 X 射线衍射仪 技术要求应符合附录A中A.1的规定。 5.2 切割设备 能够将试样切割或截取成所需测试大小,且切割过程不得局部过热。 6 试样准备 6.1 试样制备

4、利用切割设备从-PP试样上截取长15 mm的小段,然后在小段试样的外层径向上切取宽度为10 mm 的试样,使用不低于800号金相砂纸对切割面进行研磨。研磨后的平面作为样品X射线衍射的测试面,测 试面厚度不小于1 mm。试样制备过程如图1所示。 注:切割或研磨过程可能出现因局部过热导致样品表面晶型转化。 图1 试样制备示意图 6.2 试样状态调节 除非规定了其他条件,按照GB/T 29182018的规定,试样在(232)和相对湿度(505)% 的条件下进行状态调节,不少于24 h。 7 试验步骤 7.1 取样 按照6.1的方法,在样品上随机制取5个平行试样,试样表面应光洁平滑。 7.2 装样 用

5、橡皮泥或石蜡从背面将制备的试样径向固定在中空铝试样板内。 应注意固定在窗孔内的样品测试 面应与试样板保持在同一平面内,并且固定用的橡皮泥或石蜡不得暴露于测试面上。 DB35/T 19142020 3 7.3 测试样品 按照附录A中A.2的规定对样品进行测试。 7.4 记录曲线 保存试样的X射线衍射图谱曲线, 运用X射线衍射分析软件对图谱中晶和晶主要衍射峰进行分峰 拟合,获取晶(300)、晶(110)、晶(040)和晶(130)晶面的衍射峰积分强度。 8 结果表述 8.1 图示 以扫描角度(2)与衍射峰强度关系曲线的形式显示样品X射线衍射谱图,典型图例如图2所示。 5101520253035 (

6、130) (100) (300) 2 (degree) Intensity (cps) (040) 图2 典型-PP 产品 X 射线衍射谱图 8.2 计算 运用X射线衍射分析图谱分析软件获取晶(300)、晶(110)、晶(040)和晶(130)晶面 的衍射峰积分强度。按照公式(1)计算出晶含量。 8.3 结果表示 计算结果以五次测定值的算术平均值表示,保留两位有效数字。 9 试验报告 试验报告应包括以下内容: a) 引用本标准; b) 试样名称、样品描述及测试面尺寸相关信息; c) 仪器名称及型号; DB35/T 19142020 4 d) 试验前试样状态调节; e) X 射线衍射仪工作电压、

7、工作电流、角度范围、扫描速度、狭缝参数; f) 以算术平均值表示晶含量的结果; g) 试验日期、试验人员、审核人员。 DB35/T 19142020 5 A A 附 录 A (规范性附录) X 射线衍射仪技术要求和测试条件 A.1 技术要求 A.1.1 仪器检定按JJG 6292014的规定进行。 A.1.2 仪器2角示值误差在0.02以内。 A.1.3 仪器分辨率优于60%。 A.1.4 仪器综合稳定率优于1.5%/8 h。 A.2 测试条件 X射线衍射仪采用铜靶,技术参数见表A.1。实验室也可根据所使用的仪器性能,选择合适的技术参 数。 表A.1 X 射线衍射仪的技术条件 参数名称 要求 参数名称 要求 工作电压/kV 3040 接收狭缝/mm 4 工作电流/mA 3040 扫描速度 (2) / () /min 0.54 发散狭缝/() 0.5 数据点间隔(2)/() 0.02 防散射狭缝/() 0.5 扫描范围(2)/() 535 _

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