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1、材料微区分析平台平台目前拥有的仪器有：冷场发射扫描电镜（CFSEM）、热场发射扫描电镜（TFSEM）、S-520扫描电镜（SEM）、电子探针（EPMA）、X射线粉末衍射仪（XRD）、X射线单晶衍射仪（SXRD）、微区X射线荧光光谱仪（- XRF）、以及冷冻干燥仪、临界点干燥仪等配套的扫描电镜制样设备。可以进行各类材料表面形貌、微区结构和元素成分及材料的物相和结构分析等。平台人员专业技术力量强，实力雄厚，在材料微区形貌结构、成分分析和物相、结构分析及其各类电镜的维修等方面都具有丰富的经验；平台学术气氛浓厚，承担了国家自然科学基金和广东省自然科学基金多项；平台人员精诚合作，改革创新，竭诚为校内外提
2、供优质的服务。人员具体情况如下：姓名职务/职称工作职责联系电话电子邮箱赵文霞平台主任/ 副研究员主持平台全面工作/电子探针李阳研究员单晶数据处理84110195liyang223 许瑞梅实验师冷场发射扫描电镜、S-520扫描电镜程小宁实验师热场发射扫描电镜、S-520扫描电镜徐艳高级工程师X射线粉末衍射仪、微区X射线荧光光谱仪冯小龙工程师X射线单晶衍射仪、微区X射线荧光光谱仪梁超伦实验师透射电镜黄烘工程师透射电镜张浩助理实验师透射电镜84110195zhhao26 热场扫描电镜/能谱/背散射 型 号：Quanta 400/INCA/HKL热场发射扫描电镜/ X-射线能谱仪/电子背散射衍射系统
3、(Thermal FE Environment Scanning Electron Microscope/ Energy Dispersive X-RAY Spectrometer，EDS/ Electron Backscatter Diffraction，EBSD)生产厂家：荷兰飞利浦FEI公司/ Oxford (英国牛津公司) / HKL (丹麦HKL公司，现属于英国牛津公司)主要技术指标：1、电镜的分辨率：2 nm 放大倍数：7 500,0002、扫描电镜分辨率：30kV高真空、低真空: 2.0nm；3kV低真空: 3.5nm 3、30kV透射扫描（STEM）分辨率：1.5nm；环境真空
4、模式下30kV时，分辨率2.0nm4、能谱元素分析范围：5B92U 5、EBSD空间分辨率(Al, 20kV): 0.1 m FEG SEM；角度分辨率优于0.5度6、相鉴定功能：包括七大晶系，具有最大的相鉴定数据库 应用范围：Quanta 400 FEG场发射扫描电子显微镜是表面分析重要的表征工具之一，具有灵活先进的自动化操作系统。具有三种成像真空模式-高真空模式、低真空模式和ESEMTM模式，可以观察分析各种类型的样品。它可以对处理过的样品和未处理的原始样品提供微米、纳米级表面特征的图像和微观分析数据。在生物学、地质、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、考古以及其他领域中得到日益广泛的应
5、用。本仪器还配有INCA X-射线能谱仪和EBSD背散射电子衍射系统，元素分析范围为4Be92U，同时可进行晶体结构和取向分析。该仪器上是集多领域手段于一体的显微形貌、显微成分、显微结构和显微织构的现代化显微分析系统。样品要求：各种类型的尺寸小于5cm5cm5cm（尺寸毫米级为宜）的干燥固体样品 联系方式：020-84110783300kV 透射电子显微镜 型 号：Tecnai G2 F30 300 kV 透射电子显微镜生产厂家：美国FEI公司主要技术指标：1、加速电压200 kV300 kV2、点分辨率（nm）0.203、线分辨率（nm）0.1024、信息限度（nm）0.145、TEM放大倍
6、数范围60 -1，000kx6、相机长度（mm）80 - 4，5007、最大衍射角度128、STEM HAADF分辨率（nm）0.199、STEM放大倍数范围 150 -230Mx10、能谱分辨率 136 eV11、能量过滤器分辨率: 0.9 eV应用范围：FEI公司Tecnai G2 F30场发射透射电子显微镜是一个真正多功能，多用户环境的300 kV场发射透射电子显微镜，它将各种透射电镜技术，包括CTEM, SAED, STEM, EDX, EELS有机组合，形成强大的分析功能，可在原子尺度上提供纳米材料的内部结构、电子结构及化学环境等信息，同时可对材料组成元素进行线分布和面分布分析，获得
7、高空间分辨率的定性、定量信息。样品要求：样品厚度需低于200 nm。微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样。由于该仪器是高分辨分析型电镜，为确保仪器高空间分辨率的特性，目前主要接受材料领域的样品，暂不接受磁性样品、易挥发、有毒及带有辐射性样品。联系方式：020-84110195 梁超伦 老师(锐影)X射线衍射仪型 号：Empyrean X射线衍射仪生产厂家：荷兰帕纳科公司生产的Empyrean（锐影）X射线衍射仪广泛用于无机物、有机物（部分）、高分子、药物及矿物等多晶样品的分析。可进行物相定性、晶粒度测定、纳米材料颗粒分布、长周期测定、取向度测定、晶型鉴别、K1射线数据测量以及其它参数测定。
8、 主要技术指标：1、功率3 kW2、最小扫描步长0.00013、2q线性0.014、角度重现性0.00015、测角范围(2) 0.1140。应用范围：广泛用于无机物、有机物（部分）、高分子、药物及矿物等多晶样品的分析。可进行物相定性、晶粒度测定、纳米材料颗粒分布、长周期测定、取向度测定、晶型鉴别、K1射线数据测量以及其它参数测定。样品要求：送检样品可为粉末状、块状、薄膜、镀膜及其它形状。粉末样品需要量约为0.5 g（视其密度和衍射能力而定）；块状样品要求具有一个面积小于1.8 cmX1.8 cm 的近似平面；薄膜样品要求有一定的厚度，面积小于1.8cm1.8 cm。联系方式：020-84110
9、782冯小龙 老师120kV 透射电子显微镜型 号：Tecnai G2 Spirit 生产厂家：美国FEI公司主要技术指标：1、加速电压20 kV120 kV2、点分辨率 TWIN 0.34 nm，3、线分辨率 TWIN 0.20 nm ，4、最大全对中倾角 TWIN +/- 70o ，5、TEM放大倍数 TWIN 18.5倍 650,000倍。应用范围：加速电压20 kV120 kV属于轻元素生物体研究的理想范围，最大程度地减少了对脆弱生物结构的射束损坏；可自动执行众多常规操作程序，操作简单；侧面和底部都安装有嵌入式 CCD 相机，能瞬间生成高品质图像。样品要求：除微细粒状样品可以通过介质分
10、散法并直接滴样外，其它样品的制备方法主要有物理减薄法（包括离子和双喷减薄等）和超薄切片法。一般情况下，物理减薄法的样品制备过程须由用户自己完成，不具备此制样条件的院系，可预先与本仪器室联系；超薄切片样品的制备周期较长，需一个月左右。联系方式：020-84110195 张浩 老师微区X射线荧光光谱仪 型 号：Eagle III XXL Probe微区能量色散X射线荧光光谱仪生产厂家：美国EDAX公司主要技术指标：1、可检测元素 11Na - 92U2、光斑直径100m，300m3、浓度范围在ppm级至100%的范围4、可以在真空下或大气压下进行检测5、超大型样品室700mm700mm700mm；
11、可以进行面扫描与线扫描元素分布分析应用范围：主要用于金属材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品质量控制、宝玉石鉴定、考古和文物鉴定、公安刑侦物证元素分析等。优势在于可以对上述样品局部进行最小到100微米局部范围内元素定性和半定量无损分析。联系方式：84110782冯小龙老师X-射线单晶衍射仪型 号：Smart 1000 CCD X-射线单晶衍射仪（Single Crystal Diffractometer）型号：Smart 1000 CCD生产厂家：德国Bruker公司主要技术指标：1、功率 3kW2、Mo 靶应用范围：用于测定各种无机物、有机物的晶体结构。可以获得样品的晶胞参数、键长、键角
12、、构象、氢键、分子间堆积作用等信息。样品要求：1、送检样品必须为单晶2、选择晶体时要注意所选晶体表面光洁、颜色和透明度一致3、不附着小晶体，没有缺损重叠、解理破坏、裂缝等缺陷4、晶体长、宽、高的尺寸均为0.1 0.4mm ，即晶体对角线长度不超过0.5 mm（大晶体可用切割方法取样，小晶体则要考虑其衍射能力）联系方式 ：020-84110782冷场扫描电镜型 号：JSM-6330F 冷场发射扫描电子显微镜 （Field Emission Scanning Eletron Microscope）生产厂家：日本电子株式会社主要技术指标：1、分辨率：1.5nm2、放大倍数：x10 x500,0003
13、、样品尺寸： 8 mm x 5 mm4、最大尺寸： 100 mm x 6 mm应用范围：广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。该仪器的最大特点是具备超高分辨扫描图像观察能力，尤其是采用最新数字化图像处理技术，提供高倍数、高分辨扫描图像，并能即时打印或存盘输出，是纳米材料粒径测试和形貌观察最有效仪器。也是研究材料结构与性能关系所不可缺少的重要工具。样品要求：1、送检样品必须为干燥固体、块状、片状、纤维状及粉末状均可2、应有一定的化学、物理稳定性，在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形；无磁性、放射性和腐蚀性3、含水分较多的生物软组织的样品制备，要求用户自己进行临界点干燥之前的固定、清洗、脱水及用醋酸（异）戊酯置换等处理，最后由本室进行临界点干燥处理4、观察图像样品应预先喷金膜。一般情况下，样品尽量小块些（ 10 x 10 x 5 mm较方便）5、粉末样品每个需1克左右6、纳米样品一般需超声波分散，并镀铂金膜送样须知：送样检测请先到测试中心业务办公室登记。需自己上机观察者
