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1、书 山 有 路 1 公司公司 CARCAR 编号编号 V0614 VGS FA CARVGS FA CAR 编号编号 CT061120 S6032319C 产品料号产品料号 UF4004 E3 客户名称客户名称 N A 生产批号生产批号 0512G CARCAR 接收日期接收日期 4 18 2012 失效模式失效模式 Short CARCAR 报告日期报告日期 4 21 2012 1 1 问题解决小组问题解决小组 组成日期 4 18 2012 事业部部长 品质部部长 生产部部长 技术科经理 VGS 线产品工程师 2 2 问题描述 问题描述 2 1 问题陈述 客户投诉客户投诉 4 4 个产品短路
2、 个产品短路 2 2 问题描述详细信息 测试项目 生产批号 失效数量 失效比率 失效模式 功能测试 0512G 4 7 短路 3 3 临时性纠正临时性纠正措施措施 3 1 库存 在制品检查 1 对在制品进行抽样测试 IR 设定为 VR 410V IR 5uA 失效率为 0 24K PCS 2 对库存进行抽样测试 IR 设定为 VR 410V IR 5uA 失效率为 0 24K PCS 3 2 工艺制程 OQC 限制措施 3 2 1 查核 2005 年 3 月份 PE1 产品的可靠性监控情况 HTRB PCT TC 和 Forward Surge 总共 各做了 7 个批次 每种试验的抽样量为 3
3、15 支 全部合格 3 2 2 查核 2005 年 3 月份 UF4004 产品的 OQC 的检验情况 无电性不良记录 3 2 3 将该产品列入 OQC 加严检验清单中 OQC 对 UF4004 产品连续 10 个批次执行加严检验 3 28 2006 3 3 风险评估 风险评估水平为一般 50 不需要采取强制对策 4 4 根本原因分析根本原因分析 书 山 有 路 2 4 1 退回样品的初始确认 外观 电性 如适用 参照 VGSC 失效分析报告T061120 4 2 退回样品的失效分析 4 2 1 失效分析结果总结 4 2 1 1 典型 IMC 失效 表面有氧化层 导致芯片烧毁 4 2 2 失效
4、分析详细状况 参照 VGSC 失效分析报告T061120 参考 VGST 提供的 UG2 IR 不良模拟试验及 FA 报告 4 3 失效原因 4 3 1 失效机理 由于焊接炉温异常 导致焊接材料产生 IMC 现象 在后期器件应用中发生失效 参考 VGST 提供的 UG2 IR 不良模拟试验及 FA 报告 4 3 2 可能的原因 要素 4 3 2 1 焊接炉温异常 导致焊接材料产生 IMC 现象 4 3 2 2 晶粒制程异常 导致玻璃钝化层披覆不良 4 4 根本原因 4 4 1 最可能原因的分析 焊接炉温异常 导致焊接材料产生 IMC 现象 4 4 2 根本原因的结论 同 4 3 2 1 经过模
5、拟试验及排查 最可能的原因是由于出炉材料在焊接炉出炉口未及时清理 导致焊接炉 内部产生卡炉 处于焊接炉高温区的材料产生 IMC 现象 正常炉温曲线 峰值温度 365C 书 山 有 路 3 卡炉后炉温异常曲线 峰值温度 400C 卡炉的原因如下图 由于员工操作疏忽 未及时清理出炉材料 书 山 有 路 4 4 4 3 不良未发现 逃脱的原因 TMTT 测试时 该支二极管尚未损坏 各项测试参数符合测试规范 5 5 永久性改善措施永久性改善措施 5 1 针对根本原因 项目 纠正措施前 纠正措施后 时间 负责人 1 出炉口未安装报警装置 出炉口安装报警装置 材 料出炉后发出鸣叫警报声 提醒操作员清理材料 材 料清理后 报警声停止 4 28 2012 2 未及时清理出炉后材料 宣导并监督执行及时清理 出炉后材料的操作纪律 4 21 2012 安装报警装置如下图 材料卡住 书 山 有 路 5 5 2 针对未发现 逃脱的原因 项目 改善行动前 改善行动后 时间 负责人 5 3 提供安全有效的日期码 5 4 纠正措施有效性的验证 6 6 实施实施永久性的纠正永久性的纠正措施措施 纠正措施的实施计划 7 7 水平展开与系统化措施水平展开与系统化措施 7 1 水平展开 项目 系统化措施 时间 负责人 文件号 7 2 系统化措施 8 8 总结与总结与小组小组奖励奖励 报警探头
