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1、SKYROCK文件名称统计工具手册文件编号QC069019版 次第 1 版制订部门品保课发行部门文控中心发行日期2003年8月1日1. 目的：使使用部门能通过此手册很好的应用统计技术。2. 范围适用于本公司所有统计技术3. 职责3.1质量控制部对相关部门进行统计技术应用培训，并验证各部门对统计技术的使用情况3.2相关部门据本部门情况采用具体的统计技术4. 细则4.1明确在哪些方面需使用统计技术。4.1.1统计技术的应用应特别关注特殊特性。4.1.2各相关部门确定本部门需使用的统计技术。4.1.3工艺设计和试验中可应用因果分析图、散布图等统计技术4.1.4工序控制中可应用控制图、直方图等统计技术
2、4.1.5质量统计、分析中可应用调查表、排列图、因果分析图等统计技术4.1.6产品验证和试验中可应用统计抽样技术4.1.7测量系统分析中可应用控制图等统计技术4.2培训4.2.1对各部门向人力资源部提出培训申请，人力资源部编写年培训计划，由质量控制部和人力资源部按人力资源开发程序和年培训计划进行培训。培训内容：主要是本手册的内容，如有其他需要，可由人力资源部和质量控制部协商，质量控制部能进行的，由质量控制部完成，如质量控制部不能满足其要求，可由人力资源部与其他公司联系培训事宜。4.2.2对公司的全体员工都应进行统计技术基本知识培训。4.3实施4.3.1数据采集，由各部门按相关统计工具的具体要求
3、采集数据。4.3.2各相关部门对所采集数据做相应的数据处理。4.3.3数据分析。如有必要，相关部门召集QC小组讨论，对所收集的数据进行分析，按PDCA程序进行控制。各部门保存相应记录。5. 内容包括：一、 过程和设备能力二、 统计过程控制（SPC）三、排列图四、因果图五、直方图六、调查表七、对策表一、过程和设备能力1. 目的：1.1确保新购置的和现有设备经过调整后有能力制造出高于规定要求的产品，并能在以后的生产过程中保持这种状态。1.2确保设备过程能力满足新引进零件/装配规范的要求。2.范围2.1新设备接收前或现有设备更新工装设施后。2.2引进新零件，零件/装配规范有改变时。3.设备能力试验3
4、.1说明3.1.1能力的评定是通过测量大量的在生产过程中的固有变量进行的，这种性能评定应在正常生产的状态下进行。3.1.2操作应按正常生产的转速、进给量等进行，操作人员技能应与实际操作人员技术水平相当。3.1.3材料的材质应与正常生产中使用的相同。3.1.4测量设备应具有可验收能力。3.2设备性能试验操作过程3.2.1通常，所选设备制造完成后，由我公司人员在设备厂家进行设备性能验收。3.2.2设备组装完成后，开始进行设备能力试验，试验过程中，压力、温度、动力供给等应维持在恒定状态。3.2.3每一关键性能都应进行能力试验。3.2.4设备能力应在连续加工的产品中抽取最少50个连续加工件进行测量。注
5、意：如果此要求所需时间和价格过高则允许抽样数减小。3.2.5多轴、多夹具、多转台的设备，每一个都应视为一个单独的过程分别评定。3.2.6保留全部试验过程的记录并填写REC0165质量指标记录。3.2.6如进行了某些调整，且这些调整对性能有重要影象，则在此期间生产的产品不做能力分析的样品。3.3数据分析 3.3.1两侧控制限的分布通常为对称分布，如果不是，应进行分析。3.3.2设备能力指数Cm和Cmk计算公式如下： 3.3.3 Cm公式为：规定总偏差6标准偏差3.3.4 Cmk计算公式如下，取两者中较小的：上偏差-平均值3标准偏差或平均值-下偏差3标准偏差3.3.5设备可接收的理想的Cm和Cmk
6、最小值为1.67，但对于某些公差要求很紧的参数，或现有的最好检测设备可获得的精度与公差范围接近，则可以为1.33。3.3.6工程部规定最小能力指数。3.3.7单侧控制限（如圆度、锥度、同心度、平衡、清洁度等）的分布通常为不对称，但如分布未延伸到0值，通常也出现对称分布。3.3.8对于单侧控制限通常只计算Cmk值。3.3.9单侧Cmk值计算公式如下：规定总偏差平均值+3标准偏差3.3.10如最小指数未能达到，则此设备不可接收，需采取纠正措施。3.3.11如设备令人满意，可接收,在PETL安装、调试之后重复能力试验，如结果满意，可完全接收。3.4设备能力试验3.4.1在正常情况下，设备在公司安装调
7、试之后，就执行正常的过程控制。3.4.2有时有必要进行单独的能力试验。3.4.3如在已加工的产品储存区内挑选零件进行能力试验，所挑选零件很可能不是一批产品，能力公式仍按上述公式计算，但最小值可为1.33，Cm和Cmk可用Cp和Cpk代替。3.4.4如能力试验表明能力不足，需采取纠正措施，之后进行能力试验。3.5初始过程能力3.5.1一般情况下，应在最短的试生产中获得能力数据。3.5.2在进行大量生产的情况下，应给出能力指数期望值。3.5.3能力指数为Pp（初始过程潜力）和Ppk（初始过程能力）的计算方法同Cm和Cmk的计算方法。3.5.4最小Pp和Ppk值为1.67。3.5.5如有必要，结果记
8、录于过程控制表中，这样使得任何调整引起的影响可以进行估计并能确定是否所有漂移都在要求范围内。3.5.6将测量结果画直方图，计算平均值和标准偏差，分布曲线（是对称的或是不对称的）可表现在直方图上。3.5.7 可在SPC图上记录结果，可有两种SPC图，对称和不对称分布。3.6职责3.6.1在接收前，机制部负责指定需要进行能力试验的设备。（新的和修过的设备）3.6.2机制部负责执行能力试验。（在生产厂家和安装后）3.6.3机制部负责： 对现有设备的连续能力试验 初始过程能力试验。（对新设备和更换零件的设备）3.6.4质量控制部、设备动能部协助机制部完成此项工作。4.相关记录：REC0165质量指标记
9、录REC0167过程/设备质量指标改进记录二、 统计过程控制（SPC）1.相关部门制造部、质量控制部、研究所2.过程2.1 需做SPC的过程的选择需采取SPC进行统计分析的加工过程和参数的选择应符合：l 关键的部件、过程和参数。l 整体质量水平情况，包括自己和用户反映的。l 过程能力。l FMEA、APQP数据。注意，如在过程中对某些参数进行控制，SPC曲线会更有效。例如：清洗液清洗强度对温度的控制，冷却温度&半精尺寸对加工过程的影响，装配扭矩控制过程中空气压力的控制等。2.2 检查频率待定。如果过程在控制范围以内，检测频率可减少。2.3 SPC图监测工段负责人应根据曲线走势进行监测活动。应按
10、时发布变量曲线图-Cp、Cpk结果，特性图平均不合格水平、不合格分析。2.3.1如出现以下情况，必须采取纠正措施： Cp、Cpk结果小于1.33 有点落在控制线以外2.3.2如有以下情况，需采取纠正措施： 连续7点位于中心线一侧。 有一点超出控制线。 连续7点呈上升或下降趋势。 明显的非随机图形。 相对于中心线，数据过于集中或分散。（一般情况下，大约有2/3数据点分布于中心线周围1范围内，1/3数据点分布于控制限范围内2-3之间）2.3.3在一般情况下，纠正措施的要求不固定给出。如以下情况： 装配扭矩，通常认为接近EDR上限比接近其下限安全。 机加工零件中冷却/抛光要求控制在标准值之上，则产生
11、超差的可能性减小。2.4 纠正措施要求如SPC曲线表明需采取纠正措施，部门主管负责采取纠正措施。这些措施包括： 停工并对过程进行验证。 提高检测频率直至过程受控。 将最后一次接收的工件之后的工件进行隔离，对其进行全检，找出不合格件。 将所有不合格品进行隔离并进行标识。 不合格件返工/返修。 如原因不在本处，通知责任区域/部门。任何方法、过程或材料更改的详细内容应记录在SPC图表格内。2.5曲线图保存按质量记录控制程序执行3.控制限3.1变量曲线应计算控制极限。3.2先绘制第一个SPC控制图，之后根据曲线情况可对其加以修正。绘图步骤： 采集数据。一般情况下选择连续加工的3-5个参数，如数据很难采
12、集可采集一个数据。采集频次可为每班两次。也可根据实际情况增加或减少。 连续收集25组数据后，计算均值、极差及控制限。计算公式如下： X1+X2+Xn均值X=N极差R=X最大值-X最小值 R1+R2+Rn平均极差R=K X1+X2+Xn 过程均值X= K极差上控制限UCLR=D4R极差下控制限LCLR=D3R均值上控制限UCLX=X+A2R均值下控制限LCLX=X-A2R上式中:K为子组数量, D4, D3, A2为常数,它们随样本容量的不同而不同。 在控制图上做出平均值和极差控制限。 描点分析。3.3一旦SPC建立，它就取代曲线监测和评估控制限的职责。3.4记录扭矩的变化曲线，一般不用控制限，
13、这是因为实际应用中采取的检查方法是扭矩接近控制上限，尽管过程有能力，但Cp值可能小于1.33，在这种情况下，采用规定上下限。3.5通常，控制限是将规定界限均分，而不是实际均值，这样可能给使用者造成假象。在某些情况下，例如：需对温度变化进行测量的地方，或对于单控制限，控制限可按实际平均中线打印，也可将允许的指标平均打印。4.能力指数4.1 Cp是公差带与6倍标准偏差的比值，不考虑数据位置，它表明过程能力，而不考虑调整偏差。如某过程Cp=1，则此过程刚好满足公差范围。4.2 Cpk是一个指数，包括满意的过程分布和其相对规定极限的位置。4.3 Cp和Cpk的计算:4.3.1 Cp=规定总偏差/6倍标
14、准偏差4.3.2 Cpk=（上偏差-平均值）/3倍标准偏差3 或Cpk=（平均值-下偏差）/3倍标准偏差注意：用2个Cpk计算值中的最小值进行能力评估4.4过程Cpk值为1表明能力刚好满足公差范围和调整的规定要求。4.5完全令人满意的Cpk值应大于1.33。4.6 Cp/ Cpk=1.33不能认为是最佳值，应不断的进行改善。4.7以上给出的Cp和Cpk计算仅是上、下控制限和正态分布密度，其概念是将平均偏差向中间调整，获得最满意的执行过程，然而，有些单侧偏差（如表面精度、同心度、锥度、平衡等），其目的是尽量使结果接近0，获得最佳结果。 理论上讲，分布是不对称的或单侧的，但实际应用当中通常是正态的。 珀金斯对不对称分布所采取的计算方法是：Cpk=公差/（平均值+3倍标准偏差）注意：Cp值在单侧公差中不适用，以上Cpk计算值包括分布和位置。4.8 Cp和Cpk能达到1.33并能提高是最佳的。在某些情况下，例如一个要求很严格的特性或仅具有适当的能满足公差范围的测量设备，规定Cpk=1.33不实用，可采用Cpk=1.0质量控制部/生产中心应规定采用的最小能力指数。如采用最低值，应进行FMEA或使用控制图。5.职责5.1质量控制部l 提供相关操作者和其他相关人员一天的培训。5.2人力资源科l 保存全部培训记录。5.3
