第4章_机械量检测技术

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1、第4章 机械量检测技术,4.1 长度位移测量 4.2 速度加速度测量 4.3 振动测量 4.4 力的测量 4.5 噪声测量,4.1长度位移测量,我国和国际的长度单位是米。在1983年第十七届国际计量大会上正式通过米的新定义如下： “米是光在真空中1299792458秒的时间内所经过的距离。”,长度单位：米的定义,4.1.1基本概念,米原器,4.1长度位移测量,4.1.2 长度量值传递,目前，在实际工作中常使用下述两种实物基准：量块和线纹尺。首先由稳定激光的基准波长传递到基准线纹尺和一等量块，然后再由它们逐次传递到工件，以确保量值准确一致。,4.1长度位移测量,4.1长度位移测量,4.1长度位移

2、测量,4.1.3 长度测量的标准量 标准量:体现测量单位的某种物质形式，具有较高的稳定性和精确度。 光波波长：直接使用米定义咨询委员会推荐使用的五种激光和两种同位素光谱灯的任一种来复现。,量块:由两个相互平行的测量面中心之间的距离来确定其工作长度的一种高精度量具。 量块是单值量具，可以组合使用。 量块的公称尺寸和实测尺寸。,4.1长度位移测量,4.1长度位移测量,4.1长度位移测量,量块的精度分级又分等 量块按制造精度分为0、1、2、3、4级，其中0级精度最高， 按检定精度分为1、2、3、4、5、6等，其中1等精度最高。,4.1长度位移测量,量块“等”和“级”之间的关系是： （1）对研合性及平

3、面平行性偏差规定为：l、2等与0级，3、4等与1、2级，5、6等与3、4级分别相同。 （2）“等”和级”可以代替使用。 例如，0、1、2级量块的中心长度制造极限偏差分别与3、4、5等量块的中心长度测量极限误差相同，因此，0、l、2级量块可分别代替3、4、5等量块来使用。,4.1长度位移测量,光栅、容栅的栅距和感应同步器的线距 测量效率高； 容易实现数字显示和自动记录， 可以实现测量自动化和自动控制。,4.1长度位移测量,4.1长度位移测量,4.1长度位移测量,4.1长度位移测量,阿贝原则：为了保证测量的准确，应使被测零件的尺寸线(简称被测线)和量仪中作为标准的刻度尺(简称标准线)重合或顺次排成

4、一条直线。符合阿贝原则的测量，可尽量减小导轨直线度误差对测量结果的影响。,4.1.4长度测量的基本原则,4.1长度位移测量,游标量具 应用游标读数原理制成的量具叫游标量具。它广泛用于测量内外尺寸、高度、深度等。 游标读数原理:读数部分主要由尺身与游标组成，利用尺身刻线间距与游标刻线间距差来进行小数读数。,介绍长度计量中常用的量具与量仪,4.1.5 长度尺寸的测量,4.1长度位移测量,Vernier Caliper,4.1长度位移测量,读数方法：首先读出游标零刻线所指示的左边尺身上的毫米刻线整数；然后观察游标刻线与尺身刻线对准时的格数，将游标对准的格数乘以游标读数值，即为毫米小数；最后将毫米整数

5、与毫米小数相加，即得被测工件的尺寸读数。例：游标读数值为0.10mm,则被测工件尺寸为2十0.302.30mm。,4.1长度位移测量,近十年来发展了一种不用游标读数的新型卡尺，即数显卡尺（又称为电子卡尺），数显卡尺的测量范围为O150 mm，分度值为 0.01 mm，测深为 0115 mm。数显卡尺的电子部分装有存储器、置零装置和公英制换算装置。,4.1长度位移测量,测微量具 常用的精密量具，它利用精密螺旋副进行测量，而以微分筒和固定套筒上的刻度进行读数。精密螺旋副的螺距为0.5mm， 由于测微螺杆的精度受到制造工艺的限制，其移动量通常为 25 mm。,4.1长度位移测量,测微量具是应用螺旋副

6、传动原理，将角位移转变为直线位移，直线位移的各行程与螺旋转角成正比，其数学表达式为,4.1长度位移测量,L测微螺杆的位移mm 测微螺杆的旋转角度rad P 测微螺杆的螺距mm,读数： 14.10mm,读数方法读数机构由固定套筒和微分筒组成。在固定套筒上刻有纵刻线，纵刻线上下方各刻有25个分度，每个分度的刻线间距为1mm，微分量具中测微螺杆的螺距一船都是0.5mm，微分筒圆周斜面上刻有50个分度，因此当微分筒旋转一周时，测微螺杆轴向位移0.5mm，微分筒旋转一个分度时，测微螺杆移动0.01mm，故常用千分尺的读数值为0.01mm。,4.1长度位移测量,表类量具,原理 将测量杆微小直线位移通过适当

7、的放大机构放大后而转变为指针的角位移，最后由指针在刻度盘上指示出相应的示值。,4.1长度位移测量,钟表式百分表 分度值为0.01mm,4.1长度位移测量,杠杆齿轮式测微仪,仪器的外形 与 仪器结构原理图,4.1长度位移测量,测杆微小的直线位移经杠杆齿轮机构放大后变为指针的大位移。此种仪器一般用于比较测量，因此刻度尺的示值范围多取为0.1mm其放大比K为:,4.1长度位移测量,光学比较仪（光学计）,是一种精度较高的光学机械式计量仪器。光学比较仪用作相对法测量，先用量块或标准件对准零位，被测尺寸和量块（或标准件）尺寸的差值可在仪器的刻度尺上读得。 光学比较仪由光较仪管和支架座组成。光较仪管可以从仪

8、器上取下，装在其它支架座上，做其它精密测量之用。,4.1长度位移测量,被测件最大长度: 180mm,光较仪管是自准直光管和正切杠杆机构的组合。 在物镜焦平面上的焦点C发出的一束光，经物镜后变成一束平行光射到平面反射镜。 若平面反射镜与光轴垂直，则经过平面反射境反射的光仍按原路汇聚到发光点C处，即发光点C与象点C重合。若反射镜与光轴不垂直而偏转一个a角，根据反射定律则反射光束与入射光束间的夹角为2 a 。此时反射光束汇聚于象点 C，C与 C”之间的距离应按下式计算：,测量时，应先用标准器具调整零位，即平面反射镜的镜面与光较仪中的光轴相垂直。由于采用比较测量法，因此当被测尺寸和标准尺寸有差异时，测

9、杆就将沿着导轨做直线移动，从而推动平面反射镜P绕支点O摆动。测杆移动的距离为s时，反射镜偏转了a角，其关系为 式中，b为测杆到支点O的距离。,4.1长度位移测量,这样，测杆的微小移动S就可以通过正切杠杆机构和光学装置放大，变成光点和象点间的距离CC”，其放大比为 光学计的目镜放大倍数为K2，因此光学计的总放大倍数为KK2倍。 （0.20.25）um,4.1长度位移测量,4.1长度位移测量,测长仪和测长机 结构中带有长度标尺，通常是线纹尺或光栅尺。用此尺作为标准尺与被测长度做比较，通过显微镜读数以得到测量结果。 量程较短的称为测长仪。根据测量座在仪器中的布置分立式测长仪和卧式万能测长仪（简称万能

10、测长仪）两种。立式测长仪用于测量外尺寸；卧式测长仪除能测量外尺寸外，主要用于测量内尺寸。 量程在500mm以上称为测长机。常用于绝对测量。,4.1长度位移测量,立式测长仪,工作台1上放置被测件2，通过测量轴体4上的可换测量头3与被测件接触测量。测量轴体4是一个高精度圆柱体，在精密滚动轴承支持下，通过钢带8，滑轮9，平衡锤12和阻尼油缸13完成平稳的轴向升降运动。配重7用来调整测量力。 测量轴体的轴线上固定有基准标尺(玻璃刻尺)5，其上有l01条刻线，刻度间隔为1mm。由光源11发出的光，经透镜10，再透过基准玻璃刻尺，将毫米刻线影象投射入螺旋读数显微镜6，进行读数。,目镜8中，可看到三种刻线重

11、合： 一种是玻璃刻线尺5上的刻度（图中的 7、8），其间距为 lmm； 一种是目镜视野中间隔为 0.lmm的刻度（图 中的 0至10） 一种是有10圈多一点的阿基米德螺旋线刻度（图中上部的35、40、45），螺旋线的螺距为 0.1 mm，螺旋线里面的圆周上刻有100格圆周刻度，因此每格圆周刻度代表0.001mm。,图的读数为 7.141 mm。 不确定度：（1.5+ L/100）um,4.1长度位移测量,卧式测长仪 卧式测长仪又称为万能测长仪。 万能测长仪是把测量座作卧式布置，测量轴线成水平方向的测长仪器。万能测长仪除了对外尺寸进行直接和比较测量之外，还可配合仪器的内测附件测量内尺寸。,4.1

12、长度位移测量,卧式测长仪（万能测长仪）,卧式测长仪的毫米刻线尺和测量轴水平卧放在仪器的底座上，并可在底座的导轨上作左右方向的移动；它主要由底座7、测座1、万能工作台5和尾座6组成。,测长机是机械制造中测量大尺寸的精密仪器，按其测量范围来分，有1，2，3，4，6m，甚至还有12m的。主要进行绝对测量，但也可用于比较测量。绝对测量是将被测工件与仪器本身上的刻度尺进行比较；而相对测量则是将被测工件和一个预先用来对准仪器零点的标准件(如块规等)相比较，从仪器上读取两者之差值。,测长机,4.1长度位移测量,图中6是机身，在它的床面上镶有刻线尺7和分划板14。刻线尺7上从0到100mm内共有刻线1000条

13、。故每格为0.1mm；分划板14共有10块，每块相距100mm，在每一块上面刻着两条刻线和0，1，2，9之间的一个数字，分别代表每一块分划板距刻线尺7零刻线的距离的分米数值。,光线自光源15，经聚光镜，滤光片、反射镜后照亮了分划板14。由于分划板位于物镜组11的焦平面上，故光线通过分划板14后，经直角棱镜12和物镜组11后便形成平行光束，经过同样焦距的物镜组9和棱镜8后，使分划板14成象于刻线尺7上(因刻线尺7亦放置在物镜组9的焦平面上)。通过读数显微镜3进行读数。小于0.1mm的读数由光学计管2完成。,4.1长度位移测量,4.1长度位移测量,显微镜是将被测件的尺寸、轮廓或用光干涉法产生的干涉

14、条纹等，经显微放大，以便观察测量。 被测件AB位于物镜的物方焦点F1之外，但不超过距物镜两倍焦距的距离，被测件被物镜放大成一倒立的实象AB ，此实象位于目镜的物方焦面右方的分划板上，经目镜再次放大在明视距离J250mm处成一可从目镜视场中看到的虚象AB ,显微镜光学系统,工具显微镜,4.1长度位移测量,4.1长度位移测量,4.1长度位移测量,非接触瞄准 照明光源射出的光经滤色片2、可变光阑3、反射镜4和聚光镜5后变为平行光照明被测工件。经物镜放大后的工件轮廓成象在分划板11上，再经目镜放大后观察。根据所要求的放大倍数，可更换物镜。在分划板前设置一正象棱镜，使视野内所观察的象为正象。目镜头可以更

15、换.,4.1长度位移测量,接触瞄准光学灵敏杠杆的工作原理示意图。由照明光源1照亮的分划板2上的三对双刻线，经透镜3后由与测杆相连的反射镜4反射，再经物镜5放大，最后成像在测角目镜分划板6上。反射镜4随测杆摆动时，三组双刻线的象随之左右移动。仅当测杆中心线与显微镜光轴重合时，双刻线的象位于米字分划板的中心位置。,在工具显微镜上用光学灵敏杠杆测量端面定位孔的直径时，可用两种方法确定采样点的位置。 找拐点法 测弦找中点法,4.1长度位移测量,立式接触式干涉仪是一种高精确度测微仪。,立式接触式干涉仪,4.1长度位移测量,测量方法用接触式干涉仪测量时使用白光，即移出滤色片，使视场中出现零级黑条纹。根据测

16、头先后与标准件及被测件接触时零级条纹位置间的距离，即可测得被测量相对于标准量的偏差值。例如检定量块：测头与标准量块接触时，零级条纹位于al（格），测头与被检量块接触时，零级条纹位于a=+4格，若仪器分辨力i=0.1um，则被测量块相对于标准量的中心长度偏差为i (a2-a1)=+0.5um,4.1长度位移测量,干涉测长是激光在几何量测量中最重要的应用。光波干涉法作为精密测量长度和位移的有力手段问世已久。其测量精度很高。但在激光问世以前，由于缺乏亮度高、单色性好的光源，干涉办法的应用有着许多局限性，激光的出现则为干涉测长提供了极好的相干光源。 (激光具有方向性好、能量高度集中、单色性好、干涉能力强的优点）。,激光干涉测长仪,4.1长度位移测量,激光干涉测长仪原理图,4.1长度位移测量,电动量仪 电动量仪是将被测尺寸即测杆的位移转变为电信号实现尺寸测量的一种仪器。此类仪器一般由测量装置（或传感装置）、电器装置和显示装置三部分组成。 电动量仪种类：电感式、电容式和光电式等。 电动量仪特点：灵敏度和精确度很高，测量装置和显示装