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1、宝达科技(深圳)有限公司质量体系文件受控状态此处若无红色“受控章”则为非法版本，禁止使用版 本A1文件名称统计过程控制作业指导书（SPC）文件编号BD-WI-21批准审核编制1 目的提供SPC的使用准则及步骤，并说明使用方法，以便在运用控制图时能够正确地决定、检讨控制界限与进行控制图的判读.2 范围 X-R控制图、P控制图、Cpk（制程能力指数）的运用管理.3 定义3.1 计量值特性 凡产品的品质特性以实际量测方式取得的特性称为计量特性，例如重长等.3.2 计数值特性 凡产品的品质特性不连续，不易或不能以实际量测方式取得，只能间断取值的 特性，例如不合格数、不良品率等.4 职责4.1 相关部门
2、：SPC的运用与维持.4.2工程部：SPC的使用的规划.5 作业指导5.1控制图使用规划及选择原则5.1.1 使用规划由QA及工程部根据各制造工序影响因素及质量影响因素，结合成 本及效益，全面规划需采取控制图控制的工序和产品特性.5.1.2 选择原则5.1.2.1 计量值特性选用X-R控制图.5.1.2.2 计数值特性选用P控制图.5.2 控制图绘制、使用步骤5.2.1 首次使用控制图的作业程序5.2.1.1 决定须控制的特性.5.2.1.2 搜集25组数据.5.2.1.3 计算中心线(平均值)及控制上、下限.5.2.1.4 绘制控制图.5.2.1.5 检查是否有超出控制界限的点5.2.1.6
3、 将这些超出控制界限的资料剔除并重新计算中心线(平均值)及控制上、下限.5.2.1.7 决定控制图的中心线(平均值)及控制上、下限.5.2.2 现场使用控制图的作业程序5.2.2.1 在新的控制图纸划出控制图的中心线(平均值)及控制上、下限.5.2.2.2 依规定的抽样频率及抽样数，并将所得资料记录于控制图上，且依所使用的控制图种类进行计算.5.2.2.3 将计算结果描点于控制图上.5.2.2.4 控制图判读及异常控制图纠正/预防措施 5.2.2.5 检讨控制界限5.2.2.5.1当完成一张控制图时，根据控制图图纸上的资料重新计算中心线 （平均值）及控制上、下限.计算时须剔除超出控制界的资料.
4、5.2.2.5.2 比较计算前后之中心线（平均值）及控制上、下限.5.2.2.5.3 若无重大差异时在新的控制图纸延用计算前的中心线（平均值）5.2.2.5.4 若有明显的差异时，可在新的控制图纸使用计算后的控制中心线（平均值）及控制上、下限. 5.3 控制图判读原则及异常控制图的纠正/预防措施5.3.1 正常之控制图其各点的动态为：5.3.1.1 多数的点集中在中心线附近.5.3.1.2 少数的点落在控制界限附近（但未超出控制界限）.5.3.1.3 各点的分布呈随机状态，无任何规则可循.5.3.2 异常控制图的判读5.3.2.1 任何超出控制限的点5.3.2.2 连续7个点在中心线之上或之下
5、5.3.2.3 连续7个点上升或下降5.3.2.4 任何其它明显的非随机图形，如2/3的描点应落在控制限1/3的中间区域，描点成规则形状.5.3.3 异常之控制图的纠正/预防措施5.3.3.1 出现任何超出控制界限的点，都应提请相关单位进行原因分析，并采取纠正措施.5.3.3.2 对于连续7个点在中心线之上或之下，或连续7个点上升或下降，或其它明显非随机图形，都应提请相关部门分析原因，留意趋势采取相应预防措施.5.3.3.3 如相关责任部门无视不良现象的存在或长期行动无效果, 必要时发出纠正/预防措施要求书要求其改善.5.4 XR控制图的使用方法 XR控制图是以控制平均值（X控制图）与全距（R
6、控制图）的方式达到管制的目的.5.4.1 决定样本数5.4.1.1 使用XR控制图的样本数（n）以2 5个为适当，但不要超过10个为宜.5.4.1.2 样本数一经决定后必须在使用时固定不变.5.4.2 平均值与全距的计算5.4.2.1 平均值（X）= 各组内数据的和样本数.5.4.2.2 全距（R）= 各组内的最大值最小值.5.4.3 X 控制图与R控制图之中心线与控制上、下限的计算公式.5.4.3.1 X 控制图之中心线与控制上、下限的计算公式：5.4.3.2 R 控制图之中心线与控制上、下限的计算公式： 5.4.3.3 XR控制图的系数表N2345678910A21.881.020.730
7、.580.480.420.370.340.31D21.131.692.062.332.532.702.852.973.08D30.080.140.180.22D43.272.572.282.112.001.921.861.821.785.5 P 控制图的使用方法P 控制图是以控制不良率的方式达到控制的目的.5.5.1决定样本数5.5.1.1 使用P控制图的样本数（n）以能够发现1-5个不良品最为适当，样本数的决定公式为： 5.5.1.2 若未决定样本数，导致控制下限小于0，则下限取0. 5.5.2 控制图的控制界限必须依控制上、下限公式计算，若样本改变时，以实际样本数代入.5.5.3 P 控制
8、图之中心线及控制上、下限的计算公式： 5.6 制程能力指数 Cpk 使用规划5.6.1 工程部根据各制造过程或工序影响以及质量特性，全面规划需进行制程能力控制的制程或工序并明确相应的Cpk值.5.6.2 制程能力指数 5.6.1.1 使用制程能力指数时，应依统计学的原则，同时衡量制程中的集中（平均）与分数（变异）状况，以确实掌握制程品质特性.5.6.1.2 Cpk值、Cpk等级、不合格率及相应措施关系列表如下.衡量等级Cpk值Cpk等级不良率(P)相 应 措 施A2.0(含以上)6P0.000000002本公司的优势，需要时配合控制图控制.B1.672.05P0.00000057希望制程能够达
9、到的水准，应考虑配合控制图进行控制C1.331.674P0.00006产品可免检，但应考虑配合控制图控制.D1.01.333P0.0027制程有改善空间，要改善并可采取抽样的方式检验产品E0.671.02P0.0455制程应进行专案改善并考虑设置检查站，确认唯有合格的批才可进入下一制程.F0.330.672P0.3174制程很差，应考虑实施全检5.6.3 制程能力指数运用的前提5.6.3.1 所使用的规格上下限依内部或客户要求.5.6.3.2 如客户另有特定制程指数值要求时，另和客户协商.5.6.3.3 指数计算的结果可能因抽样误差而有所差异，使用时掌握其等级，并采取适当措施即可.5.6.4 制程能力指数的计算 5.6.4.1 符号说明 USL：表示规格上限.LSL：表示规格下限. X ：表示所搜集或抽样资料的平均. ：表示自所搜集或抽样资料中所推算(估计)的标准差.5.6.4.2 制程能力指数计算公式 Cpk：相对于规格同时表示制程集中与变异的指数. 5.6.4.3 标准差计算公式 =R/d2R 是子组极差的平均值，d2 是随样本容量变化的常数5.6.5 制程能力指数异常的处理当制程能力指数低于客户要求时，责任部门应采取措施以改善，必要时应以纠正/预防措施要求书的形式提出改善6附件 6.1 X-R控制图图纸样式6.2 P控制图图纸样式- 5 - / 5
