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1、SSRF首批光束线和实验站配置一览表l 软X射线谱学显微光束线/实验站(BL08U1 A)光源类型和参数椭圆极化波荡器 EPU100，周期长度100mm，4.2米。样品处同步辐射光特性能量范围250 - 2000 eV能量分辨3000410eV, 15001840eV样品处光通量108 (phs/s) 410 eV107 (phs/s) 1840 eV样品处光斑尺寸150nm实验站实验站设备主体STXM显微镜一台快速正比计数管、光电二极管湿样品槽二个（供湿样品用）工作站一台分析软件：NEXAFS分析软件、元素成分分析软件、三维图像分析。光学显微镜实验方法透射软X射线近边吸收谱分析（NEXAFS
2、谱）、光谱显微分析空间、能量三维（x,y,E）扫描形态三维显微成像空间三维（x,y,f）扫描。l X射线成像及生物医学应用光束线/实验站(BL13W1)光源类型和参数多极Wiggler ， 1.944T/16poles/14cm。样品处同步辐射光特性能量范围10-60keV能量分辨510-3样品处光通量1109 phs/s/mm220keV样品处光斑尺寸45mm(H)5mm(V) 30m20keV实验站实验站设备精密隔振平台、高分辨X射线CCD、多维样品台、精密导轨、电离室、快门、斩波器等。实验方法同轴相衬成像（IL-PCI）显微CT（MCT）衍射增强（DEI）等l XAFS 光束线/实验站(
3、BL14W1)光源类型和参数多极 Wiggler 38 极 1.2 T，周期长度80mm。样品处同步辐射光特性能量范围4 22.5 keV能量分辨210-4 Si(111)晶体10keV样品处光通量21012 phs/s (100mA)10keV样品处光斑尺寸0.50.5 mm2 (HV)实验站实验站设备32元Ge固体探测器、Oxford 闭气路谱学电离室、Lytle荧光电离室、高低温原位设备(10K1000K)、5维样品平台。实验方法透射XAFS、荧光XAFS、掠入射XAFS、时间分辨QXAFS、原位XAFS。l X射线衍射光束线/实验站(BL14B1)光源类型和参数弯铁，电子能量3.5Ge
4、V，束流300mA，磁场强度1.27T，临界能量10.35keV，水平自然发射度3.9nmrad。样品处同步辐射光特性能量范围4-22keV能量分辨210-410keV样品处光通量21011phs/s样品处光斑尺寸(H)0.4mm(V)0.4mm实验站实验站设备Huber5021型6圆衍射仪及相关附件、NaI闪烁体探测器、电离室、固体荧光探测器。实验方法粉末衍射(XRD)掠入射衍射/掠入射反常衍射(GID/GIXAD)反射率测量(XRR)倒易空间二维强度分布测量(RSMs)衍射异常精细结构(DAFS)l 硬X射线微聚焦光束线/实验站(BL15U1)光源类型和参数真空室内波荡器，周期数80，长度
5、2m。样品处同步辐射光特性能量范围5-20 keV能量分辨DE/E210-4样品处光通量61010phs/s 10keV，200mA样品处光斑尺寸3mm实验站实验站设备探测器：7元Si(Li)探测器，硅漂移探测器，成像用X射线CCD，电离室。样品台：7轴高精度电动扫描台，2维压电陶瓷扫描台。其他：样品对光显微镜，调光X-CCD。实验方法微束X射线荧光分析(m-XRF)：探测样品中微区元素含量和分布,2维，3维。微束近边X射线吸收精细结构( m-XANES)：特定元素的在样品中的化学种态。微束X射线衍射、散射 (需要借用X射线面探测器)表面分析实验方法、X射线成像。l 小角散射光束线/实验站 (
6、BL16B1)光源类型和参数弯铁光源，电子能量3.5GeV； 自然水平发射度3.9nm.rad；流强300mA； 磁场强度1.27T。样品处同步辐射光特性能量范围5-20keV能量分辨6.010-410keV样品处光通量31011phs/s200mA样品处光斑尺寸0.40.5mm10keV实验站实验站设备一维广角气体探测器、一维小角气体探测器、成像板探测器、单色光狭缝、电离室系统、掠入射小角散射样品台、真空管道及支架系统等。实验方法小角散射同时广角和小角散射掠入射小角散射反常小角散射l 生物大分子晶体学光束线/实验站 (BL17U1)光源类型和参数真空室内波荡器,周期长度为2.5cm, 最小磁隙为6mm。样品处同步辐射光特性能量范围518 keV能量分辨210-4样品处光通量21012phs/s (12keV200mA)样品处光斑尺寸15050 mm2 (12keV)实验站实验站设备Mar225 CCD探测器、Mar Dtb 系统、荧光探测器、样品低温冷却装置（CryoStream700）显微镜、高性能计算机。实验方法生物大分子晶体结构测定多波长反常散射法(MAD)单波长反常散射法(SAD)High-throughput Macromolecular Crystallography4 / 4
