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1、ICS 67.020 X04 团体标准 T/CIRA 2020 工业仪表用氪-85 测厚源 Krypton-85 Thickness Measurement Source For Industrial Gauging （征求意见稿） 2020 年 7 月 2 日 XXXX - XX - XX 发布 XXXX - XX - XX 实施 中国同位素与辐射行业协会 发 布 T/CIRA XXXXX2020 目 次 1 范围 . 1 2 规范性引用文件 . 1 3 术语和定义 . 1 4 产品代码及规格 . 2 4.1 产品代码 . 2 4.2 产品规格 . 2 4.3 产品结构 . 2 5 技术要求
2、 . 2 5.1 氪-85 原料 . 2 5.2 氪-85 源壳 . 2 5.3 氪-85 源的安全性能等级 . 2 5.4 外观 . 2 5.5 放射性活度 . 2 5.6 表面污染检验 . 2 5.7 泄漏检验 . 2 5.8 推荐使用年限 . 2 6 检验方法 . 3 6.1 氪-85 源壳泄漏检验 . 3 6.2 氪-85 源安全性能等级检验 . 3 6.3 外观检验 . 3 6.4 活度检验 . 3 6.5 表面污染检验 . 3 6.6 泄漏检验 . 3 7 检验规则 . 3 7.1 型式检验 . 3 7.2 出厂检验 . 3 8 产品标志、包装、贮存和运输 . 3 8.1 产品标志
3、 . 3 8.2 产品包装 . 4 8.3 贮存环境 . 4 8.4 运输 . 4 附 录 A （规范性附录） 氪-85 测厚源产品规格 . 5 附 录 B （规范性附录） 产品材质及结构 . 6 I T/CIRA XXXXX2020 前 言 本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。 本标准由中国同位素与辐射行业协会提出。 本标准由核工业标准化研究所归口。 本标准起草单位： 本标准主要起草人： II T/CIRA XXXXX2020 工业仪表用氪-85 测厚源 1 范围 本标准规定了工业仪表用氪-85测厚源的产品代码及规格、技术要求、检验方法、检验规则、产品 的标志、包装、贮存、运
4、输等要求。 本标准适用于采用真空工艺制备，用于纸张、塑料、皮革及金属箔等材料厚度测量的工业仪表用氪 -85测厚源。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。 凡是注日期的引用文件， 仅所注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB 4075-2009 密封放射源一般要求和分级 GB 11806-2019 放射性物质安全运输规程 GB/T 15823-2009 无损检测 氦泄漏检测方法 GB/T 15849-1995 密封放射源的泄漏检验方法 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本标准。 3.1 氪-85测厚源 Kryp
5、ton-85 Thickness Measurement source 利用氪-85衰变产生的射线测量材料厚度的密封放射源。 3.2 产品代码 Production code 按照编写规则制定，由字母组成的4位编码。 3.3 源标号 Radioactive source label 刻于源壳上，按照编写规则制定。 3.4 名义活度 Nominal activity 根据生产投料量核算出的产品活度。 3.5 推荐使用年限 Recommended service life 1 T/CIRA XXXXX2020 在正常使用条件下，能确保放射源安全使用的期限。 4 产品代码及规格 4.1 产品代码 产
6、品代码规定为BKRB。 其中第一位是产品类别代码， “B”表示为源； 第二、 三位是核素代码， 即“Kr” 表示为氪-85；第四位“B”表示仪表用源。 4.2 产品规格 常用氪-85测厚源规格符合附录A的要求。 除用户有特殊规格要求，氪-85测厚源按表A.1规定的规格制作。 4.3 产品结构 氪-85测厚源采用单层封装，常用氪-85测厚源结构符合附录B的要求。 除用户有特殊规格要求，氪-85测厚源按图B.1、图B.2和图B.3规定的结构制作。 5 技术要求 5.1 氪-85 原料 放射性原料： 85Kr浓度2%，其余气体为惰性气体。 5.2 氪-85 源壳 源壳在使用前，需要逐一检查其关键（外
7、径，高度等）几何尺寸，测量值不得超过设计公差范围； 在源窗完成焊接后，源壳充气前，需进行氦质谱检漏。 5.3 氪-85 源的安全性能等级 按GB4075-2009规定，密封放射源在正式投产前或材料、结构、工艺及设备发生重大改变影响其性 能时，须进行型式检验，以确定其安全性能等级。本标准规定，所有产品安全性能等级不低于C33322。 5.4 外观 源焊缝平滑、完整，无明显塌陷或可见漏洞等焊接缺陷。 5.5 放射性活度 源的放射性活度需通过实际测算，为名义活度的10%范围内。 5.6 表面污染限值 按GB/T15849-1995中规定的方法进行检验，表面污染水平不大于200Bq。 5.7 泄漏限值
8、 按GB/T15849-1995中规定的方法进行检验，泄漏水平不超过4kBq/24h，7天后重复该检验。 5.8 推荐使用年限 2 T/CIRA XXXXX2020 推荐使用期限为五年。 6 检验方法 6.1 氪-85 源壳泄漏检验 按GB/T15823-2009规定的方法检验，即：将待检验源壳与氦质谱检漏仪连接，启动氦质谱检漏仪将 源壳内抽真空至氦漏率1.010 -9Pam3/s，向连接处、源壳外表面和焊接处等区域喷射高纯氦气，观 察在喷射氦气过程中仪器氦漏率的变化情况，若氦漏率突然增高表明存在漏孔。 6.2 氪-85 源安全性能等级检验 按GB4075-2009规定的方法检验，级别不得低于C33322。 6.3 外观检验 焊接完成后，观察焊口，焊缝完整、平滑、无明显塌陷、裂纹等焊接缺陷视为合格。 6.4 活度检验 利用校正过的活度计或电离室，在相同几何条件下，将氪-85源与经计量部门刻度过的标准源进行 相对比较，标准源总不确定度为10%。 6.5 表面污染检验 按GB/T15849-1995规定的方法检验，放射源表面污染水平应符合GB4075-2009中6.1规定要求。 6.6 泄漏检验 按GB/T15849-1995规定的方法检验，放射源泄漏水平应符合GB/T15849-
