功能及操作说明

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1、 1 硬體概要硬體概要 Leaded Fixture 150KOhm Leaded Fixture 2 規格特性規格特性 連接介面 CHANNEL 2組 PORT A B 頻率範圍 15KHz 220MHz 頻率準確性 1PPM at series typical 串聯諧振頻率的典型值 晶體激勵功率 100pW 1000uW 50MHz 1nW 500uW 50MHz 注意 若使用者設定的功率超出上述的極限範圍 則會出現相應的警告資訊 PI網路規格 測試頭可以是12 5 的測試座 也可爲50 的測試座 而測量條棒狀低頻晶體 1MHz以下 則使用750 150K 測試座 Cy 寄生電容寄生電容

2、因每種測試座的並聯電容 CS 不同 每次在兩PI網路間切換 時 250B軟體將要求輸入測試座的寄生電容 Cy 值 當使用當使用physical FL mode量測時 量測時 Cy值必須注意輸入相應的值值必須注意輸入相應的值注意 2 50Leaded 150K Ohm PI 1 48Leaded 750 Ohm PI 1 44SMD 50 Ohm PI 1 44SMD 12 5 Ohm PI 1 48Leaded 50 Ohm PI 1 48Leaded 12 5 Ohm PI Cy VALUEDESCRIPTION 3 軟體概要軟體概要 主功能選項 工具列 統計資料顯示 主要資訊 量測data

3、與結果 4 功能及操作說明功能及操作說明 4 1 File 檔案 檔案 最近使用過的檔案 New 開新檔案 Open 開啟舊檔 Save 儲存檔案 Save As 另存新檔 Print Setup 印表機設定 Print Preview 預覽列印 Print 列印 Export 資料匯出 Send 以電子郵件傳送 4 2 Edit 編輯 編輯 Edit Crystal Number 修改測試編號 Display Selection 變更統計資料顯示 Cut 剪下 Copy 複製 Paste 貼上 統計資料 測試資料 4 2 1 Display Selection 變更統計資料顯示 選擇統計資料

4、區的顯示列數 Yield 製成率 Pass Counts 合格數 Fail Counts 不良數 Mean 平均值 SD 標準差 Cp 製程精密度 Cpk 製程能力指標 Bin 分桶 分類 Min 最小值 Max 最大值 4 3 View 檢視 檢視 狀態列 訊息顯示於左側 Toolbar 顯示 隱藏工具列 Status Bar 顯示 隱藏狀態列 Internal Test Types 允許使用者重新定義量測參數的名稱 Graph 圖型顯示 Save Window Location 儲存目前作業視窗大小 位置 Restore Window Location 還原作業視窗大小 位置 Factor

5、y Window Location 使用出廠預設之視窗大小 位置 4 3 1 Graph 250B提供三個圖形欄位 可將所選定之參數以圖形方式表現 做為統計應用 123 步驟1 選定圖形欄位 相對位置如下 步驟2 選擇參數 注意 只有測試區內含括之參數可被選擇 4 4 Run 執行 執行 所有測試模式及網路分析之入口選項 選擇連續量測 連續模式選擇連續量測 連續模式選擇單次量測 手動模式選擇單次量測 手動模式 打勾 序號自動增加 Network Analyzer 執行網路分析儀 Measure 單次量測模式 Continuous Measure 連續量測模式 Find Frequency 搜尋

6、頻率 4 4 1 Network Analyzer 網路分析儀 網路分析儀 適用於晶振頻率掃瞄 工程分析 以及校正作業 步驟1 選擇Frequency Sweep功能 步驟2 選擇RF In Out Phase模式 並將Right Axis Off 該選項打勾 注意 若要觀察阻抗 則選擇 z Phase模式 步驟3 按下Change功能鍵 進行掃瞄設定 頻率掃瞄設定實例 25MHz 執行掃瞄Sweep 自動調整圖形比例 執行掃瞄後按此鍵 使圖形易於觀測 Autoscale RF In Out 設定平均測量次數 次數越多 掃瞄越精準 相對也較費時 Averages 設定掃瞄點數 點數越多 圖形越

7、精密 相對也較費時 Points 設定掃瞄的寬度Span 設定掃瞄的中心頻率 Hz為單位Center 掃瞄開始 結束之頻率 取決於Center及Span之設定 Start Stop 設定功率 一般可使用 0 dBm 基準功率表示 Power 顯示 操作面板 當每次按下Sweep進行掃瞄結束後 再按下Autoscale RF In Out使圖形優化 頻率掃瞄結果 振盪波形 z 模式模式 X軸 頻率Hz Y軸 阻抗Ohms RF In Out 模式模式 X軸 頻率Hz Y軸 分貝dB 諧振頻率 dB最大值 諧振頻率 阻抗最小值 4 4 2 Find Frequency 搜尋頻率搜尋頻率 250B提

8、供此一功能 可快速搜尋基本頻 倍頻諧振頻率以及副波 2 步驟4 按下Start鍵 開始搜尋頻率 建議設定 Start 1MHz 1 000 000Hz Step Size 10KHz 10 000Hz 4 1 步驟1 輸入Power 功率值 步驟2 輸入Start 搜尋開始之頻率 3 步驟3 輸入Step Size 搜尋過程中之步進大小 步進值越小 搜尋越精準 相對也較耗時 搜尋頻率結果 再次測試結束鍵 搜尋結果 Fundamental 基本頻 Fr 24 992 737Hz 可得知測試晶體為25MHz基本波設計 4 5 Port 介面 介面 Port功能表用於選擇啟動介面 共有兩種類型的測試

9、座能夠連接到 250B 交替選擇兩介面允許使用者不必拿掉或連接測試座而改變測 試介面 介面校準完成後 使用者不需要每次重新校準來切換兩介 面 可以從Port功能表中點擊Port display box來選定介面 4 6 Miscellaneous 其他 其他 Clear Measurements 清除測量資料 Allow Editing 允許編輯 Edit Setup 編輯摘要設定 Delete Measurement 刪除測量資料 Move Test Type 移動測試型態 Configure Graph 圖形更改 Internal Standard 採用內部基準頻率 External St

10、andard 採用外部基準頻率 10MHz Beep On Pass 測量為良品時 發出蜂鳴聲 Beep On Fail 測量為不良品時 發出蜂鳴聲 Beep Off 關閉蜂鳴器 Beep Always 不論測量為良品或不良品 都發出蜂鳴聲 Output Raw Measurements 原始資料輸出 4 6 1 Allow Editing Allow Editing功能可允許使用者編輯或鎖定部份系統功能 例如 摘要資訊 校準 以及測試對話窗 正常狀態下 該功能預設為允許使用者編輯狀態 鎖定時 所有可編輯的白色區域均變成灰色 如下圖 裏面的內容 不能修改 當取消Allow Editing時 系

11、統立即要求輸入密碼 該功能等效於按下Unlock圖示按鈕 4 6 2 Edit Setup 選擇Edit Setup功能將調出Setup Description對話窗 並在對話窗裏輸入摘要資訊 誰修改的文件 及改變的 內容是什麽 軟體將自動記錄修改的資料 這個選項能被用來監控某個測試檔的變化 該功能等效於按下圖示按鈕Edit Setup 建立建立 人 人 修改修改 人 人 修改的內容修改的內容 4 6 3 Move Test Type Move Test Type選項允許使用者改變主畫面下的 測量順序或列印順序 通過下拉式視窗從可供選擇 的測試類型中選擇某一參數 對話窗底部的按鈕可直接移動測試

12、類型的排列 4 6 4 Configure Graph Configure Graph選項允許使用者自訂圖形 包含圖形 字型 顏色 線條等式樣 藉以優化圖形 圖形輸出 步驟1 首先選擇欲輸出圖形之欄位 Configure Graph 1 2 3 步驟2 出現自訂圖形對話方塊後 點選Export 輸出 步驟3 出現輸出對話方塊後 選擇BMP 選擇File後 按下Browse決定存檔路徑 Pixels 像素 使用者自訂圖形大小 Export 將圖形輸出到指定的存檔路徑 自訂圖形實例 4 7 Help 幫助 幫助 說明 說明 Help功能表提供250B網路分析儀的各種資訊 包含版本資訊及系統軟體版本

13、 DLL文件包含了250B卡板 上的一個線路庫 軟體驅動器 PLD晶片 及一個包含校 準資訊的NVRAM 這些內容主要用於故障處理 校準資料中 則指示出了系統介面及卡板上次校準 的時間 它同時也顯示了內部時鐘的校準以及校準資料 5 參數設定細項說明參數設定細項說明 FL 晶片量測晶片Crystal Blank 陶瓷振盪器量測陶瓷振盪器Ceramic Resonator 5MHz以下頻率 低頻帶 高Q值起振時間較慢的 對象 High Q High Time Constant 頻率分散大 FR與FL差距較大 或是頻率分 散範圍大於300ppm以上者 Wide 5MHz以上頻率標準方式Normal

14、運用對象說明Sweep Type Wide 寬帶掃瞄 寬帶掃瞄 寬帶掃描比常態掃描有更寬的掃描範圍 而且寬帶掃描的 範圍可由使用者設定 寬帶掃描需設定測量次數用以計算 平均數 並設定開始掃描頻率 停止掃描頻率 ppm 以及每步搜尋的長度 用ppm表示 平均測量次數越多 掃描幅度越大 掃描的步長越小 則掃描的精度越高 但卻需要耗費更多的掃描時間 Start 掃瞄開始之頻率 Stop 掃瞄結束之頻率 Search Step 頻率搜尋之步長 Average 平均測量次數 High Q 高 高Q值晶體掃瞄 值晶體掃瞄 高Q值晶體有瞬變的趨勢 在作頻率掃描時這種暫態瞬變 可能截斷測量 高Q值掃描需要數次

15、測量來取平均數 以參考頻率爲中心 開始掃描頻率和停止掃描頻率用ppm表示 掃描步長用ppm 表示 延時時間用秒表示 取平均次數越多 掃描幅度越 大 搜尋步長越小 延時時間越長 均能提高掃描的精度 但是卻增加了執行掃描的時間 Delay 延時時間 DFL DFL 二個不同電容負載間的頻率偏差量二個不同電容負載間的頻率偏差量 計算二個不同電容負載之間的負載頻率偏差量 一般以ppm單位來表示 計算式 FL CL1 FL CL2 注意注意 CL設定時 必須要將負載設定時 必須要將負載 pF 小的設為小的設為CL1 負載大的設為 負載大的設為CL2 否則量測結果會全數呈現負值 而判定否則量測結果會全數呈

16、現負值 而判定NG 掃描範圍內最大副波之阻抗值SPUR 掃描範圍內最大副波之頻率 加負載 SPFL 掃描範圍內最大副波之頻率 無負載 SPFR 掃描範圍內最大副波與主波的阻抗比SPRR 掃描範圍內最大副波與主波的增益值 dBSPDB 定義參 數 Steps 掃瞄分割點數 掃瞄分割點數 大約以20 100ppm做為平均分割量 再參照掃瞄範圍來決定分割點數 分割點數越大 則掃描的精度越高 但卻需要耗費更多的掃描時間 SPDB SPRR RR RR 主波 副波 25 25 20 RR RR og 副波 主波 l SPDB SPRR SPFR SPFL SPUR 25 25 20 RR RR og 主波 副波 l 練習 試找出FR RR SPFR SPUR SPRR 主波主波 SP1 SP2 SP3 6 69SPRR 24996250HzFR 23 106 RR 25132500HzSPFR 154 699 SPUR