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1、电子样机空间分析 DMU Space Analysis *1 电子样机空间模块 界面 Date2 电子样机空间分析 n电子样机空间分析（DMU Space Analysis ）是CAD一支独立的分支，主要用于干涉 分析、截面选取、3D产品比较、精确测量 以及质量和惯量的计算。 n样机测量 n截面选取 n干涉分析 n产品比较 Date3 （1）样机测量 n样机测量是电子样机空间分析的基本功能 ，为电子样机的空间分析提供了完备的测 量工具。 n利用这些工具可以测量几何实体或者点之 间的最短距离和角度、以及与被测对象相 关的特性、转动惯量、密度和质量等。另 外，还可以测量弧线的长度、半径、角度 和圆
2、心坐标等。 Date4 样机测量具体功能 n最短距离测量 n区域分析 n三点弧线测量 n两项测量 n项目测量 n惯量测量 Date5 a.最短距离测量 n测量一个组内的物体或两个组内物体之间 的最短距离。 Date6 Date7 b.区域分析 n区域分析（Band Analysis）的功能：计算 并显示小于用户规定最短距离的区域和处 于规定范围内的区域。主要用于对电子样 机的操纵空间的分析。 n例如对方向盘的操纵空间进行分析，检查 操纵方向盘时会不会与其它物体发生干涉 以及干涉的程度。另外，对踏板操纵空间 分析也可以用此命令完成。 Date8 n 为了进一步的了解Band Analysis（区
3、域分析）的 功能，下面用示意图来 进一步说明区域分析的 意义。 n 图中各区域的意义是 ：A物体上，蓝色区域 代表该区域内的所有点 到B物体的最短距离全 部落在用户规定的尺寸 范围内。 n红色区域代表该区域内 的所有点到B物体的最 短距离全部小于规定的 最短距离。B物体上的 区域代表的意义同A。 域分析示意图域分析示意图 Date9 Date10 c.三点弧线测量 n通过定义弧线上的三点（起点、中点、终点） 来确定一段圆弧，用这段圆弧来近似的反映被 测弧线。可测量的项目包括弧线长度、中心角 、顶点角、半径、直径以及三点的坐标值。 三点弧线测量选项示意图 Date11 Date12 d.两项测量
4、 n两项测量（ Measure Between） 功能在于测量两 几何实体（表面 、边、顶点和产 品）或两点之间 的最短距离和角 度。 默认类型 测量所选项目的距离和角度 链式测量是将前一个测量的最后选项作为后一个测量的第一个选项 扇形测量是将所有测量的第一个选项都固定在同一点上 Date13 e.项目测量 n测量与所选项（点 、边、面和整个产 品）相关的特性， 如面的周长、面积 、面的重心等；立 方体表面积、体积 、重心等。 Date14 Date15 f.惯量测量 n测量面或体的惯性特性，包括质量、相对 各中性轴的转动惯量、重心以及惯性矩阵 等，并获取面密度或体密度以及所选物体 的面积或体
5、积。 Date16 Date17 样机测量实例演示 Date18 （2）截面选取 重点 n截面选取是利用切削平面对电子样机进行截面 剖分来显示装配模型内部结构，并进行简单的 干涉分析。结合空间分析中的其它命令，还能 够对二维截面图形进行测量和批注。 Date19 关于截面选取 n默认切削平面平行于系统坐 标系的YZ平面，切削平面中 心位于所选物体外切圆的圆 心。 n切削平面有自身的定位坐标 系。U、V、W分别代表三个 坐标轴，W轴为切削平面的 法向量。 n在进行截面剖分时，利用切 削平面操纵命令，可以对电 子样机的任意位置进行剖分 。 n在进行截面选取时，会弹出 一个单独的截面图形窗口。 在该
6、窗口中，可以检查截面 内各部件的干涉情况。 Date20 关于截面选取 _2 n体积切割 可以将材料从切削 平面的反方向切除，暴露电 子样机的内腔，以便观察电 子样机的内部结构。 n截面选取功能结合两项测量 功能，可以对截面图进行测 量。 Date21 截面选取的步骤 n单击截面选取按钮，或从主菜单中选择Insert | Sectioning命令。 n选择进行剖分的部件。默认为整个模型产品。 n对切削平面进行定位和大小调整。 n打开截面结果，并对截面结果进行操作。 n保存结果。 Date22 截面的创建：3种类型 n 截切平面（ Section Plane） n 截切片（ Section Sl
7、ice） n 截切箱（ Section Box） Date23 截面的创建：3种类型 Date24 截面（切削平面）操作 n默认切削平面具有以下特点： n切削平面的中心位于选择部件的包容箱中心 。 n切削平面平行XY平面。 n切削平面为矩形。 n切削平面的尺寸依据最远部件到惯性中心的 距离确定。 n一般情况下，截切平面位置和尺寸 并不理想，还需要： n重新定位。 n移动和旋转。 n尺寸更改。 Date25 截面操作的3种方法 n直接操作法 n位置和尺寸编辑命令 n几何目标定位法 Date26 直接操作法 n直接操作法就是直接利用鼠标操纵切削平面， 一般切削平面的操作是尺寸大小调整、方向旋 转、
8、XY平面内的位置移动、平行XY平面的移动 。 （a） 截面尺寸调整 （b） 截面旋转 （c）截面法向移动 （d）平行XY面的移动 Date27 位置和尺寸编辑命令 切削平面的定位更精确 Date28 几何目标定位法 n利用光标选择切削平面的位置并控制切削 平面方向的方法 在移动光标寻找目标的过程中，会有一个矩形和一个方向向量分别 代表平面和平面的法向量，用来辅助定位切削平面 Date29 截面视窗的使用 n在截面结果视窗中，对截面结果进行操作 的工具有三类：截面对话框提供的工具、 鼠标右键提供的工具和其它外部工具。 n截面对话框提供的工具包括：截面填充（Fill Section）、栅格切换（D
9、isplay Grid）、栅格 编辑（Modify Grid options） Date30 截面视窗的使用（续） 截面填充的切换 Date31 栅格编辑 栅格切换 Date32 截面视窗的使用（续） n鼠标右键提供的工具包括：截面图形锁定（ 2D Lock）、右旋转（Rotate Right）、左旋 转（Rotate Left）、垂直翻转（Flip Vertical ）、水平翻转（Flip Horizontal） n其它外部工具，包括：测量和批注工具 Date33 截面视窗的使用（续） n三种类型的截面批注方法：截面测量、3D 批注、2D批注 Date34 截面选取实例演示 Date35 （
10、3）干涉分析 n干涉分析功能用于对装配模型进行碰撞分 析、接触分析和间隙分析，并判断各元件 之间的干涉程度。根据需要，还可以进行 不同水平的干涉分析，如从简单干涉探测 到详细的碰撞、接触和间隙分析。 n干涉分析提供了两种不同类型的分析工具 ，如果只进行初步的干涉探测，可以选择 Part to Part Clash命令；如要进行详细的 干涉分析，则需要选择Clash命令 Date36 Part to Part Clash分析 n选择菜单栏中Analyze | Part to Part Clash命令 n从树形图中选择进行干涉分析的两个部件，选择时按住Ctrl键 n选择分析类型 nResult栏中
11、的指示灯的颜色代表的含义是： n红色代表部件间发生干涉；黄色代表部件间有接触；绿色代表部件间有间隙； Date37 Clash命令干涉分析 干涉类型 Contact+Clash：检查两个产品是否发生干涉和接触 。 Clearance+Contact+Clash：除检查两个产品是否发 生干涉和接触外，检查两个产品间是否有小于规定的间 隙。其后面的数值就是规定的间隙值。 Date38 Date39 其中，矩阵阵中的色码码和 记记号含义为义为 ： Clash： Contact： Clearance： Date40 干涉分析实例演示 Date41 （4）产品比较 n产品比较的功能用于检查和比较两个部件
12、 或产品之间的不同，并显示增加和删除的 材料。在设计过程的不同阶段，装配比较 （Comparing assemblies）和产品比较（ Comparing products）具有非常重要的意 义。尤其，虑到从制造商到顾客对产品要 求的不同，产品比较更显的重要。 Date42 产品比较操作过程 n1.选择菜单栏中的Insert | Existing component，在弹出的对话框中选择要进行比较 的产品。 n2.重复上面的步骤，插入另一个产品。被比较的两 个产品被导入到了同一文件中， n3.单击空间分析工具栏中的产品比较按钮 n4.选择图中的活塞，作为Old version。 n5.再选择图
13、中的活塞.1，作为New version。 n6.单击Preview按钮，进行视觉比较 Date43 产品比较操作过程（续） 黄色：公共部分 红色：增加的材料 绿色：删除的材料 7.移动Comparison Accuracy调 节滑块，将比较精度设为1mm Date44 产品比较的两种模式 nVisual（默认模式）：这种比较模式，只 是单纯的象素比较。放大后效果会更好。 比较结果用一个单独的视图来显示。视觉 比较是一种更快更精确的比较模式，其计 算时间和视觉比较窗口的尺寸成正比。 nGeometric：在几何比较中，装配比较或 产品比较是用不同颜色的小立方体（体素 ）来显示增加和删除的材料。 Date45 n视觉比较（Visual comparison）的 结果不能够保存 ，只有几何比较 （Geometric comparison）结 果能够保存。 Date46 Date47
