《实验6.3中规模集成逻辑器件的应用》由会员分享，可在线阅读，更多相关《实验6.3中规模集成逻辑器件的应用（21页珍藏版）》请在金锄头文库上搜索。
1、实验6.3 中规模集成逻辑器件的应用,数字电子技术实验,当堂交报告，请事先做好思考题。,一、实验目的,掌握使用中规模集成芯片译码器和数据选择器设计组合逻辑电路的方法。,1. 要求: 用芯片74LS138译码器及74LS20“与非”门各一片设计一个1位二进制全减器(表6-3-1)。 用两片数据选择器74LS151与一片74LS00芯片设计一个31天为“1”的大月指示器(表6-3-2) 。,二、实验任务,四、实验原理,74LS138引脚图,74LS151引脚图,74LS138逻辑符号,74LS138 功能表,低电平有效,输出端低电平有效,根据74LS138功能表判断芯片好坏：,74LS151逻辑符
2、号,低电平有效,使能端低电平有效,根据74LS151功能表判断芯片好坏：,函数变量数 = 输入二进制代码位数,据题目输入和输出要求及相互关系，进行逻辑抽象,即说明逻辑变量；,译码器的设计步骤：,选择集成二进制译码器,列出真值表；,据题目输入和输出要求及相互关系，进行逻辑抽象,即说明逻辑变量；,写出输出为“1”最小项表达式;,数据选择器的设计步骤：,列出真值表；,若选择器的地址数输入变量数，将高位地址端和相应的数据输入端接地;,若选择器的地址数输入变量数，用降维卡诺图；,设计举例：设计三位二进制(C、B、A)中有奇数个“1”时，输出F就为“1”电路: 用74LS138译码器及74LS20“与非”
3、门芯片实现。 用74LS151数据选择器芯片实现。,列真值表,根据真值表写出最小项：(用74LS138实现),化简至给定芯片逻辑表达式(用74LS138、74LS20实现),74LS20,逻辑电路,F=m1D1+m2D2+m4D4+m7D7,化简至给定芯片逻辑表达式(用74LS151实现),逻辑电路,2.根据给定芯片的管脚图，电源均按+5V和地接入(注意不要接反)。按照设计好的逻辑电路图连接电路,输入接银色钮子开关，输出接发光二极管，控制输入开关，验证真值表，观察表示输出的发光二极管的亮灯情况。,1.用万用表 挡、电阻2K挡或将导线连接+5V电源与输出发光二极管等方法检查导线导通情况，当万用表
4、发出蜂鸣声、阻值示数约为0或发光二极管亮时，均表示导线导通。,3.在实验时，对于中规模集成电路的芯片的输入端接“1”时决不允许按悬空处理。,五、实验步骤,4.用万用表20V挡测量任务一和任务二的输入、输出电位(即输入、输出在逻辑“0”和“1”时对地电压，正常的电压值范围前面已介绍)。,表6-3-1 用138和20实现,表6-3-2 用151和00实现,5. 任务二高位D接高电平、B接低电平，C接低电平，低位A接1kHz脉冲，定量记录输入低位D与输出F的波形。示波器的电压衰减置2V/每格(可从真值表中得到理论上的D与F的波形加以核对)。,在验证真值表时，如输出状态出现错误，可利用它们的功能表对芯
5、片的好坏进行判断，测试结果符合功能表的，表明芯片是好的，否则说明该芯片故障。,六、实验报告要求,2.完成任务一的电位测试表格6-3-1。,1.按译码器和数据选择器的设计步骤来设计实验电路，并写出详细推导过程。,4. 定量记录输入低位D与输出F的波形。(高位A接高电平，B接低电平，C接低电平，低位D接1kHz脉冲),5.根据测试数据，得出结论。完成思考题。,3.完成任务二的电位测试表格6-3-2。,七、注意事项,注意通常电源均按+5V和地接入，每个芯片都需接入一对电源，为防止遗漏，可把它定为接线的第一步。注意电源不要接反，否则会烧坏芯片。,因为箱盖与主箱间没有电的连接，所以箱盖上的每个芯片电源需通过主箱电源(+5V和地)接入。,在实验时，对于中规模集成电路的芯片的输入端接“1”时决不允许按悬空处理。,不可在接通电源的情况下插入或拔出芯片。,注意一定要先查导线，再开始接线。,加入输入波形时，可利用实验箱内左下角的脉冲源得到输入波形。但要使该脉冲源工作，必须接入+5V电源。如果脉冲源坏了，可用信号发生器“TTL/CMOS”电平端口送出脉冲信号。注意仪器共地。,同时测量数字实验输入、输出波形时，示波器的触发系统的“信源选择”与输入CP通道保持一致。垂直系统的CH1、CH2的零电位基线分开。CH1、CH2的电压比例“SCALE”旋钮统一置2V/每格，“耦合”置“直流”。,
