维修知识培训1

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1、维修知识培训,射频原理及实例 第1课时,手机发射电路(一),GSM是Global System for Mobile Communication 的缩写。意思是全球移 动通信系统。分GSM850、GSM900、DCS1800和PCS1900四个频段,一般我国 的所谓双频手机就是在GSM900和DCS1800频段切换的手机。而GSM850和PCS1900则是别的一些国家使用的频段。 GSM900和DCS1800分别是工作在890960MHz/17101880MHz频段的.手机的射频分为发射电路和接收电路两 部分. 一.手机发射原理: 当MIC接收到语音信号时,通过MIC放大电路将语音信号放大,输

2、入到 基带芯片进行数模转换,输出TXI+、TXI-、TXQ+、TXQ-信号到收发芯 片进行混频处理,再经过射频功放进行放大成高频信号,最后经过高 频滤波器滤波后由天线发射出去给基站,框图见下页:,手机发射电路(二),手机发射电路(三),* 手机发射电路一般校准AFC(自动频率控制)、APC(自动功率控制), 下面介绍一下AFC和APC的分析思路: 1.AFC: 当AFC校准不过时,在排除综测仪和校准夹具之后,就要考虑手机主板 硬件的问题,AFC的中文意思是自动频率控制,顾名思义,就要从手机 主板的发射频率是否正常来排除问题,此时就要借助专用的发射工具、 示波器和频谱仪来分析问题.利用发射工具使

3、手机处于900MHz发射状态 (信道可选择62,功率等级可选择519),用频谱仪的探头测量手机主 板射频头处的波形,观察发射波形是否正常,然后逐步检查天线开关 处,射频功放处,收发芯片处的波形是否正常,若不正常,可用示波器 检查I、Q信号是否正常,各射频芯片的工作电压,使能信号是否正常.,手机发射电路(四),若900MHz的波形正常,再使用发射工具使手机处于1800MHz的状态 (信道可选择700,功率等级可选择015),测试方法同900MHz. 2.APC: 自动功率控制,测试每个功率等级的发射功率值是否在规定范围内, 若APC测试不过, 一般情况下,用频谱仪量出来的波形肯定是偏小或 波形杂

4、,或者说是某个功率等级的发射波形不良. 举个简单的例子:如下图,是射频功放的原理图,若VBAT或VRF电压没 有正常工作,或者第13脚的使能信号不正常,那么用频谱仪测量PA的第3 脚处900MHz的波形是正常的,而测量PA第8脚必定没有波形输出,从而 校准时必定会出现AFC或者APC项不良.,手机发射电路(五),手机接收电路(一),二.手机接收原理: 手机通过天线接收到从基站发射出来的高频信号,经过天线开关滤波 后再通过带通滤波器筛选出规定范围内的某段频率的信号,然后在收 发芯片内部进行混频后输出RXI+、RXI-、RXQ+、RXQ-信号,输入到基 带芯片内部进行数模转换,最后由RECEIVE

5、R输出声音.框图见下页:,手机接收电路(二),手机接收电路(三),* 手机接收电路要校准AGC(自动增益控制),要校准EGSM900MHz和DCS 1800MHz两个频段的,AGC不良主要是接收通路上的天线开关,射频滤波器,收发芯片有虚焊或者性能不良引起的,可以借助示波器从RXI、RXQ信号量起,逐步查找原因. 如下页图纸所示,是天线开关的工作原理图,若射频头J101,C118,天线 开关的第11脚虚焊,则必定会引起EGSM-AGC不良;若天线开关的第5脚 虚焊,则必定会引起DCS-AGC不良.,手机接收电路(四),手机综测故障(一),* 在对手机做完校准之后,还要对手机进行综测测试,即模拟实

6、际通话的测 试,综测部分的主要故障出现在CALL,TXP,PVT,ORFS和BER. 1.CALL: 要模拟实际通话,首先要使手机和基站(综测仪)之间建立连接,如 果连接不上就会出现CALL不良,因为在综测之前已经对手机进行了 严格的TX、RX校准,所以射频部分的故障可以暂不考虑,一般情况 基带处理电路和软件故障都会引起CALL不上. 2.TXP: 手机经过严格的TX校准,一般情况下很少出现此项FAIL,若发现可先 考虑测试工具、软件或者测试夹具的问题.,手机综测故障(二),3.PVT: 此项是测试呼叫状态下的功率包络,出现FAIL时先用示波器检查射 频放大使能信号(RF-RAMP)有无异常,若该信号正常则需要检查 发射通路上的匹配电容和滤波电容,另外,在发射状态下,VBAT的 压降过大也会引起该项不良,因此,检查VBAT的滤波电容也是必须 的. 4.ORFS: 此项是检查发射信号的调制频谱和开关频谱是否满足GSM协议的要求, 出现该项FAIL时可以逐级检查TX通路上信号频谱,一般匹配电容对输 出频谱影响较大.,手机综测故障(三),5.BER: 此项是检查接收误码率的偏差是否在规定的范围内,出现此项FAIL, 一般是RX滤波器及其匹配电路的衰减过大或者性能不良引起的.,

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