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1、Doc. No.制定日期改订日期版次(修订)V01文件名称量测系统分析作业程序页 次4 of 4制定部门品保-仪校1. 目的 Purpose 为使本公司所用之量测设备均能正确地使用，及决定量测程序在制程中量测产品间变异性是否适当，故应用统计方法来分析量测设备之再生性、再现性、准确度、稳定性及线性，作为规划下列各项事情之参考依据：1.1提供新量测设备是否可接受之准则。1.2提供被认为将有缺陷量具之评价基础。2. 适用范围 Scope 举凡本公司所使用之各项量、检具及检测设备其量测结果影响产品质量判定者，均适用之。3. 权责Authority and Responsibility3.1仪校室人员负
2、责定期对量测系统的再生性、再现性、偏性、稳定性及线性进行研究及收集数据进行统计分析。3.2仪校工程师负责对该量测分析系统所收集的数据及分析统计结果进行评估，当量具分析结果R & R偏允收下限时需通知品保单位主管。 3.3品保单位主管负责重新对量测分析结果R & R偏允收下限的量具适用性再进行评估，决定该量测系统所量测出来的产品处理方式。3.4制造部及其他使用仪器之部门主管负责协助配合本程序试验能顺利完整实施。4. 名词定义 Terms Definition4.1 量具：泛指各种量测仪器，包括生产及检验设备均属之。4.2 量测系统：指由人员，量具，操作程序及其他设备或软件所构成的系统。 4.3
3、量具再生性：指由不同作业员使用相同的量具量测相同产品之特性时，其作业者间量测平均值之变异。 4.4 量具再现性：指由同一个作业员经多次量测同一个产品，其量测特性值再现能力，亦称量测值间的变异。4.5稳定性：同一量具于不同时间量测同一零件之相同特性所得之变异。5. 作业流程 Operation FlowN/A6.作业内容 Operation Description6.1量测系统分析时机：6.1.1所有影响产品质量的量测设备均应作量测系统分析。6.1.2 新购入量测设备。6.1.3 经维修校验后之量测设备。6.1.4 在质量规划过程中或量产前试作时之量测设备。6.2量测系统分析频率：6.2.1 量
4、测分析人员应根据现场量测设备使用频率及设备的精确度来确定量测分析系统频率。6.2.2 每日用于制程中影响质量且容易造成磨损之量具，应每半年作一次量测系统分析（如：量规仪器）。6.2.3 于制程中属每日必用但在使用过程中不易造成磨损的量具可以同型式每年作一次分析（如：电器类）。6.2.4 虽属于制程中使用之量具设备，但只用在量测确定可疑产品的量测设备可二年作一次量测系统分析。6.3量测系统再生性与再现性分析执行方法：6.3.1 决定研究主要变异形态的对象。6.3.2 使用全距及平均数方法对量具进行分析。6.3.3 于制程中随机抽取被测定材料需属统一制程。6.3.4 选三位操作员在不知情的状况下使
5、用校验合格的量具分别对10个零件进行量测，测试人员将操作员所读数据进行记录，研究其再生性及再现性（作业员应熟悉并了解一般操作程序，避免因操作不一致而影响系统的可靠度）同时评估量具对不同操作员熟练度。6.3.5 所使用量具的精确度应是被量测物品公差的 1/10，（即其最小刻度应能读到1/10制程变异或规格公差较小者；如：制程中所需量具读数的精度是0.01m/m，则量具应选择精确度为0.001m/m），以避免量具的鉴别力不足。6.3.6 试验完后，测试人员将量具的再生性及再现性数据进行计算如附录一：”R&R数据表(A2EE003-01)”，附录二：R&R分析报告（A2EE003-02），依公式计算
6、并作成X-R管制图。6.3.7 若产品发生不符合时应追查原因并对已量测产品追溯处置。6.4 再现性与再生性之评估分析：6.4.1当再现性（EV）变异值大于再生性（AV）时。6.4.1.1 量具的结构需再设计增强。6.4.1.2 量具的夹紧或零件定位的方式需加以改善。6.4.1.3 量具应加以保养。6.4.2当再生性（AV）变异值大于再现性（EV）时。6.4.2.1 作业员对量具的操作方法及数据读取方式应加强教育，作业标准应再明确订定或修订。6.4.2.2 可能需要某些夹具协助操作员，使其更具一致性的使用量具。6.4.2.3量具与夹治具校验频率于入厂及送修矫正后须再做量测系统分析，并作记录。6.
7、5 允收水平：6.5.1误差在10%以下，量具系统可接受。6.5.2 误差在10%30%，量具视情况接受（依其应用的重要性，量具费用及修理费用而定），如使用在管制特性工序的量测设备其允收水平偏下限时需立即通知跨功能小组做评估及对策。6.5.3 误差超时30%以上，量具系统需加以改进，必要时更换量具或对量具重新进行调整或重新分析找出%偏高原因，并对以前所量测的库存品再抽查检验，如发现库存品已超出规格应立即追踪出货通知客户，协调处理对策。6.6 稳定性分析之执行：6.6.1选取一个样品，并建立可追溯标准之真值或参考值，若无样本则可从生产线中取一个落在中心值域的零件，当成标准值，且应针对预期测试的高
8、中低端各取得样本或标准件，并对每个样本或标准件分别绘制管制图。6.6.2定时对标准件或样本量测35次取一个样品。注意，决定样本量及频度的考虑因素应包括重新校正或修理的次数，使用频度与操作环境等。6.6.3 将量测值标记在X-R CHART或X-CHART上。6.6.4 计算管制界限，并对失控或不稳定作评估。6.6.5 计算标准差，并与制程标准差相比较，以评估量测系统的稳定性。6.6.6 稳定性分析评估：如量测程序标准差小于制程标准差（制程公差）或代表量测系统非常稳定即量测程序标准差制程标准差（制程公差）。6.7记录之保存：量测系统分析资料保存至设备报废为止。7.参考资料Concerned DocumentsN/A8.附录 Attachment8.1附录一：量具再现性与再生性数据表(A2EE003-01)，共一页。8.2附录二：量具再现性与再生性报告(A2EE003-02)，共一页。8.3附录三：稳定性分析报告(A2EE003-03)，共一页。
